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高速BGA封裝與PCB差分互連結(jié)構(gòu)進(jìn)行設(shè)計(jì)與優(yōu)化

貿(mào)澤電子設(shè)計(jì)圈 ? 來(lái)源:貿(mào)澤電子設(shè)計(jì)圈 ? 作者:貿(mào)澤電子設(shè)計(jì)圈 ? 2020-09-28 11:29 ? 次閱讀
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本文針對(duì)高速BGA封裝與PCB差分互連結(jié)構(gòu)進(jìn)行設(shè)計(jì)與優(yōu)化,著重分析封裝與PCB互連區(qū)域差分布線方式、信號(hào)布局方式、信號(hào)孔/地孔比、布線層與過(guò)孔殘樁這四個(gè)方面對(duì)高速差分信號(hào)傳輸性能和串?dāng)_的具體影響。 利用全波電磁場(chǎng)仿真軟件CST建立3D仿真模型,通過(guò)時(shí)頻域仿真驗(yàn)證了所述的優(yōu)化方法能夠有效改善高速差分信號(hào)傳輸性能,減小信號(hào)間串?dāng)_,實(shí)現(xiàn)更好的信號(hào)隔離。

近年來(lái),球柵陣列(BGA)封裝因體積小、引腳多、信號(hào)完整性和散熱性能佳等優(yōu)點(diǎn)而成為高速IC廣泛采用的封裝類型。 為了適應(yīng)高速信號(hào)傳輸,芯片多采用差分信號(hào)傳輸方式。隨著芯片I/O引腳數(shù)量越來(lái)越多,BGA焊點(diǎn)間距越來(lái)越小,由焊點(diǎn)、過(guò)孔以及印制線構(gòu)成的差分互連結(jié)構(gòu)所產(chǎn)生的寄生效應(yīng)將導(dǎo)致衰減、串?dāng)_等一系列信號(hào)完整性問(wèn)題,這對(duì)高速互連設(shè)計(jì)提出了嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。 目前國(guó)內(nèi)外學(xué)者對(duì)于板級(jí)信號(hào)完整性問(wèn)題的研究仍多集中于水平傳輸線或者單個(gè)過(guò)孔的建模與仿真,頻率大多在20GHz以內(nèi)。對(duì)于包括過(guò)孔、傳輸線的差分互連結(jié)構(gòu)的傳輸性能以及耦合問(wèn)題研究較少。并沒(méi)有多少技術(shù)去減少封裝與PCB互連區(qū)域垂直過(guò)孔間的串?dāng)_。

一、物理模型

差分互連結(jié)構(gòu)

在高速信號(hào)傳輸中,差分信號(hào)因具有減小軌道塌陷和電磁干擾、提高增益、消除共模噪聲和開(kāi)關(guān)噪聲干擾等優(yōu)點(diǎn)而被廣泛使用。高速差分信號(hào)通過(guò)IC封裝到達(dá)PCB板各層進(jìn)行傳播,為了實(shí)現(xiàn)BGA封裝基板與PCB各層的電氣連接,由水平差分線和垂直差分過(guò)孔共同構(gòu)成了差分互連結(jié)構(gòu),如圖1所示。

圖1:BGA封裝與PCB板垂直互連結(jié)構(gòu)

仿真環(huán)境及參數(shù)設(shè)置

本文采用的仿真環(huán)境為全波電磁場(chǎng)仿真軟件CST微波工作室,集時(shí)頻域算法為一體,含多個(gè)全波及高頻算法,可仿真任意結(jié)構(gòu)、任意材料下的S參數(shù),并可以與電路設(shè)計(jì)軟件聯(lián)合仿真。

幾種優(yōu)化方案均由CST微波工作室建立三維物理模型。PCB的層疊結(jié)構(gòu)如圖2所示,PCB板共12層,第1,3,5,8,10,12層為信號(hào)層(走線層),第2,4,6,7,9,11層為電源或地層。板厚為97.6mil,板材介電常數(shù)3.8,損耗正切0.012。 0.8mm間距BGA扇出過(guò)孔間距為31.4mil,過(guò)孔孔徑8mil,線寬/線距5mil,差分走線在第10層。

圖2:PCB板層疊結(jié)構(gòu)剖面圖

二、優(yōu)化與設(shè)計(jì)

