Onsemi NVMFD5C668NL雙N溝道MOSFET:緊湊設(shè)計與高性能的完美結(jié)合
在電子設(shè)計領(lǐng)域,MOSFET作為關(guān)鍵的功率開關(guān)器件,其性能直接影響著整個系統(tǒng)的效率和穩(wěn)定性。今天,我們就來深入了解一下Onsemi公司推出的NVMFD5C668NL雙N溝道MOSFET,看看它有哪些獨特的特性和優(yōu)勢。
文件下載:NVMFD5C668NL-D.PDF
產(chǎn)品特性
緊湊設(shè)計
NVMFD5C668NL采用了5x6 mm的小尺寸封裝,這種緊湊的設(shè)計非常適合對空間要求較高的應(yīng)用場景,能夠幫助工程師在有限的空間內(nèi)實現(xiàn)更多的功能。
低導(dǎo)通損耗
該MOSFET具有低 (R_{DS(on)}),這意味著在導(dǎo)通狀態(tài)下,它的電阻較小,能夠有效減少導(dǎo)通損耗,提高系統(tǒng)的效率。
低驅(qū)動損耗
低 (Q_{G}) 和電容使得驅(qū)動該MOSFET所需的能量減少,從而降低了驅(qū)動損耗,進一步提高了系統(tǒng)的整體效率。
可焊側(cè)翼選項
NVMFD5C668NLWF提供了可焊側(cè)翼選項,這有助于增強光學(xué)檢測的效果,提高生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制。
汽車級認證
該產(chǎn)品通過了AEC - Q101認證,并且具備PPAP能力,適用于汽車電子等對可靠性要求較高的應(yīng)用領(lǐng)域。
環(huán)保合規(guī)
NVMFD5C668NL是無鉛產(chǎn)品,并且符合RoHS標(biāo)準(zhǔn),滿足環(huán)保要求。
最大額定值
| 參數(shù) | 符號 | 值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| 漏源電壓 | (V_{DSS}) | 60 | V |
| 柵源電壓 | (V_{GS}) | ±20 | V |
| 連續(xù)漏極電流((T_{C}=25^{circ}C)) | (I_{D}) | 68 | A |
| 連續(xù)漏極電流((T_{C}=100^{circ}C)) | (I_{D}) | 29 | A |
| 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) | (P_{D}) | 57.5 | W |
| 功率耗散((T_{C}=100^{circ}C)) | (P_{D}) | 29 | W |
| 脈沖漏極電流((T_{A}=25^{circ}C),(t = 10mu s)) | (I_{DM}) | 454 | A |
| 工作結(jié)溫和存儲溫度 | (T{J})、(T{stg}) | - 55 至 +175 | (^{circ}C) |
| 源極電流(體二極管) | (I_{S}) | 48 | A |
| 單脈沖漏源雪崩能量((T = 25^{circ}C),(I_{L(pk)} = 3.22 A)) | (E_{AS}) | 205 | mJ |
| 焊接用引腳溫度(距外殼1/8英寸,10 s) | (T_{L}) | 260 | (^{circ}C) |
需要注意的是,超過最大額定值可能會損壞器件,影響其功能和可靠性。
熱阻參數(shù)
| 參數(shù) | 符號 | 值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| 結(jié)到殼穩(wěn)態(tài)熱阻 | (R_{theta JC}) | 2.6 | (^{circ}C/W) |
| 結(jié)到環(huán)境穩(wěn)態(tài)熱阻 | (R_{theta JA}) | 50.26 | (^{circ}C/W) |
熱阻參數(shù)會受到整個應(yīng)用環(huán)境的影響,并非固定值,并且僅在特定條件下有效。
電氣特性
關(guān)斷特性
- 漏源擊穿電壓:(V{(BR)DSS}) 在 (V{GS} = 0 V),(I_{D} = 250mu A) 時為60 V,溫度系數(shù)為28 mV/°C。
- 零柵壓漏極電流:(I{DSS}) 在 (V{GS} = 0 V),(V{DS} = 60 V),(T{J} = 25^{circ}C) 時為100 nA,(T_{J} = 125^{circ}C) 時為250 nA。
