IV 曲線是電子器件最核心的性能表征之一，通過施加連續(xù)變化的電壓，測(cè)量對(duì)應(yīng)電流響應(yīng)，可直觀反映器件的導(dǎo)通特性、擊穿電壓、閾值電壓、漏電流、內(nèi)阻等關(guān)鍵參數(shù)，廣泛應(yīng)用于二極管、三極管、電阻、電容、電源適配器、LED、半導(dǎo)體芯片等器件的研發(fā)、生產(chǎn)與質(zhì)檢環(huán)節(jié)。

電阻

想要完成電子元器件的IV曲線測(cè)試，我們首先要確定使用的設(shè)備。可變電阻、二極管、三極管等器件的IV曲線測(cè)試一般都使用源表進(jìn)行測(cè)試。源表集精準(zhǔn)電壓源 + 精準(zhǔn)電流源 + 高精度萬用表于一體，支持雙向掃描、小信號(hào)測(cè)量，是測(cè)試精密器件IV曲線的首選設(shè)備。

源表

測(cè)試流程：
1.首先我們將被測(cè)產(chǎn)品與源表進(jìn)行連接，連接時(shí)需要注意正負(fù)極。
2.在源表中選擇測(cè)試模式恒壓（CV）模式（掃描電壓，測(cè)電流）；設(shè)置保護(hù)閾值（關(guān)鍵！避免器件損壞）：
3.設(shè)置掃描類型以及起始值/終止值，步長(zhǎng)，掃描方向和測(cè)量點(diǎn)數(shù)等參數(shù)。
4.選擇采集參數(shù)：電壓（U）、電流（I），部分 SMU 可同時(shí)采集功率（P=U×I）、電阻（R=U/I）；
5.點(diǎn)擊 SMU 面板 “Run” 鍵，或通過軟件（如 ATECLOUD平臺(tái)）遠(yuǎn)程啟動(dòng)；
6.實(shí)時(shí)觀察曲線：SMU 自帶顯示屏可實(shí)時(shí)顯示 IV 曲線，重點(diǎn)關(guān)注是否有異常突變，若出現(xiàn)異常立即停止掃描。

IV曲線測(cè)試

通過以上步驟可以輕松獲取到電子元器件的電壓和電流值，不過如何向?qū)⑵渲谱鳛镮V折線圖，則需要現(xiàn)將數(shù)據(jù)在表格中統(tǒng)計(jì)整理，在進(jìn)行折線圖制作。當(dāng)然，可以通過類型ATECLOUD平臺(tái)這種測(cè)試軟件，對(duì)IV曲線進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試，而且可以在測(cè)試過程中實(shí)時(shí)導(dǎo)出IV曲線圖表。

更多自動(dòng)化測(cè)試方法和案例可關(guān)注：納米軟件

審核編輯 黃宇