探索 onsemi 60V、55A N 溝道 MOSFET:FDP55N06 與 FDPF55N06 深度剖析
在電源轉(zhuǎn)換和功率管理的世界里,MOSFET 是關(guān)鍵的組成部分。今天我們要深入了解 onsemi 的兩款 N 溝道 MOSFET——FDP55N06 和 FDPF55N06,它們以卓越的性能和特性,為眾多開關(guān)電源轉(zhuǎn)換器應(yīng)用提供了強(qiáng)大支持。
文件下載:FDPF55N06-D.pdf
1. UniFET MOSFET 家族概述
UniFET MOSFET 是 onsemi 基于平面條紋和 DMOS 技術(shù)打造的高壓 MOSFET 系列。這個(gè)系列的設(shè)計(jì)目標(biāo)是降低導(dǎo)通電阻,提升開關(guān)性能,并增強(qiáng)雪崩能量強(qiáng)度。這使得該系列 MOSFET 非常適合用于功率因數(shù)校正(PFC)、平板顯示器(FPD)電視電源、ATX 電源以及電子燈鎮(zhèn)流器等開關(guān)電源轉(zhuǎn)換器應(yīng)用。
2. FDP55N06 和 FDPF55N06 特性亮點(diǎn)
2.1 低導(dǎo)通電阻
在 VGS = 10 V、ID = 27.5 A 的典型條件下,RDS(on) 僅為 22 mΩ。低導(dǎo)通電阻意味著在導(dǎo)通狀態(tài)下,MOSFET 的功率損耗更小,能夠提高電源轉(zhuǎn)換效率,減少發(fā)熱,延長(zhǎng)設(shè)備的使用壽命。
2.2 低柵極電荷
典型柵極電荷僅為 30 nC。低柵極電荷可以降低驅(qū)動(dòng)電路的功耗,加快開關(guān)速度,減少開關(guān)損耗,提高整個(gè)系統(tǒng)的性能。
2.3 低 Crss
典型 Crss 為 60 pF。低 Crss 有助于減少米勒效應(yīng),提高開關(guān)速度和穩(wěn)定性,降低電磁干擾(EMI)。
2.4 100% 雪崩測(cè)試
經(jīng)過(guò) 100% 雪崩測(cè)試,這表明該器件具有較高的雪崩能量強(qiáng)度,能夠在惡劣的工作條件下可靠運(yùn)行,提高系統(tǒng)的可靠性。
3. 產(chǎn)品規(guī)格參數(shù)
3.1 絕對(duì)最大額定值
| Symbol | Parameter | FDP55N06 | FDPF55N06 | Unit |
|---|---|---|---|---|
| VDSS | 漏源電壓 | 60 | 60 | V |
| ID | 漏極電流 - 連續(xù)(TC = 25 °C) | 55 | 55* | A |
| 漏極電流 - 連續(xù)(TC = 100 °C) | 34.8 | 34.8* | A | |
| IDM | 漏極脈沖電流 | 220 | 220* | A |
| VGSS | 柵源電壓 | ± 25 | ± 25 | V |
| EAS | 單脈沖雪崩能量 | 480 | 480 | mJ |
| IAR | 雪崩電流 | 55 | 55 | A |
| EAR | 重復(fù)雪崩能量 | 11.4 | 11.4 | mJ |
| dv/dt | 峰值二極管恢復(fù) dv/dt | 4.5 | 4.5 | V/ns |
| PD | 功率耗散(TC = 25 °C) | 114 | 48 | W |
| 25 °C 以上降額 | 0.9 | 0.4 | W/°C | |
| TJ, TSTG | 工作和存儲(chǔ)溫度范圍 | -55 至 +150 | -55 至 +150 | °C |
| TL | 焊接時(shí)最大引腳溫度(距外殼 1/8 ″,5 秒) | 300 | 300 | °C |
需要注意的是,超過(guò)最大額定值可能會(huì)損壞器件,影響其功能和可靠性。
3.2 熱特性
| Symbol | Parameter | FDP55N06 | FDPF55N06 | Unit |
|---|---|---|---|---|
| RθJC | 結(jié)到外殼的熱阻(最大) | 1.1 | 2.58 | °C/W |
| RθJS | 結(jié)到散熱片的熱阻(典型) | 0.5 | - | °C/W |
