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Onsemi NVMFD5C668NL雙N溝道MOSFET:緊湊設(shè)計與高性能的完美結(jié)合

lhl545545 ? 2026-04-07 15:20 ? 次閱讀
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Onsemi NVMFD5C668NL雙N溝道MOSFET:緊湊設(shè)計與高性能的完美結(jié)合

在電子設(shè)計領(lǐng)域,MOSFET作為關(guān)鍵的功率開關(guān)器件,其性能直接影響著整個系統(tǒng)的效率和穩(wěn)定性。今天,我們就來深入了解一下Onsemi公司推出的NVMFD5C668NL雙N溝道MOSFET,看看它有哪些獨特的特性和優(yōu)勢。

文件下載:NVMFD5C668NL-D.PDF

產(chǎn)品特性

緊湊設(shè)計

NVMFD5C668NL采用了5x6 mm的小尺寸封裝,這種緊湊的設(shè)計非常適合對空間要求較高的應(yīng)用場景,能夠幫助工程師在有限的空間內(nèi)實現(xiàn)更多的功能。

低導(dǎo)通損耗

該MOSFET具有低 (R_{DS(on)}),這意味著在導(dǎo)通狀態(tài)下,它的電阻較小,能夠有效減少導(dǎo)通損耗,提高系統(tǒng)的效率。

低驅(qū)動損耗

低 (Q_{G}) 和電容使得驅(qū)動該MOSFET所需的能量減少,從而降低了驅(qū)動損耗,進一步提高了系統(tǒng)的整體效率。

可焊側(cè)翼選項

NVMFD5C668NLWF提供了可焊側(cè)翼選項,這有助于增強光學(xué)檢測的效果,提高生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制。

汽車級認證

該產(chǎn)品通過了AEC - Q101認證,并且具備PPAP能力,適用于汽車電子等對可靠性要求較高的應(yīng)用領(lǐng)域。

環(huán)保合規(guī)

NVMFD5C668NL是無鉛產(chǎn)品,并且符合RoHS標(biāo)準(zhǔn),滿足環(huán)保要求。

最大額定值

參數(shù) 符號 單位
漏源電壓 (V_{DSS}) 60 V
柵源電壓 (V_{GS}) ±20 V
連續(xù)漏極電流((T_{C}=25^{circ}C)) (I_{D}) 68 A
連續(xù)漏極電流((T_{C}=100^{circ}C)) (I_{D}) 29 A
功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) (P_{D}) 57.5 W
功率耗散((T_{C}=100^{circ}C)) (P_{D}) 29 W
脈沖漏極電流((T_{A}=25^{circ}C),(t = 10mu s)) (I_{DM}) 454 A
工作結(jié)溫和存儲溫度 (T{J})、(T{stg}) - 55 至 +175 (^{circ}C)
源極電流(體二極管 (I_{S}) 48 A
單脈沖漏源雪崩能量((T = 25^{circ}C),(I_{L(pk)} = 3.22 A)) (E_{AS}) 205 mJ
焊接用引腳溫度(距外殼1/8英寸,10 s) (T_{L}) 260 (^{circ}C)

需要注意的是,超過最大額定值可能會損壞器件,影響其功能和可靠性。

熱阻參數(shù)

參數(shù) 符號 單位
結(jié)到殼穩(wěn)態(tài)熱阻 (R_{theta JC}) 2.6 (^{circ}C/W)
結(jié)到環(huán)境穩(wěn)態(tài)熱阻 (R_{theta JA}) 50.26 (^{circ}C/W)

熱阻參數(shù)會受到整個應(yīng)用環(huán)境的影響,并非固定值,并且僅在特定條件下有效。

電氣特性

關(guān)斷特性

  • 漏源擊穿電壓:(V{(BR)DSS}) 在 (V{GS} = 0 V),(I_{D} = 250mu A) 時為60 V,溫度系數(shù)為28 mV/°C。
  • 零柵壓漏極電流:(I{DSS}) 在 (V{GS} = 0 V),(V{DS} = 60 V),(T{J} = 25^{circ}C) 時為100 nA,(T_{J} = 125^{circ}C) 時為250 nA。
  • 柵源泄漏電流:(I{GSS}) 在 (V{DS} = 0 V),(V_{GS} = 20 V) 時為±1.2 μA。