從四個(gè)方面進(jìn)行設(shè)計(jì)優(yōu)化,以改善高速差分信號(hào)的傳輸性能及信號(hào)間串?dāng)_。這幾個(gè)方面分別為差分布線方式、信號(hào)分布方式、信號(hào)孔/地孔比、布線層選擇與過(guò)孔殘樁。CST仿真的結(jié)果以S參數(shù)的形式體現(xiàn),仿真頻率達(dá)40GHz,在時(shí)域和頻域同時(shí)驗(yàn)證所述優(yōu)化方法的有效性。

布線方式

差分信號(hào)從過(guò)孔引出時(shí),不同的布線方式會(huì)對(duì)差分信號(hào)的傳輸特性有很大的影響。如果傳輸線不能等長(zhǎng)等距,就會(huì)引起信號(hào)失真,產(chǎn)生共模噪聲。

如圖3所示,信號(hào)從過(guò)孔引出時(shí)分別采取三種布線方式:0°、90°轉(zhuǎn)角、45°轉(zhuǎn)角;每對(duì)差分過(guò)孔周圍有兩個(gè)隔離地孔。布線在PCB板第10層。

圖3:三種差分線引出方式

圖4是以上三種不同布線方式的插入損耗。顯然,第一種水平對(duì)稱的方式傳輸性能最好。差分信號(hào)重要的就是要等長(zhǎng)等距,等長(zhǎng)的目的是要確保時(shí)序的準(zhǔn)確與對(duì)稱性,兩條傳輸線上的任何時(shí)延差或錯(cuò)位,都會(huì)導(dǎo)致差分信號(hào)失真,并使部分差分信號(hào)變成共模信號(hào),產(chǎn)生電磁干擾。 等距的目的是保持差分阻抗的一致性。45°和90°轉(zhuǎn)角在布線時(shí)都無(wú)法做到等長(zhǎng)等距,因而會(huì)產(chǎn)生相位差和共模噪聲。

圖4:不同布線方式下差分對(duì)的插入損耗

圖5和圖6分別從頻域和時(shí)域展示了三種布線方式所產(chǎn)生的共模噪聲。不論是45°轉(zhuǎn)角還是90°轉(zhuǎn)角,產(chǎn)生的共模噪聲都比0°高得多,而45°轉(zhuǎn)角布線要略優(yōu)于90°轉(zhuǎn)角。

圖5:不同布線方式下共模噪聲頻域比較

圖6:不同布線方式下共模噪聲時(shí)域比較 根據(jù)經(jīng)驗(yàn)法則,為了把錯(cuò)位維持在信號(hào)上升邊10%以內(nèi),要求兩線長(zhǎng)度匹配至上升邊空間延伸的10%以內(nèi)。這種情況下,對(duì)走線總長(zhǎng)度的匹配要求如下:ΔL=0.1×RT×v公式中:ΔL表示為了把錯(cuò)位維持在上升邊的10%以內(nèi),兩條走線之間的長(zhǎng)度偏差;RT表示信號(hào)的上升邊;v表示差分信號(hào)的傳播速度。如果信號(hào)的傳播速度大致為6in/ns,上升邊為100ps,那么兩條走線的長(zhǎng)度應(yīng)匹配至其偏差小于60mil。 由于高速信號(hào)上升時(shí)間越來(lái)越短,留給緣于走線長(zhǎng)度偏差的錯(cuò)位預(yù)算在不斷變小,使得走線長(zhǎng)度之間的匹配顯得愈加重要。

因此在實(shí)際應(yīng)用中,應(yīng)盡量采用0°這樣水平對(duì)稱的方式布線,來(lái)達(dá)到等長(zhǎng)等距的目的。

信號(hào)分布方式

BGA封裝管腳在扇出時(shí)通過(guò)過(guò)孔連接至PCB板其他各層。幾十對(duì)差分對(duì)同時(shí)高密度、長(zhǎng)線并行,相鄰的傳輸線之間存在電場(chǎng)和磁場(chǎng)的作用(耦合電容/耦合電感),因而一對(duì)差分線傳輸?shù)男盘?hào)會(huì)對(duì)相鄰的傳輸線產(chǎn)生串?dāng)_。

由于BGA焊點(diǎn)的排列是固定的,因此焊盤和過(guò)孔的位置取決于焊點(diǎn)的分布。合理的BGA管腳信號(hào)布局可以改善差分對(duì)之間的串?dāng)_。圖7所示為兩種不同信號(hào)分布方式。