- 柵源泄漏電流:(I{GSS}) 在 (V{DS} = 0 V),(V_{GS} = 20 V) 時為±1.2 μA。
導(dǎo)通特性
- 漏源導(dǎo)通電阻:典型值為6.5 mΩ。
- 正向跨導(dǎo):典型值為61 S。
電荷、電容和柵極電阻
- 輸入電容:(C{ISS}) 在 (V{GS} = 0 V),(f = 1 MHz),(V_{DS} = 25 V) 時為1440 pF。
- 輸出電容:(C_{OSS}) 為800 pF。
- 反向傳輸電容:(C_{RSS}) 為14 pF。
- 總柵極電荷:(Q{G(TOT)}) 在 (V{GS} = 4.5 V),(V{DS} = 48 V),(I{D} = 20 A) 時為9.8 nC;在 (V{GS} = 10 V),(V{DS} = 48 V),(I_{D} = 20 A) 時為21.3 nC。
- 閾值柵極電荷:(Q_{G(TH)}) 為2.5 nC。
- 柵源電荷:(Q{GS}) 在 (V{GS} = 10 V),(V{DS} = 48 V),(I{D} = 20 A) 時為4.3 nC。
- 柵漏電荷:(Q_{GD}) 為2.1 nC。
- 平臺電壓:(V_{GP}) 為2.9 V。
開關(guān)特性
- 導(dǎo)通延遲時間:在 (I{D}=20 A),(R{G}=1.0 Omega) 時為10 ns。
- 關(guān)斷延遲時間:為22 ns。
- 下降時間:為40 ns。
漏源二極管特性
- 正向二極管電壓:(V{SD}) 在 (V{GS} = 0 V),(I{S} = 20 A),(T{J} = 25^{circ}C) 時為0.85 - 1.2 V,(T_{J} = 125^{circ}C) 時為0.73 V。
- 反向恢復(fù)時間:(t_{RR}) 為42 ns。
- 充電時間:(t_{a}) 為20 ns。
- 放電時間:(t_{b}) 為22 ns。
- 反向恢復(fù)電荷:(Q_{RR}) 為32 nC。
典型特性曲線
文檔中提供了多個典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻與柵源電壓關(guān)系、導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓關(guān)系、導(dǎo)通電阻隨溫度變化、漏源泄漏電流與電壓關(guān)系、電容變化、柵源電壓與總電荷關(guān)系、電阻性開關(guān)時間隨柵極電阻變化、二極管正向電壓與電流關(guān)系、最大額定正向偏置安全工作區(qū)、峰值電流與雪崩時間關(guān)系以及熱特性等。這些曲線能夠幫助工程師更好地了解該MOSFET在不同條件下的性能表現(xiàn)。
訂購信息
| 器件型號 | 標(biāo)記 | 封裝 | 包裝方式 |
|---|---|---|---|
| NVMFD5C668NLT1G | 5C668L | DFN8(無鉛) | 1500 / 卷帶封裝 |
| NVMFD5C668NLWFT1G | 668LWF | DFN8(無鉛,可焊側(cè)翼) | 1500 / 卷帶封裝 |
總結(jié)
Onsemi的NVMFD5C668NL雙N溝道MOSFET憑借其緊湊的設(shè)計、低導(dǎo)通損耗、低驅(qū)動損耗等特性,為電子工程師在設(shè)計高性能、高可靠性的功率電路時提供了一個優(yōu)秀的選擇。無論是在汽車電子、工業(yè)控制還是其他領(lǐng)域,該MOSFET都能夠發(fā)揮其優(yōu)勢,幫助工程師實現(xiàn)更高效、更穩(wěn)定的系統(tǒng)設(shè)計。
在實際應(yīng)用中,工程師需要根據(jù)具體的設(shè)計需求,結(jié)合該MOSFET的各項參數(shù)和特性,合理選擇和使用。同時,也要注意其最大額定值和熱阻等參數(shù),避免因超過極限值而導(dǎo)致器件損壞。大家在使用這款MOSFET的過程中,有沒有遇到過什么有趣的問題或者獨特的應(yīng)用場景呢?歡迎在評論區(qū)分享交流。
-
MOSFET
+關(guān)注
關(guān)注
151文章
10251瀏覽量
234539
發(fā)布評論請先 登錄
Onsemi NVMFD5C668NL雙N溝道MOSFET:緊湊設(shè)計與高性能的完美結(jié)合
評論