在高功率電子器件持續向高集成、高功率密度發展的背景下,散熱問題已成為制約系統性能與可靠性的關鍵因素。圍繞芯片與功率器件的熱管理需求,各類高導熱材料正在被廣泛應用于實際工程中,包括紫銅、氮化鋁、導熱界面材料以及石墨類均溫擴散材料等。這些材料在不同結構層級中承擔著熱傳導、熱擴散與界面導熱等關鍵作用,共同構建完整的熱管理路徑。
隨著器件功率密度進一步提升,傳統金屬與陶瓷材料在輕量化與熱擴散效率方面逐漸接近性能瓶頸。以石墨、石墨烯、金剛石/銅基復合材料為代表的高導熱材料,憑借其優異的導熱能力,開始在5G通信、功率電子、消費電子及新能源系統中得到廣泛應用,成為提升熱擴散效率的重要技術路徑。
圍繞這類高導熱材料的工程應用,一個核心問題逐漸凸顯—如何準確、穩定地獲得其真實導熱性能參數,并將其有效引入熱管理設計與仿真模型。
炎懷科技TPS-YH100快速導熱測量儀搭載0.05 mm柔性傳感器以降低接觸熱阻影響,并攻克微納伏級電橋平衡技術抑制電路噪聲與系統誤差,配合內置 7 位半高精度Keithley數字萬用表可進行高速高精度數據采集,最快測試時間可達 0.2 s,導熱測量能力覆蓋至 2000 W/(m·K),實現關鍵測試能力的國產替代,為半導體與功率電子等關鍵領域提供自主可控的測試支撐。
近期,我們面向客戶開展了一組超高導熱石墨烯膜的導熱測試服務。如圖1(a)所示,該石墨烯薄膜的厚度為0.21 mm。隨后,將兩片同尺寸的樣品裝夾與傳感器之間,并用標配的工裝加緊,如圖1(b)所示。

圖1 石墨烯樣品與裝夾
樣品裝夾完成后,啟動測試軟件。炎懷科技TPS-YH系列導熱測試儀圍繞實際測試流程對操作界面進行了優化。對于薄板類樣品,平板模塊適用于厚度約0.07~10 mm范圍內材料的面向導熱測量。結合石墨烯膜的樣品形態,本次測試選擇平板模塊,并采用雙面法測量模式,如圖 2(a)所示。完成測量模塊與模式設定后,按照界面提示配置測試參數,或直接調用歷史保存的參數方案,如圖 2(b)所示。

圖2 測試軟件設置
測試完成后,數據結果如圖3所示。綜合多次擬合結果,取其穩定區間平均值,得到該石墨烯膜樣品的面內等效導熱系數為:1475 W/(m·K)。該結果表明該石墨烯膜樣品在片層取向度優化、界面熱阻控制及導熱網絡構建方面已達到較高水平,能夠在極短時間內將局部熱量快速擴散,有效降低熱點溫度并改善溫度分布均勻性,對于5G通信射頻器件、功率模塊以及高集成芯片的散熱設計具有重要意義。測試結果可直接作為熱仿真模型輸入參數,為散熱結構優化與材料選型提供可靠數據支撐。

圖3 石墨烯膜導熱結果
該測試結果進一步體現了炎懷科技TPS-YH導熱儀在高導熱材料測試中的優越性能。依托柔性傳感器與微納伏級電橋平衡技術的協同作用,系統能夠在短時間內獲取高信噪比的溫升響應信號,并在極短擬合區間內實現穩定計算,非常適用于石墨、石墨烯及金剛石增強相復合材料等超高導熱的精確測量。
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炎懷科技TPS導熱測量儀-芯片與功率器件熱管理的超高導熱石墨烯測試,瞬態平面熱源法導熱系數測試儀
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