海伯森點(diǎn)光譜應(yīng)用案例之——不透明材質(zhì)鍍膜厚度檢測(cè)
測(cè)量膜厚是現(xiàn)代工業(yè)和科研中的一項(xiàng)關(guān)鍵質(zhì)量控制手段，它通過精確監(jiān)控涂層或薄膜的厚度，直接確保產(chǎn)品在光學(xué)、電學(xué)、機(jī)械防護(hù)等方面的預(yù)期性能（如手機(jī)屏幕透光性、芯片運(yùn)行穩(wěn)定性、汽車漆面防腐性），同時(shí)能有效控制生產(chǎn)成本、節(jié)約原材料，并保證大規(guī)模生產(chǎn)的產(chǎn)品一致性與可靠性，是從研發(fā)到制造過程中不可或缺的重要環(huán)節(jié)。理論說得再透徹，不如讓我們看一個(gè)海伯森點(diǎn)光譜在實(shí)際測(cè)厚應(yīng)用的案例。
檢測(cè)需求
根據(jù)客戶提供的測(cè)試需求，利用我們的點(diǎn)光譜進(jìn)行樣品鍍膜厚度的測(cè)量。
檢測(cè)原理
測(cè)試傳感器選型
測(cè)試方案
圓形樣品測(cè)試過程
圓形樣品測(cè)試結(jié)果
長(zhǎng)形樣品測(cè)試過程
同理選擇多組不同位置進(jìn)行實(shí)測(cè)
長(zhǎng)形樣品測(cè)試結(jié)果
測(cè)試總結(jié)
1. 經(jīng)過測(cè)量，圓形樣品的鍍膜厚度為0.0156mm，長(zhǎng)形樣品的寬邊鍍膜厚度為0.018mm，窄邊鍍膜厚度為0.0248mm
2.在實(shí)際測(cè)量中建議使用伺服控制載物移動(dòng)平臺(tái)，可以減小因測(cè)量軌跡變化和樣品本身的翹曲度帶來的測(cè)量誤差
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發(fā)表于 10-25 10:46
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