CSD13381F4 12-V N-Channel FemtoFET? MOSFET技術解析
在電子設備不斷追求小型化和高性能的今天,MOSFET作為關鍵的電子元件,其性能和尺寸對于整個系統的設計至關重要。今天,我們就來深入了解一下德州儀器(TI)推出的CSD13381F4 12-V N-Channel FemtoFET? MOSFET。
文件下載:csd13381f4.pdf
一、產品特性
電氣性能優勢
- 低導通電阻:低導通電阻意味著在導通狀態下,MOSFET的功率損耗更小,能夠有效提高系統的效率。這對于電池供電的設備尤為重要,可以延長電池的使用壽命。
- 低柵極電荷((Q{g})和(Q{gd})):低柵極電荷可以減少開關過程中的能量損耗,提高開關速度,從而使MOSFET能夠更快速地響應控制信號,適用于高頻開關應用。
- 低閾值電壓:較低的閾值電壓使得MOSFET在較低的柵源電壓下就能導通,降低了驅動電路的設計難度和功耗。
物理特性優勢
- 超小封裝尺寸:采用0402封裝,尺寸僅為1.0 mm × 0.6 mm,超小的封裝尺寸可以大大節省電路板的空間,滿足了現代電子設備小型化的需求。
- 超薄外形:最大高度僅為0.36 mm,這種超薄的設計使得該MOSFET可以應用于對高度有嚴格要求的設備中,如超薄的手持設備和移動設備。
- 集成ESD保護二極管:該MOSFET集成了ESD保護二極管,能夠有效保護器件免受靜電放電的損害,提高了器件的可靠性和穩定性。同時,其人體模型(HBM)靜電放電額定值大于4 kV,充電器件模型(CDM)靜電放電額定值大于2 kV,為器件提供了可靠的靜電保護。
- 環保特性:該器件無鉛、無鹵素,符合RoHS標準,滿足環保要求。
二、應用領域
負載開關應用
由于其低導通電阻和快速開關特性,CSD13381F4非常適合用于負載開關應用。在需要頻繁開關負載的電路中,它能夠快速、高效地控制負載的通斷,減少功率損耗。
通用開關應用
其良好的電氣性能和小尺寸封裝,使其成為通用開關應用的理想選擇。無論是在信號切換還是電源管理等方面,都能發揮出色的性能。
單電池應用
對于單電池供電的設備,如智能手機、平板電腦等,CSD13381F4的低功耗和小尺寸特性可以有效延長電池續航時間,并節省電路板空間。
手持和移動應用
在手持和移動設備中,對元件的尺寸和性能要求極高。CSD13381F4的超小封裝和高性能能夠滿足這些設備的設計需求,為設備的小型化和高性能化提供支持。
三、產品參數
產品概述
該MOSFET的漏源電壓((V{DS}))為12 V,在不同的柵源電壓下,其導通電阻有所不同。例如,當(V{GS}=1.8 V)時,導通電阻為310 mΩ;當(V{GS}=2.5 V)時,導通電阻為170 mΩ;當(V{GS}=4.5 V)時,導通電阻為140 mΩ。此外,其柵極總電荷((Q{g}))在4.5 V時為1060 pC,柵漏電荷((Q{gd}))為140 pC,閾值電壓((V_{GS(th)}))為0.85 V。
絕對最大額定值
- 電壓參數:漏源電壓((V{DS}))最大為12 V,柵源電壓((V{GS}))最大為8 V。
- 電流參數:連續漏極電流((I{D}))在(T{A}=25°C)時為2.1 A,脈沖漏極電流((I{DM}))在(T{A}=25°C)時為7 A,連續柵極鉗位電流((I_{G}))為35 mA,脈沖柵極鉗位電流為350 mA。
- 功率參數:功率耗散((P_{D}))為500 mW。
- 溫度參數:工作結溫和存儲溫度范圍為 –55 至 150 °C。
- 雪崩能量:單脈沖雪崩能量((E{AS}))在(I{D}=7.4 A),(L = 0.1 mH),(R_{G}= 25 Ω)時為2.7 mJ。
電氣特性
| 參數 | 測試條件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|---|