導(dǎo)通特性

  • 漏源導(dǎo)通電阻:典型值為6.5 mΩ。
  • 正向跨導(dǎo):典型值為61 S。

電荷、電容和柵極電阻

  • 輸入電容:(C{ISS}) 在 (V{GS} = 0 V),(f = 1 MHz),(V_{DS} = 25 V) 時為1440 pF。
  • 輸出電容:(C_{OSS}) 為800 pF。
  • 反向傳輸電容:(C_{RSS}) 為14 pF。
  • 總柵極電荷:(Q{G(TOT)}) 在 (V{GS} = 4.5 V),(V{DS} = 48 V),(I{D} = 20 A) 時為9.8 nC;在 (V{GS} = 10 V),(V{DS} = 48 V),(I_{D} = 20 A) 時為21.3 nC。
  • 閾值柵極電荷:(Q_{G(TH)}) 為2.5 nC。
  • 柵源電荷:(Q{GS}) 在 (V{GS} = 10 V),(V{DS} = 48 V),(I{D} = 20 A) 時為4.3 nC。
  • 柵漏電荷:(Q_{GD}) 為2.1 nC。
  • 平臺電壓:(V_{GP}) 為2.9 V。

開關(guān)特性

  • 導(dǎo)通延遲時間:在 (I{D}=20 A),(R{G}=1.0 Omega) 時為10 ns。
  • 關(guān)斷延遲時間:為22 ns。
  • 下降時間:為40 ns。

漏源二極管特性

  • 正向二極管電壓:(V{SD}) 在 (V{GS} = 0 V),(I{S} = 20 A),(T{J} = 25^{circ}C) 時為0.85 - 1.2 V,(T_{J} = 125^{circ}C) 時為0.73 V。
  • 反向恢復(fù)時間:(t_{RR}) 為42 ns。
  • 充電時間:(t_{a}) 為20 ns。
  • 放電時間:(t_{b}) 為22 ns。
  • 反向恢復(fù)電荷:(Q_{RR}) 為32 nC。

典型特性曲線

文檔中提供了多個典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻與柵源電壓關(guān)系、導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓關(guān)系、導(dǎo)通電阻隨溫度變化、漏源泄漏電流與電壓關(guān)系、電容變化、柵源電壓與總電荷關(guān)系、電阻性開關(guān)時間隨柵極電阻變化、二極管正向電壓與電流關(guān)系、最大額定正向偏置安全工作區(qū)、峰值電流與雪崩時間關(guān)系以及熱特性等。這些曲線能夠幫助工程師更好地了解該MOSFET在不同條件下的性能表現(xiàn)。

訂購信息

器件型號 標(biāo)記 封裝 包裝方式
NVMFD5C668NLT1G 5C668L DFN8(無鉛) 1500 / 卷帶封裝
NVMFD5C668NLWFT1G 668LWF DFN8(無鉛,可焊側(cè)翼) 1500 / 卷帶封裝

總結(jié)

Onsemi的NVMFD5C668NL雙N溝道MOSFET憑借其緊湊的設(shè)計、低導(dǎo)通損耗、低驅(qū)動損耗等特性,為電子工程師在設(shè)計高性能、高可靠性的功率電路時提供了一個優(yōu)秀的選擇。無論是在汽車電子、工業(yè)控制還是其他領(lǐng)域,該MOSFET都能夠發(fā)揮其優(yōu)勢,幫助工程師實現(xiàn)更高效、更穩(wěn)定的系統(tǒng)設(shè)計。

在實際應(yīng)用中,工程師需要根據(jù)具體的設(shè)計需求,結(jié)合該MOSFET的各項參數(shù)和特性,合理選擇和使用。同時,也要注意其最大額定值和熱阻等參數(shù),避免因超過極限值而導(dǎo)致器件損壞。大家在使用這款MOSFET的過程中,有沒有遇到過什么有趣的問題或者獨特的應(yīng)用場景呢?歡迎在評論區(qū)分享交流。

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