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IT8700P多通道電子負載測試轉換器的解密

電子設計 ? 來源:電子設計 ? 作者:電子設計 ? 2020-12-24 17:25 ? 次閱讀
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ACDC和DC/DC轉換器廣泛應用在各行各業,比如手機數碼相機、UPS電源內部、電動汽車等等。對于生產廠商來說,轉換器的性能、安全、轉換效率都是決勝市場的重要因素。所以從研發到生產每一步都需要去測試, 直流負載就是這些測試中必不可少的工具,不但可測試產品的正常工作電壓、電流及功率外,還可以輕易的測試產品在臨介值狀態、動態變化及反應時間等等。但是工程師在使用負載測試產品的保護功能時,會發現有時候無法正常使用負載,這又是什么原因造成的呢?

今天我們就使用ITECH近期升級的一款高性能電子負載產品,IT8700P多路輸入可編程直流電子負載來進行測試一個DC/DC組件,實際測試解密一下。IT8700P為高性能可編程多路電子負載IT8700的升級版本,保持了原有的25KHZ的較高動態測試速度,并且具備多個可選模塊以及功能強大的主控機箱,并為了一進步滿足不同客戶的測試需求,可選配前置端子接線功能,并且對斜率速度,DAC 輸出速度,CV 環路速度進行了一系列優化升級,能更好的滿足測試需求。

解密測試

測試儀器

IT8732P(80V/60A/400W)+IT8702P(主控單元)

測試背景

DC/DC組件正常工作輸出電壓為5V/1A。在電流上升超過2.8A時,產品會進入OCP的保護模式,直到異常狀況排除后才會再回到正常工作模式。

測試問題1

1、Von設定為0.1V, latch設為off。

2、IT8732P設定為1A CC mode 拉載,待測物正常工作,輸出5V/1A。

3、拉載電流增加到3A,待測物應該進入OCP保護模式。但此時卻處于振蕩的狀態,電壓值由0V ~ 4.8V 振蕩。此時如果再將IT8732P的拉載電流降為1A,待測物則處于正常工作模式5V, 1A。

問題解密

造成振蕩原因是因為待測物在進入OCP后的電壓相互拉扯的結果。Von設定為0.1V, latch設為off。當待測物進入OCP后,電壓值低于0.1V時,負載也會泄載,拉載電流下降,待測物測到電流低于其設定值后即恢復正常,電壓回升后,負載又會進行拉載,此時又造成待測物進入OCP保護,如此循環就會造成振蕩現象。所以此時我們只要把Von設定為0.001V時,此現象就不再發生,當然這也是和待測物設計特性有相關。

測試問題2

1、Von設定為0.001V, latch設為off。

2、IT8732P設定為1A CC mode 拉載,待測物正常工作,輸出5V/1A。拉載電流增加到3A,待測物進入OCP保護模式。

3、拉載電流回到1A,待測物沒有恢復成工作模式5V/1A。必須要先把IT8732P泄載切到OFF后,再加載切為ON時,待測物才會再處于正常的工作模式。

問題解密

待測物在進入OCP后的電壓值約為0.017V,電流值約為0.81A。而IT8732P的最小工作電壓為0.15V at 6A,相當于0.025V at 1A。所以當拉載電流由3A回到1A時,由于待測物電壓值尚在0.017V低于0.025V,加上待測物本身設計OCP釋放的關系,導致Load回到1A時,待測物仍無法正常工作,必須滿足拉載電流低于0.8A及大于load最小工作電壓,待測物才能恢復正常工作。

測試問題3

1、Von設定為0.001V, latch設為off。

2、待測物正常工作5V/1A時,執行Short功能,電壓降至約0V。

3、當Short功能OFF時,負載設定值恢復,待測物電壓并未回到5V。必須把IT8732P泄載切到OFF后,再加載切為ON時,待測物才會再處于正常的工作模式。

問題解密

執行SHORT功能后,待測物約為0.017V/0.81A。在SHORT功能OFF時,應該是要恢復回5V/1A,但當SHORT功能恢復時,即回到設定值的1A拉載,其值仍高于0.81A,故待測物仍處于未釋放的狀態,所以 SHORT功能OFF時,其值仍為電壓0.017V,電流0.81A。當load泄載后,待測物才能恢復正常。

從以上的測試我們可以看到,不同的待測物由于其不同的設計特性,在進入保護后其電壓值與電流值的關系與負載的性能會有些許沖突,導致測試時發生異常。所以我們在測試時要了解待測物與測試儀器本身的規格、特性與限制,才能避免造成誤判,發揮測試儀器的最大效用。比如以上案例,我們只需在待測物進入OCP后,先將IT8732P的拉載電流降到0.8A以下,使得待測物釋放后再進行下一個測試程序,即可完成測試。

關于ITECH

艾德克斯電子一直致力于“功率電子”產品為核心的相關產業測試領域的研究,IT8700P系列多路輸入可編程直流電子負載繼承了艾德克斯產品一貫的高性能、高品質,采取模塊化結構設計,擁有全球獨創動態分配功率的技術,可應用于多路或單路輸出的AC/DC、DC/DC電源轉換器、充電器等電源類電子元器件性能的測試,也可應用于ATE測試系統、太陽能電池、LED、通訊測試、航空航天等領域。

審核編輯:符乾江
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