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      海伯森點光譜應用案例之——不透明材質鍍膜厚度檢測

      海伯森技術 ? 2025-12-27 10:42 ? 次閱讀
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      測量膜厚是現代工業和科研中的一項關鍵質量控制手段，它通過精確監控涂層或薄膜的厚度，直接確保產品在光學、電學、機械防護等方面的預期性能（如手機屏幕透光性、芯片運行穩定性、汽車漆面防腐性），同時能有效控制生產成本、節約原材料，并保證大規模生產的產品一致性與可靠性，是從研發到制造過程中不可或缺的重要環節。理論說得再透徹，不如讓我們看一個海伯森點光譜在實際測厚應用的案例。

      檢測需求

      wKgZO2lPRsGAeg1CAALuV4CPVII268.png

      根據客戶提供的測試需求，利用我們的點光譜進行樣品鍍膜厚度的測量。

      檢測原理

      wKgZPGlPRtKAcoP4AAGUdrwrfT4039.png

      測試傳感器選型

      wKgZO2lPRuWAaWCAAAIotQMmSl0138.pngwKgZPGlPRvGAOESRAAJvUYtCplA891.png

      測試方案

      wKgZPGlPRwGACERMAAK3OhoScYk198.png

      圓形樣品測試過程

      wKgZPGlPRySAKGc_AAQgaxff7SQ399.pngwKgZPGlPRzqAfzROAARGXZIS2Ew406.png

      圓形樣品測試結果

      wKgZO2lPR0WAF9RmAAED5QD55uU797.png

      長形樣品測試過程

      wKgZPGlPR22AfZZaAASMT3l4Eyo704.png

      同理選擇多組不同位置進行實測

      長形樣品測試結果

      wKgZPGlPR36AItBWAAGcGQT0sN0763.png

      測試總結

      1. 經過測量，圓形樣品的鍍膜厚度為0.0156mm，長形樣品的寬邊鍍膜厚度為0.018mm，窄邊鍍膜厚度為0.0248mm

      2.在實際測量中建議使用伺服控制載物移動平臺，可以減小因測量軌跡變化和樣品本身的翹曲度帶來的測量誤差

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