| (BV_{DSS})(漏源擊穿電壓) | (V{GS}= 0 V),(I{DS}= 250 μA) | 12 | - | - | V |
| (I_{DSS})(漏源泄漏電流) | (V{GS}= 0 V),(V{DS}= 9.6 V) | - | - | 100 | nA |
| (I_{GSS})(柵源泄漏電流) | (V{DS}= 0 V),(V{GS}= 8 V) | - | - | 50 | nA |
| (V_{GS(th)})(柵源閾值電壓) | (V{DS}= V{GS}),(I_{DS}= 250 μA) | 0.65 | 0.85 | 1.10 | V |
| (R_{DS(on)})(漏源導通電阻) | (V{GS}= 1.8 V),(I{DS}= 0.5 A) | - | 310 | 400 | mΩ |
| (R_{DS(on)})(漏源導通電阻) | (V{GS}= 2.5 V),(I{DS}= 0.5 A) | - | 170 | 225 | mΩ |
| (R_{DS(on)})(漏源導通電阻) | (V{GS}= 4.5 V),(I{DS}= 0.5 A) | - | 140 | 180 | mΩ |
| (g_{fs})(跨導) | (V{DS}= 6 V),(I{DS}= 0.5 A) | - | 3.2 | - | S |
| (C_{iss})(輸入電容) | (V{GS}= 0 V),(V{DS}= 6 V),(? = 1 MHz) | - | 155 | 200 | pF |
| (C_{oss})(輸出電容) | - | - | 47 | 62 | pF |
| (C_{rss})(反向傳輸電容) | - | - | 2.5 | 3.3 | pF |
| (R_{G})(串聯柵極電阻) | - | - | 23 | - | Ω |
| (Q_{g})(柵極總電荷) | (V{DS}= 6 V),(I{DS}= 0.5 A) | - | 1060 | 1400 | pC |
| (Q_{gd})(柵漏電荷) | - | 140 | - | - | pC |
| (Q_{gs})(柵源電荷) | - | 230 | - | - | pC |
| (Q_{g(th)})(閾值電壓下的柵極電荷) | - | 155 | - | - | pC |
| (Q_{oss})(輸出電荷) | (V{DS}= 6 V),(V{GS}= 0 V) | - | 1120 | - | pC |
| (t_{d(on)})(導通延遲時間) | (V{DS}= 6 V),(V{GS}= 4.5 V),(I{DS}= 0.5 A),(R{G}= 2 Ω) | - | 3.7 | - | ns |
| (t_{r})(上升時間) | - | 1.5 | - | - | ns |
| (t_{d(off)})(關斷延遲時間) | - | 11.0 | - | - | ns |
| (t_{f})(下降時間) | - | 3.8 | - | - | ns |
| (V_{SD})(二極管正向電壓) | (I{SD}= 0.5 A),(V{GS}= 0 V) | - | 0.73 | 0.9 | V |
| (Q_{rr})(反向恢復電荷) | (V{DS}= 6 V),(I{F}= 0.5 A),(di/dt = 300 A/μs) | - | 1550 | - | pC |
| (t_{rr})(反向恢復時間) | - | 6 | - | - | ns |
熱信息
在不同的安裝條件下,該MOSFET的結到環境的熱阻有所不同。當器件安裝在具有1英寸2(6.45 (cm^{2}))、2 oz.(0.071 mm厚)銅的FR4材料上時,典型的結到環境熱阻((R_{theta JA}))為90 °C/W;當安裝在最小銅安裝面積的FR4材料上時,結到環境熱阻為250 °C/W。
