構(gòu)網(wǎng)型儲能變流器(Grid-Forming PCS)技術(shù)路線演進(jìn)與碳化硅功率器件應(yīng)用價值深度研究報告
傾佳電子(Changer Tech)是一家專注于功率半導(dǎo)體和新能源汽車連接器的分銷商。主要服務(wù)于中國工業(yè)電源、電力電子設(shè)備和新能源汽車產(chǎn)業(yè)鏈。傾佳電子聚焦于新能源、交通電動化和數(shù)字化轉(zhuǎn)型三大方向,力推BASiC基本半導(dǎo)體SiC碳化硅MOSFET單管,SiC碳化硅MOSFET功率模塊,SiC模塊驅(qū)動板等功率半導(dǎo)體器件以及新能源汽車連接器。?
傾佳電子楊茜致力于推動國產(chǎn)SiC碳化硅模塊在電力電子應(yīng)用中全面取代進(jìn)口IGBT模塊,助力電力電子行業(yè)自主可控和產(chǎn)業(yè)升級!
傾佳電子楊茜咬住SiC碳化硅MOSFET功率器件三個必然,勇立功率半導(dǎo)體器件變革潮頭:
傾佳電子楊茜咬住SiC碳化硅MOSFET模塊全面取代IGBT模塊和IPM模塊的必然趨勢!
傾佳電子楊茜咬住SiC碳化硅MOSFET單管全面取代IGBT單管和大于650V的高壓硅MOSFET的必然趨勢!
傾佳電子楊茜咬住650V SiC碳化硅MOSFET單管全面取代SJ超結(jié)MOSFET和高壓GaN 器件的必然趨勢!
1. 緒論:新型電力系統(tǒng)下的變流器范式轉(zhuǎn)移
1.1 全球能源轉(zhuǎn)型的慣量危機(jī)與構(gòu)網(wǎng)型技術(shù)的興起
隨著全球能源結(jié)構(gòu)向低碳化加速轉(zhuǎn)型,電力系統(tǒng)正經(jīng)歷著百年來最深刻的變革。傳統(tǒng)的以同步發(fā)電機(jī)為主導(dǎo)的電力系統(tǒng),依賴于其巨大的旋轉(zhuǎn)機(jī)械慣量來維持電網(wǎng)頻率和電壓的穩(wěn)定性。然而,隨著風(fēng)電、光伏等通過電力電子接口并網(wǎng)的新能源占比不斷攀升,電網(wǎng)逐漸呈現(xiàn)出“低慣量、弱阻尼、弱電壓支撐”的特征。
在傳統(tǒng)的技術(shù)路線中,儲能變流器(PCS)主要采用跟網(wǎng)型(Grid-Following, GFL)控制策略。GFL變流器將電網(wǎng)視為無窮大母線,通過鎖相環(huán)(PLL)跟隨電網(wǎng)電壓的相位和頻率,控制輸出電流,本質(zhì)上是一個電流源。然而,在弱電網(wǎng)環(huán)境下(短路比 SCR < 2),鎖相環(huán)極易失步,導(dǎo)致系統(tǒng)振蕩甚至脫網(wǎng)。

為了解決這一根本性矛盾,構(gòu)網(wǎng)型(Grid-Forming, GFM)儲能變流器技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生。GFM PCS模擬同步發(fā)電機(jī)的外特性,表現(xiàn)為電壓源特性,能夠主動構(gòu)建電壓和頻率,為電網(wǎng)提供慣量支撐、一次調(diào)頻、黑啟動等關(guān)鍵服務(wù)。這種從“跟隨”到“構(gòu)建”的控制范式轉(zhuǎn)移,對底層硬件——特別是功率半導(dǎo)體器件——提出了前所未有的挑戰(zhàn)。
1.2 構(gòu)網(wǎng)型PCS對功率器件的極限挑戰(zhàn)
構(gòu)網(wǎng)型控制策略(如虛擬同步機(jī)VSG、下垂控制Droop Control)要求變流器具備極高的動態(tài)響應(yīng)能力和過載能力。與傳統(tǒng)跟網(wǎng)型應(yīng)用相比,構(gòu)網(wǎng)型PCS在硬件層面面臨以下核心挑戰(zhàn):
瞬時功率吞吐能力:在電網(wǎng)頻率驟變或故障穿越(LVRT/HVRT)期間,PCS需要瞬間輸出數(shù)倍于額定電流的無功或有功功率,這對功率器件的峰值電流能力和熱容限提出了嚴(yán)苛要求。
高頻帶寬與諧波抑制:為了模擬同步電機(jī)的機(jī)械特性并抑制高頻諧波,同時減小輸出濾波器(LCL)的體積,變流器需要更高的開關(guān)頻率。
熱循環(huán)可靠性:構(gòu)網(wǎng)型應(yīng)用中,功率波動更為頻繁和劇烈,導(dǎo)致器件結(jié)溫(Tj?)波動幅度大,對封裝的功率循環(huán)(Power Cycling)壽命是巨大考驗(yàn)。
在此背景下,傳統(tǒng)的硅基(Si)IGBT技術(shù)在開關(guān)速度、導(dǎo)通損耗和耐溫性能上已逐漸逼近物理極限。基于第三代寬禁帶半導(dǎo)體材料的碳化硅(SiC)MOSFET,憑借其卓越的物理特性,成為突破構(gòu)網(wǎng)型PCS硬件瓶頸的關(guān)鍵技術(shù)路徑。




