
在電子測量實驗中,對測量工具進行校準與補償,能夠有效提升測量結果的準確性與可靠性。傳統校準方法往往需要借助外部信號源,或是斷開被測電路與測量設備的輸入連接。例如,普通無源探頭校準需要接入標準方波信號,示波器校準則要移除通道上的輸入連接。而PINTECH品致PTO系列光隔離探頭在使用過程中,使用者只需雙擊探頭接收端的“down”按鍵即可啟動校準,無需斷開探頭與示波器、被測電路的連接。

PTO 系列光隔離探頭憑借原位自校準技術與核心功能模塊全固態架構設計,實現 “不斷線、不外接” 的高效精準校準。啟動校準時,探頭發射端自動切斷輸入傳遞路徑,隔絕被測信號干擾,無需斷開探頭與被測系統的物理連接;同時內置高精度參考信號模塊,自動注入標準校準信號,并基于接收端反饋數據閉環調節增益參數。相較于傳統外接信號源校準方案,該設計徹底規避了外部設備精度漂移、接口不兼容、參數設置失誤等問題,杜絕額外誤差引入,確保多次校準結果的一致性與準確性。

此外,信號傳輸鏈路和校準功能模塊采用全固態設計,摒棄了機械繼電器結構,配合指示燈+蜂鳴器雙重操作提示,校準過程無繼電器吸合聲,從根源上消除了機械磨損、觸點老化對探頭使用壽命與長期穩定性的影響。在實際測量場景中,使用者無需額外配備專用信號源、無需反復拆卸與搭建連接線路,既節省設備采購成本與校準準備時間,又減少連接器損耗,降低因接線操作不當對被測電路造成干擾或物理損傷的風險,全面保障測量流程的連續性與被測系統的安全性。
綜上,PTO 系列光隔離探頭通過內部隔離機制、自主參考信號源及核心模塊全固態架構的協同設計,兼顧了校準便捷性、結果可靠性與產品耐用性,顯著提升整體測量效率。
-
探頭
+關注
關注
0文章
1375瀏覽量
43835 -
測量
+關注
關注
10文章
5630瀏覽量
116715 -
光隔離
+關注
關注
0文章
39瀏覽量
7722
發布評論請先 登錄
麥科信光隔離探頭在碳化硅(SiC)MOSFET動態測試中的應用
快速讀懂麥科信MOIP系列光隔離探頭
光隔離探頭相對差分探頭的優勢
光隔離探頭校準過程介紹
評論