四、典型MOSFET特性
瞬態熱阻抗
瞬態熱阻抗與脈沖持續時間和占空比有關。在不同的占空比下,隨著脈沖持續時間的變化,熱阻抗也會發生變化。這對于評估MOSFET在脈沖工作條件下的熱性能非常重要。
飽和特性
在不同的柵源電壓下,漏源電流與漏源電壓的關系呈現出飽和特性。當柵源電壓固定時,隨著漏源電壓的增加,漏源電流逐漸飽和。
傳輸特性
漏源電流與柵源電壓之間存在一定的關系。在不同的溫度下,傳輸特性曲線會有所不同。例如,在(TC = 125°C)、(TC = 25°C)和(TC = -55°C)時,傳輸特性曲線會發生偏移。
柵極電荷
柵極電荷與柵源電壓之間的關系曲線可以幫助我們了解MOSFET的開關特性。在不同的漏源電壓和漏源電流條件下,柵極電荷的變化情況不同。
電容特性
輸入電容((C{iss}))、輸出電容((C{oss}))和反向傳輸電容((C_{rss}))與漏源電壓有關。隨著漏源電壓的變化,這些電容值也會發生變化。
閾值電壓與溫度的關系
閾值電壓會隨著溫度的變化而變化。在不同的溫度下,閾值電壓的數值不同。這對于設計電路時考慮溫度對MOSFET性能的影響非常重要。
導通電阻與柵源電壓和溫度的關系
導通電阻與柵源電壓和溫度密切相關。隨著柵源電壓的增加,導通電阻會減小;隨著溫度的升高,導通電阻會增大。
典型二極管正向電壓
源漏電流與源漏電壓之間的關系曲線可以反映二極管的正向電壓特性。在不同的溫度下,典型二極管正向電壓曲線會有所不同。
最大安全工作區(SOA)
最大安全工作區表示MOSFET在不同的漏源電壓和漏源電流條件下能夠安全工作的區域。在設計電路時,需要確保MOSFET的工作點在最大安全工作區內,以避免器件損壞。
單脈沖未鉗位電感開關
單脈沖未鉗位電感開關特性可以幫助我們了解MOSFET在雪崩狀態下的性能。在不同的溫度下,峰值雪崩電流與雪崩時間的關系曲線不同。
最大漏極電流與溫度的關系
最大漏極電流會隨著溫度的升高而減小。在設計電路時,需要考慮溫度對最大漏極電流的影響,以確保MOSFET在不同溫度下都能正常工作。
五、機械、封裝和訂購信息
機械尺寸
該MOSFET采用0402封裝,其具體的機械尺寸包括長度、寬度、高度等。在設計電路板時,需要根據這些尺寸來進行布局。
推薦的最小PCB布局
文檔中給出了推薦的最小PCB布局尺寸,包括焊盤尺寸、間距等。合理的PCB布局可以提高MOSFET的性能和可靠性。
推薦的模板圖案
推薦的模板圖案用于印刷電路板的焊接工藝。正確的模板圖案可以確保焊膏的分布均勻,提高焊接質量。
載帶尺寸
CSD13381F4的載帶尺寸包括長度、寬度、高度等參數。了解載帶尺寸對于自動化生產和器件的安裝非常重要。
訂購信息
| 器件 | 數量 | 包裝介質 | 封裝 | 發貨方式 |
|---|---|---|---|---|
| CSD13381F4 | 3000 | 7英寸卷盤 | Femto (0402) 1.0-mm × 0.6-mm SMD無引腳 | 卷帶包裝 |
| CSD13381F4T | 250 | 卷盤 | Femto (0402) 1.0-mm × 0.6-mm SMD無引腳 | 卷帶包裝 |
六、總結
CSD13381F4 12-V N-Channel FemtoFET? MOSFET以其低導通電阻、低柵極電荷、低閾值電壓、超小封裝尺寸和超薄外形等優點,成為了手持和移動設備等應用的理想選擇。在設計電路時,我們需要根據其電氣特性、熱特性和機械特性等參數,合理選擇工作條件和PCB布局,以充分發揮其性能優勢。同時,在使用過程中,要注意靜電防護,避免ESD對器件造成損害。大家在實際應用中是否遇到過類似MOSFET的使用問題呢?歡迎在評論區分享你的經驗和見解。
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