圖7:不同信號(hào)分布方式圖7所示的兩種布局方式分別為:3對(duì)信號(hào)橫向水平布置;3對(duì)信號(hào)正交布置。 每對(duì)信號(hào)周圍各有兩個(gè)隔離地孔。3對(duì)線中,中間為受擾線,兩邊為干擾線。根據(jù)走線將3對(duì)差分對(duì)定義成6個(gè)差分端口,D1~D3為BGA扇出端,通過(guò)觀察D4,D6端口對(duì)D2端口的遠(yuǎn)端串?dāng)_來(lái)分析相鄰?fù)ǖ赖拇當(dāng)_情況。由于兩邊對(duì)稱,只需觀察D4端口對(duì)D2端口的串?dāng)_。差分對(duì)遠(yuǎn)端串?dāng)_比較如圖8所示。

圖8:不同信號(hào)分布方式下差分對(duì)遠(yuǎn)端串?dāng)_比較

由圖8所示的結(jié)果可以看到,信號(hào)正交布局時(shí),由于孔之間距離增大,孔耦合減小,從端口D4到端口D2的遠(yuǎn)端串?dāng)_低于水平布局時(shí)的遠(yuǎn)端串?dāng)_。 由表1可知,優(yōu)化后的遠(yuǎn)端串?dāng)_比原設(shè)計(jì)在大于5GHz頻帶內(nèi)有5~15dB的改善。圖9從時(shí)域也驗(yàn)證了正交布局的優(yōu)越性。優(yōu)化后的設(shè)計(jì)瞬態(tài)峰值噪聲比原設(shè)計(jì)降低了10mV,如表1所示。

圖9:不同信號(hào)分布方式下差分對(duì)遠(yuǎn)端串?dāng)_時(shí)域響應(yīng)比較

表1:遠(yuǎn)端串?dāng)_比較

信號(hào)孔/地孔數(shù)量比

由于在設(shè)計(jì)中BGA焊點(diǎn)的間距是固定的,一味增加信號(hào)之間的距離來(lái)降低串?dāng)_不太可能,對(duì)此簡(jiǎn)單的方法就是在重要信號(hào)孔周圍增加地孔隔離。

以下四種方案對(duì)信號(hào)孔/地孔(S/G)比分別為1∶1、1∶2、1∶3、1∶4,信號(hào)布局方式采取上文中正交布局方式,如圖10所示。

圖10:不同S/G比信號(hào)布局

四種方案遠(yuǎn)端串?dāng)_比較如圖11所示:S/G比為1∶2時(shí),差分信號(hào)的遠(yuǎn)端串?dāng)_要比1∶1時(shí)有很大改善。由表2可知,在5~30GHz頻段,S/G比1∶2比1∶1的對(duì)遠(yuǎn)端串?dāng)_降低了8~17dB。

在重要信號(hào)孔周圍增加地孔隔離,能夠縮短地回流路徑、降低信號(hào)過(guò)孔的電感不連續(xù)性,因此可以在一定程度上改善串?dāng)_,但是很快就會(huì)飽和,S/G比1∶4與1∶3時(shí)差別已然不大,遠(yuǎn)端串?dāng)_的改善很有限。

4種方案遠(yuǎn)端串?dāng)_的時(shí)域仿真結(jié)果如圖12所示,可以得到與頻域同樣的分析結(jié)果。從時(shí)域結(jié)果可得到4種方案的瞬態(tài)峰值噪聲:S/G比1∶1時(shí)高達(dá)22mV,1∶2時(shí)則很快降低到6mV,1∶3和1∶4時(shí)均在1.6mV左右,相差不到0.03mV,如表2所示。

圖11:四種方案遠(yuǎn)端串?dāng)_比較

圖12:四種方案遠(yuǎn)端串?dāng)_時(shí)域響應(yīng)比較

表2:遠(yuǎn)端串?dāng)_比較

由于BGA封裝引腳數(shù)量有限,并不能無(wú)上限地增加地孔數(shù)量。因而在串?dāng)_影響和引腳數(shù)量的權(quán)衡之下,20GHz以內(nèi)S/G比1∶2與1∶3區(qū)別不大,選擇1∶2即可;20GHz以上時(shí),S/G比1∶3要明顯優(yōu)于1∶2。

