福晶科技「 生長紋測試儀（GSM）」成功交付

福晶科技自主研制的紋影儀于今日順利完成交付，正式投入客戶生產應用。該儀器依托公司深厚的精密光學與光機系統集成能力，可將肉眼不可見的折射率變化轉化為清晰可視的圖像，提供了直觀的手段對晶體、光學產品的生長紋、缺陷進行觀測和表征。

該生長紋測試儀可應用于光學產品、晶體生產加工全流程檢測場景，可廣泛應用于光學晶體研發階段內部缺陷觀測、晶體生長工藝優化分析、晶體內部應力分布檢測、晶體成品無損質控、高精度光學元件來料檢驗等環節，為激光晶體、非線性光學晶體、光學窗口材料等研發生產提供可靠的專用光學檢測解決方案。