| RθJA | 結(jié)到環(huán)境的熱阻(最大) | 62.5 | 62.5 | °C/W |
熱特性對(duì)于 MOSFET 的性能和可靠性至關(guān)重要。較低的熱阻可以更好地將熱量散發(fā)出去,保證器件在正常溫度范圍內(nèi)工作。
3.3 電氣特性
在不同的測(cè)試條件下,F(xiàn)DP55N06 和 FDPF55N06 展現(xiàn)出了穩(wěn)定的電氣性能。例如,在 VGS = 10 V 時(shí),RDS(on) 典型值為 22 mΩ;正向跨導(dǎo)典型值為 33。動(dòng)態(tài)特性方面,輸入電容 Ciss 在 VDS = 25 V、VGS = 0 V 時(shí),典型值為 1160 pF;輸出電容 Coss 在 f = 1 MHz 時(shí),典型值為 375 pF;反向傳輸電容 Crss 典型值為 60 pF。
4. 典型特性曲線
4.1 導(dǎo)通區(qū)域特性
從導(dǎo)通區(qū)域特性曲線可以看出,MOSFET 的漏極電流 ID 與漏源電壓 VDS 之間的關(guān)系。不同柵源電壓 VGS 下,ID 隨 VDS 的變化呈現(xiàn)出不同的特性。這有助于我們了解 MOSFET 在不同工作條件下的導(dǎo)通性能。
4.2 轉(zhuǎn)移特性
轉(zhuǎn)移特性曲線展示了漏極電流 ID 與柵源電壓 VGS 之間的關(guān)系。在不同溫度下,曲線會(huì)有所變化。通過(guò)分析轉(zhuǎn)移特性,我們可以確定 MOSFET 的閾值電壓和跨導(dǎo)等參數(shù)。
4.3 導(dǎo)通電阻變化特性
導(dǎo)通電阻 RDS(on) 隨漏極電流 ID 和柵源電壓 VGS 的變化曲線,以及隨溫度的變化曲線,能夠幫助我們了解導(dǎo)通電阻在不同工作條件下的變化情況。這對(duì)于優(yōu)化電路設(shè)計(jì),提高系統(tǒng)效率非常重要。
4.4 電容特性
電容特性曲線展示了輸入電容 Ciss、輸出電容 Coss 和反向傳輸電容 Crss 隨漏源電壓 VDS 的變化情況。了解電容特性對(duì)于設(shè)計(jì)開關(guān)電路,減少開關(guān)損耗和電磁干擾具有重要意義。
4.5 柵極電荷特性
柵極電荷特性曲線展示了總柵極電荷 Qg 與柵源電壓 VGS 之間的關(guān)系。這對(duì)于設(shè)計(jì)柵極驅(qū)動(dòng)電路,控制開關(guān)速度和功耗非常關(guān)鍵。
5. 封裝與訂購(gòu)信息
5.1 封裝形式
FDP55N06 采用 TO - 220 封裝,F(xiàn)DPF55N06 采用 TO - 220F 封裝。不同的封裝形式適用于不同的應(yīng)用場(chǎng)景,TO - 220 封裝具有較好的散熱性能,適合功率較大的應(yīng)用;TO - 220F 封裝則在尺寸和安裝方面具有一定的優(yōu)勢(shì)。
5.2 訂購(gòu)信息
兩款器件均以 1000 個(gè)單位/管的形式發(fā)貨,方便批量采購(gòu)和使用。
6. 總結(jié)與思考
FDP55N06 和 FDPF55N06 作為 onsemi UniFET MOSFET 家族的成員,憑借其低導(dǎo)通電阻、低柵極電荷、低 Crss 和高雪崩能量強(qiáng)度等特性,在開關(guān)電源轉(zhuǎn)換器應(yīng)用中具有顯著的優(yōu)勢(shì)。電子工程師在設(shè)計(jì)電路時(shí),可以根據(jù)具體的應(yīng)用需求,合理選擇這兩款 MOSFET,并結(jié)合其特性曲線和規(guī)格參數(shù),優(yōu)化電路設(shè)計(jì),提高系統(tǒng)的性能和可靠性。
你在實(shí)際應(yīng)用中是否使用過(guò)類似的 MOSFET 器件?在設(shè)計(jì)過(guò)程中遇到過(guò)哪些問(wèn)題?歡迎在評(píng)論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)和見解。
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