季豐電子：可靠性壽命實驗理論及應用
2020年季豐電子集成電路運營工程技術研討會（GF Seminar 2020）已于2020年12月17日圓滿落幕，應廣大客戶要求，現將研討會PPT按系列呈現。
此篇為《可靠性壽命實驗理論及應用》：
2020年季豐電子集成電路運營工程技術研討會（GF Seminar 2020）精彩瞬間回顧，請戳這里：季豐電子Seminar 2020圓滿舉辦
原文標題：季豐電子Seminar 2020《可靠性壽命實驗理論及應用》
文章出處：【微信公眾號：上海季豐電子】歡迎添加關注！文章轉載請注明出處。
責任編輯：haq
聲明：本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人，不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用，如有內容侵權或者其他違規問題，請聯系本站處理。
舉報投訴
-
集成電路
+關注
關注
5452文章
12571瀏覽量
374517 -
IC
+關注
關注
36文章
6410瀏覽量
185603
原文標題：季豐電子Seminar 2020《可靠性壽命實驗理論及應用》
文章出處：【微信號：zzz9970814，微信公眾號：上海季豐電子】歡迎添加關注！文章轉載請注明出處。
發布評論請先 登錄
相關推薦
熱點推薦
什么是高可靠性？
滿足后續PCBA裝配的生產條件，并在特定的工作環境和操作條件下，在一定的時期內，可以保持正常運行功能的能力。
二、為什么PCB的高可靠性應當引起重視？
作為各種電子元器件的載體和電路信號傳輸的樞紐
發表于 01-29 14:49
季豐電子具備半導體測試載板仿真服務
在半導體測試載板研發精度要求嚴苛、迭代節奏加快的背景下，仿真技術成為提升設計可靠性的關鍵。上海季豐電子仿真部門，核心聚焦硬件研發部門需求——專攻CP載板、Loadboard、HTOL
季豐電子功率器件動態老化測試能力介紹
DGS & DRB是功率器件可靠性測試中的關鍵內容。DGS評估器件檢測碳化硅功率MOSFET 的柵極開關不穩定性，DRB評估器件芯片內部結構因高dv/dt 導致的快速充電老化現象。因此，季豐電
衢州季豐榮獲UL Solutions目擊實驗室資質認證
近日，衢州季豐檢測技術有限公司（以下簡稱“衢州季豐”）榮獲國際安全科學檢測和認證領域權威機構UL Solutions“UL目擊實驗室（Wit
新聲半導體榮獲季豐電子AEC-Q200認證證書
近日，新聲半導體SAW車規級產品在季豐電子可靠性實驗室的助力下，成功通過AEC-Q200認證測試，榮獲AEC-Q200證書。
歐思微榮獲季豐電子AEC-Q100認證證書
近日，安徽歐思微科技有限公司（以下簡稱“歐思微”）的車規產品U1011A在季豐電子可靠性實驗室的助力下，成功通過AEC-Q100認證測試，并
季豐電子新增K8000芯片測試平臺硬件開發設計能力
在半導體測試領域，高性能、高可靠性的測試設備是保障芯片品質與量產效率的核心關鍵。目前上海季豐電子已經具備上海御渡K8000芯片測試平臺的硬件開發設計能力。
HALT實驗與HASS實驗在可靠性測試中的區別
方法。主要應用于產品開發階段，它能以較短的時間促使產品的設計和工藝缺陷暴露出來，從而為我們做設計改進，提升產品可靠性提供依據。金鑒實驗室作為專注于可靠性領域的科研檢測機
瑞發科半導體榮獲季豐電子AEC-Q100認證證書
近日，天津瑞發科半導體技術有限公司（以下簡稱“瑞發科”）的車載SerDes產品NS6129S和NS6168在季豐電子可靠性實驗室的助力下，成
季豐電子自建引腳完整性測試能力
季豐可靠性測試項目拓展AEC-Q100車規芯片驗證C6：LI - Lead Integrity 引腳完整性Q100要求。
提供半導體工藝可靠性測試-WLR晶圓可靠性測試
潛在可靠性問題；與傳統封裝級測試結合，實現全周期可靠性評估與壽命預測。
關鍵測試領域與失效機理
WLR技術聚焦半導體器件的本征可靠性，覆蓋以下核心領域：
金屬化
發表于 05-07 20:34
工商網監
評論