近日，鑫圖光電聯合中國科學院高能物理研究所、中國工程物理研究院激光聚變研究中心等科研單位，分別在高能同步輻射光源（HEPS）通用環境譜學線站（BM44，Tender X-ray Beamline）和北京正負電子對撞機同步輻射光源軟 X 光實驗站（4B7A、4B7B），開展自主研發的Dhyana XF95 軟 X 射線相機性能測試，完成 100 eV–10 keV 能量范圍全譜段響應曲線實測工作，取得實質性進展。

圖 1 項目測試現場。中國工程物理研究院易榮清研究員、車興森高級工程師，高能物理研究所鄭雷研究員、劉樹虎副研究員、唐坤高級工程師共同參與本次實測。

據悉，這是國內科學相機企業首次完成完整的量子效率（QE）曲線實測驗證，其中對6-10 keV高能波段的測試尤為關鍵。該能段是同步輻射、材料科學及天體物理等領域的重要工作區間，對探測器的性能有特定要求。

6-10 keV標定的技術挑戰

在6-10 keV高能波段進行量子效率標定，對探測器性能及實驗條件存在以下嚴格要求：

抗輻照能力— 高能X射線可能對探測器材料造成輻照損傷，要求相機具備相應的抗輻照性能。

動態范圍 — 該能段的光子能量高，要求探測器具有足夠的動態范圍來準確測量不同強度的X射線信號。

光源穩定性— 同步輻射光源在該能段的束流穩定性和能量精度直接影響標定結果的可靠性。

標定鏈路溯源— 需要建立完整的測量鏈路校準體系，確保數據的準確性和可溯源性。

本次標定工作需要解決鏈路校準、系統誤差控制等技術問題，為國內在該能段的探測器性能驗證積累了實踐經驗。

圖2： 搭載Dhyana XF95的測試系統

以往，6-10 keV能區的量子效率數據多依賴于理論計算或外推估算。理論模型雖可提供參考，但在實際應用中，理論預測值與實測值之間可能存在偏差，這在精密測量中可能引入系統誤差。

鑫圖光電與協作單位共同完成了6-10 keV高能波段的實測標定，獲得了該能段的量子效率實測數據。本次實驗對理論模型進行了驗證，量化了理論值與實測值的差異，所獲數據可為X射線相關科研工作提供更直接的實驗數據參考。

6-10 keV核心能段應用領域

6-10 keV 高能X射線波段在多個前沿科學研究領域具有重要應用價值：

· 同步輻射實驗— 適用于材料穿透成像、高分辨衍射分析，覆蓋多種材料元素的K吸收邊（如Fe、Co、Ni、Cu等），在材料結構表征和X射線吸收譜（XAS）測量中應用廣泛。

· 天體物理觀測— 黑洞、中子星、超新星等天體物理現象在該能段產生顯著信號，精確的探測器響應特性是獲取可靠觀測數據的基礎。

· 材料科學研究— 航空航天材料、功能材料的內部結構分析需要高能X射線的穿透能力，準確的能量響應數據對定量分析至關重要。

· 生命科學成像— 高能X射線斷層成像技術可在無損條件下進行高分辨結構分析，為生命科學研究提供實驗手段。

為確保本次高能波段標定工作順利進行，鑫圖光電組建了技術團隊，與合作單位科研人員協同，統籌同步輻射光源測試時段，完成標定實驗及數據溯源體系的建立。項目投入資源進行了方法研發、設備調試、數據采集與分析驗證等工作，在X射線相機技術與標定方法方面積累了相關經驗，成功攻克鏈路校準、系統誤差控制等核心技術難題。

圖3：鑫圖項目成員在系統調試現場

鑫圖光電的目標不僅是提供科學相機產品，更希望為科研工作提供有價值的技術支持：

· 提供實測數據— 為 Dhyana XF95 和 Dhyana XF6060 兩款相機用戶提供經過實測驗證的 6-10 keV 量子效率曲線，替代單純的理論估算數據。為該能區X射線實驗提供響應數據參考。

· 提升測量可靠性— 幫助科研用戶減少系統誤差，提高該能段實驗數據的準確性。

· 支持標定體系建設— 為國內高能X射線探測器標定方法的發展積累實踐經驗。

· 產品性能驗證— 通過實測驗證了鑫圖 Dhyana XF95 和 Dhyana XF6060 軟X射線相機在 6-10 keV 能段的實際響應性能，為同步輻射、材料科學、天體物理等領域用戶提供了性能參考。

鑫圖光電銷售總監吳燕春表示：

“我們很高興能夠聯合國內科研單位共同完成 6-10 keV 這一高能波段的標定工作。這項工作讓我們更加明確了鑫圖光電的使命定位：我們不僅是探測器供應商，更是科學儀器系統集成的技術伙伴。

未來，鑫圖光電將繼續在科學相機領域進行投入，保持與國內科研機構的合作，通過工程化驗證、方法完善與實驗條件優化，推動科學成像技術在科研任務中的應用。

以實測數據支持科學研究，以技術服務推動行業進步。

關于鑫圖光電

國內科學級相機研發制造企業，專注于為科學研究和工業應用提供成像解決方案。公司產品應用于同步輻射、天體物理、生命科學、材料科學等領域，致力于為科研用戶提供高性能探測器及相關技術支持。