布線層選擇與過(guò)孔Stub的影響

在重要信號(hào)孔周圍增加地孔隔離是降低串?dāng)_的簡(jiǎn)單方法,但是很快就飽和了,而且這樣很難達(dá)到一個(gè)理想的屏蔽。 在封裝與PCB互連區(qū)域,高速差分對(duì)之間除了孔的耦合,線耦合也都是引起串?dāng)_的重要因素。此刻,除了考慮之前的三個(gè)方面影響,還應(yīng)分析和研究布線層以及過(guò)孔殘樁對(duì)串?dāng)_的影響。圖13的情況,三個(gè)差分對(duì)分別布在不同層,且具有不同的過(guò)孔Stub長(zhǎng)度、信號(hào)正交布局,每對(duì)差分過(guò)孔周圍設(shè)置6個(gè)隔離地孔。圖13(a)中,3個(gè)差分對(duì)都布在PCB第10層,靠近底層。圖13(b)中兩側(cè)的干擾線從第10層移到第3層,且將長(zhǎng)Stub背鉆59.1mil。 這樣,兩邊干擾信號(hào)與中間受擾信號(hào)之間孔耦合的垂直長(zhǎng)度便顯著減少。圖13(c)與圖13(b)恰好相反,中間的受擾線布在第3層并且背鉆,兩邊干擾線布在第10層。圖13(d)中間受擾線布在第10層,兩邊干擾線布在第3層且保留長(zhǎng)Stub。

圖13:差分對(duì)布線層選擇以及過(guò)孔殘樁對(duì)遠(yuǎn)端串?dāng)_的影響 遠(yuǎn)端串?dāng)_的頻域比較如圖14所示。與方案(a)相比,方案(b)減小了兩邊干擾信號(hào)過(guò)孔的垂直長(zhǎng)度,孔耦合減少,而且3對(duì)差分線不在同一層,線-線之間耦合也減小了,串?dāng)_會(huì)有很大改善。 由表3可知,在5~30GHz頻帶內(nèi),方案(b)比方案(a)遠(yuǎn)端串?dāng)_改善了4~12dB。方案(c)與(b)的區(qū)別在于(c)有多余的孔線耦合,(c)中受擾線放在第3層且背鉆,干擾線放在第10層,雖然孔耦合也可以減小,但是兩邊長(zhǎng)長(zhǎng)的干擾信號(hào)孔會(huì)對(duì)中間差分線產(chǎn)生線干擾。 而方案(b)中,由于干擾信號(hào)孔背鉆,受擾信號(hào)在經(jīng)過(guò)時(shí),并沒(méi)有長(zhǎng)Stub對(duì)差分線的干擾。由此,方案(b)的串?dāng)_是最小的。如果沒(méi)有背鉆,如方案(d),那么雖然三對(duì)信號(hào)差分線不在同一層,但長(zhǎng)長(zhǎng)的Stub不僅會(huì)影響阻抗的連續(xù)性,使自身差分信號(hào)產(chǎn)生諧振,還會(huì)增大相鄰差分信號(hào)之間的串?dāng)_,甚至還不如方案(a)將信號(hào)都布置在靠近底層。

圖14:四種方案遠(yuǎn)端串?dāng)_比較 從時(shí)域仿真結(jié)果中可以得到與頻域同樣的分析結(jié)果,如圖15所示。由表3可知四種方案的瞬態(tài)峰值噪聲,其中方案(b)最小,方案(d)最大。因此,在今后的設(shè)計(jì)中,為避免過(guò)孔長(zhǎng)Stub對(duì)信號(hào)的干擾,差分線應(yīng)盡量靠近PCB板底層布線,多走內(nèi)部帶狀線。 多對(duì)并行的差分信號(hào)可分別布置在不同信號(hào)層以降低串?dāng)_,但要注意布在淺層的信號(hào)過(guò)孔一定要背鉆。

圖15:四種方案遠(yuǎn)端串?dāng)_時(shí)域響應(yīng)比較

表3:遠(yuǎn)端串?dāng)_比較

三、實(shí)驗(yàn)結(jié)果比較與分析

通過(guò)對(duì)以上仿真結(jié)果進(jìn)行比較與分析,可以得到如下設(shè)計(jì)和優(yōu)化建議:

差分信號(hào)從過(guò)孔引出時(shí),為滿足等長(zhǎng)等距的要求,應(yīng)盡量采用水平對(duì)稱的布線方式,以實(shí)現(xiàn)高傳輸性能和低共模噪聲。如果布線時(shí)無(wú)法做到的水平對(duì)稱,那么45°轉(zhuǎn)角布線要優(yōu)于90°轉(zhuǎn)角布線。

BGA封裝信號(hào)引腳布局采用正交方式,可充分降低差分對(duì)之間串?dāng)_的影響。與水平布局相比,正交布局在5~30GHz頻帶內(nèi)的串?dāng)_有5~15dB的改善。

在重要信號(hào)孔周圍增加地孔隔離,可以在一定程度上改善串?dāng)_,但是很快就會(huì)飽和。由仿真結(jié)果可知:20GHz以內(nèi)給每一對(duì)信號(hào)孔周圍布置4個(gè)地孔,就可以很好的降低差分信號(hào)間的串?dāng)_,滿足信號(hào)完整性要求。20GHz以上時(shí),可在某些高速信號(hào)周圍布置6個(gè)隔離地孔,以改善信號(hào)之間的串?dāng)_。

在選擇布線層時(shí),為避免過(guò)孔長(zhǎng)Stub對(duì)信號(hào)的干擾,差分線應(yīng)盡量靠近PCB板底層布線,走內(nèi)部帶狀線。如果很多對(duì)差分對(duì)并行傳輸,幾對(duì)差分信號(hào)可分別布置在不同信號(hào)層以降低串?dāng)_,但要注意布在淺層的差分信號(hào)過(guò)孔一定要背鉆。

四、結(jié)論

本文通過(guò)對(duì)高速BGA封裝與PCB差分互連結(jié)構(gòu)的優(yōu)化設(shè)計(jì),利用CST全波電磁場(chǎng)仿真軟件進(jìn)行3D建模,分別研究了差分布線方式、信號(hào)布局方式、信號(hào)孔/地孔比、布線層與過(guò)孔殘樁這四個(gè)方面對(duì)高速差分信號(hào)傳輸性能和串?dāng)_的具體影響。

時(shí)頻域仿真結(jié)果表明,所述優(yōu)化方法能夠有效改善高速差分信號(hào)傳輸性能,減小差分信號(hào)間串?dāng)_,實(shí)現(xiàn)更好的信號(hào)隔離。 本文為保證高速信號(hào)傳輸系統(tǒng)的信號(hào)完整性提供了重要依據(jù),對(duì)于高速PCB設(shè)計(jì)具有一定的指導(dǎo)意義。 本文轉(zhuǎn)載自:EDA365電子論壇

原文標(biāo)題:深度分析:BGA封裝與PCB差分互連結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)與優(yōu)化

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    中等規(guī)模 BGA 封裝,依托彈性體互連技術(shù)實(shí)現(xiàn)94GHz+超高頻低損耗傳輸,具備高精度定位、極端環(huán)境耐久性及快速定制能力,可顯著縮短研發(fā)驗(yàn)證到量產(chǎn)周期,是5G、航空航天等領(lǐng)域理想的測(cè)試解決方案。關(guān)鍵規(guī)格
    發(fā)表于 12-18 10:00

    極細(xì)同軸線束在高速傳輸中的阻抗與特性解析

    極細(xì)同軸線束的阻抗與特性是高速信號(hào)傳輸能否穩(wěn)定的基石。只有在結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、材料選型和工藝控制中綜合考慮,才能在有限空間內(nèi)實(shí)現(xiàn)高速、低損耗、低
    的頭像 發(fā)表于 09-19 15:05 ?1570次閱讀
    極細(xì)同軸線束在<b class='flag-5'>高速</b>傳輸中的阻抗與<b class='flag-5'>差</b><b class='flag-5'>分</b>特性解析

    探頭能測(cè)那些信號(hào)呢?

    分信號(hào)是由兩個(gè)幅度相等、相位相反的信號(hào)組成,其信息通過(guò)兩者的差值傳遞。探頭的設(shè)計(jì)初衷就是優(yōu)化這類信號(hào)的測(cè)量,典型應(yīng)用包括: 高速數(shù)
    的頭像 發(fā)表于 08-05 13:02 ?892次閱讀

    GT-BGA-2000高速BGA測(cè)試插座

    、全面功能測(cè)試以及長(zhǎng)時(shí)間老舊化實(shí)驗(yàn)等核心應(yīng)用領(lǐng)域。主要特征- 封裝/尺寸:直接焊接到目標(biāo) PCB(需預(yù)開(kāi)連接孔),無(wú)鉛無(wú)焊料安裝使用,適用 BGA 封裝。- 高頻性能:選用GT Ela
    發(fā)表于 08-01 09:10

    基于硅基異構(gòu)集成的BGA互連可靠性研究

    Grid Array, BGA)焊點(diǎn)的高度、球徑和節(jié)距較大,對(duì)組件層級(jí)互連結(jié)構(gòu)的可靠性風(fēng)險(xiǎn)認(rèn)識(shí)不足,同時(shí)難以實(shí)現(xiàn)高密度BGA 失效預(yù)測(cè)。
    的頭像 發(fā)表于 07-18 11:56 ?2463次閱讀
    基于硅基異構(gòu)集成的<b class='flag-5'>BGA</b><b class='flag-5'>互連</b>可靠性研究

    晶振在高速 FPGA 上的應(yīng)用

    晶振在高速 FPGA 設(shè)計(jì)中具有非常重要的應(yīng)用,尤其是在對(duì)時(shí)鐘精度、抗干擾能力、信號(hào)完整性要求高的系統(tǒng)中
    的頭像 發(fā)表于 07-11 14:24 ?884次閱讀
    <b class='flag-5'>差</b><b class='flag-5'>分</b>晶振在<b class='flag-5'>高速</b> FPGA 上的應(yīng)用

    如何優(yōu)化層疊結(jié)構(gòu)以提高PCB線路板整體性能簡(jiǎn)述

    ? ?優(yōu)化高多層PCB線路板的層疊結(jié)構(gòu)是提升其整體性能的關(guān)鍵步驟,以下從信號(hào)完整性、電源完整性、電磁兼容性、散熱性能四大核心目標(biāo)出發(fā),結(jié)合具體優(yōu)化策略和案例
    的頭像 發(fā)表于 07-10 14:56 ?516次閱讀

    BGA失效分析原因-PCB機(jī)械應(yīng)力是罪魁禍?zhǔn)?/a>

    一、關(guān)于BGA簡(jiǎn)介 首先,我們需要明白什么是BGABGA是一種表面貼裝封裝技術(shù),它的主要特點(diǎn)是在芯片底部形成一個(gè)球形矩陣。通過(guò)這個(gè)矩陣,芯片可以與電路板
    的頭像 發(fā)表于 06-14 11:27 ?1210次閱讀
    <b class='flag-5'>BGA</b>失效分析原因-<b class='flag-5'>PCB</b>機(jī)械應(yīng)力是罪魁禍?zhǔn)? />    </a>
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    BGA焊盤設(shè)計(jì)與布線

    理性能。···???////BGA焊盤設(shè)計(jì)////???···BGA焊盤設(shè)計(jì)是確保焊接可靠性的基礎(chǔ)。焊盤的尺寸、形狀和布局需要根據(jù)BGA封裝的規(guī)格進(jìn)
    的頭像 發(fā)表于 03-13 18:31 ?2016次閱讀
    <b class='flag-5'>BGA</b>焊盤設(shè)計(jì)與布線

    Cu/low-k互連結(jié)構(gòu)中的電遷移問(wèn)題

    本文介紹了影響集成電路可靠性的Cu/low-k互連結(jié)構(gòu)中的電遷移問(wèn)題。
    的頭像 發(fā)表于 03-13 14:50 ?2441次閱讀
    Cu/low-k<b class='flag-5'>互連結(jié)構(gòu)</b>中的電遷移問(wèn)題

    高密度互連BGA封裝中的PCB設(shè)計(jì)要點(diǎn)

    的半導(dǎo)體晶圓加工成獨(dú)立元件的關(guān)鍵工藝。它既要保護(hù)脆弱的芯片,又要實(shí)現(xiàn)與PCB的可靠連接。從傳統(tǒng)的DIP封裝到現(xiàn)代的BGA、CSP封裝,每一次技術(shù)革新都推動(dòng)著電子產(chǎn)品向更小、更快、更強(qiáng)的
    的頭像 發(fā)表于 03-10 15:06 ?778次閱讀