2. 構(gòu)網(wǎng)型儲能變流器(PCS)技術(shù)路線與發(fā)展趨勢
2.1 主流控制拓?fù)浼軜?gòu)演進(jìn)
構(gòu)網(wǎng)型PCS的技術(shù)路線主要體現(xiàn)在控制算法與電路拓?fù)涞纳疃热诤稀?/p>
2.1.1 虛擬同步發(fā)電機(jī)(VSG)技術(shù)
VSG技術(shù)通過在控制環(huán)節(jié)引入同步發(fā)電機(jī)的轉(zhuǎn)子運(yùn)動方程和電磁暫態(tài)方程,使逆變器具備虛擬慣量和阻尼特性。
技術(shù)難點(diǎn):模擬機(jī)械慣量需要巨大的能量吞吐,且控制算法復(fù)雜,容易引起功率震蕩。
器件需求:要求功率器件具備極寬的安全工作區(qū)(SOA)和快速的短路保護(hù)能力。
2.1.2 功率同步控制與下垂控制
基于P-f和Q-V下垂特性的控制策略,結(jié)構(gòu)簡單,易于實(shí)現(xiàn)多機(jī)并聯(lián)。
發(fā)展趨勢:從單一的下垂控制向自適應(yīng)下垂、虛擬阻抗控制發(fā)展,以改善線路阻抗不匹配帶來的均流問題。
2.2 硬件電路拓?fù)涞难葑冓厔?/p>




2.2.1 電壓等級提升:從1000V到1500V系統(tǒng)
為了降低系統(tǒng)平衡成本(BOS),大型儲能電站直流側(cè)電壓已全面向1500V過渡。
Si IGBT方案:在1500V系統(tǒng)中,使用傳統(tǒng)1200V IGBT需要采用三電平ANPC(有源中點(diǎn)鉗位)或I型三電平拓?fù)洌娐方Y(jié)構(gòu)復(fù)雜,器件數(shù)量多,控制難度大。
SiC方案:隨著1700V甚至2000V高壓SiC MOSFET的成熟,使得在1500V系統(tǒng)中使用簡化的兩電平拓?fù)浠蚋邏喝娖酵負(fù)涑蔀榭赡埽蠓嵘讼到y(tǒng)可靠性和功率密度 。
2.2.2 模塊化與高頻化
傳統(tǒng)的集中式PCS正在向模塊化組串式PCS演進(jìn)。模塊化設(shè)計(jì)消除了直流側(cè)并聯(lián)失配問題,提升了系統(tǒng)的可用性。
技術(shù)瓶頸:模塊化要求單機(jī)體積極小,這就必須大幅減小磁性元件(電感、變壓器)的體積。
解決方案:提高開關(guān)頻率是減小磁性元件體積的唯一途徑。Si IGBT在大功率下通常限制在2-8kHz,而SiC MOSFET可輕松實(shí)現(xiàn)20kHz-50kHz以上的硬開關(guān)頻率,這使得SiC成為模塊化構(gòu)網(wǎng)型PCS的首選 。
3. 碳化硅(SiC)功率器件的技術(shù)特性與物理優(yōu)勢
要深入理解SiC在構(gòu)網(wǎng)型PCS中的應(yīng)用價值,必須從材料物理和器件結(jié)構(gòu)層面進(jìn)行剖析。
3.1 寬禁帶材料的物理天賦
碳化硅作為第三代半導(dǎo)體材料,相比硅(Si)具有顯著的物理性能優(yōu)勢,這些優(yōu)勢直接轉(zhuǎn)化為PCS的系統(tǒng)級收益 :
禁帶寬度(Bandgap) :SiC的禁帶寬度為3.26 eV,約為Si(1.12 eV)的3倍。這使得SiC器件具有極低的本征載流子濃度,能夠在高溫(>175°C)下穩(wěn)定工作而不發(fā)生熱失效。
臨界擊穿場強(qiáng):SiC的擊穿場強(qiáng)是Si的10倍。這意味著在相同的耐壓等級下,SiC器件的漂移區(qū)厚度可以做得只有Si的1/10,摻雜濃度可以提高10倍。這直接導(dǎo)致了SiC MOSFET的比導(dǎo)通電阻(Ron,sp?)極低,大幅降低了高壓器件的導(dǎo)通損耗。
熱導(dǎo)率:SiC的熱導(dǎo)率為4.9 W/cm·K,是Si的3倍。這極大地提升了器件的散熱能力,使得高功率密度封裝成為可能。
電子飽和漂移速度:SiC是Si的2倍。結(jié)合低寄生電容特性,使得SiC器件能夠以極高的速度進(jìn)行開關(guān)動作,不僅降低了開關(guān)損耗,還提升了控制環(huán)路的帶寬。
3.2 SiC MOSFET與Si IGBT的器件級對比
在構(gòu)網(wǎng)型PCS應(yīng)用中,SiC MOSFET相比Si IGBT展現(xiàn)出碾壓性的性能優(yōu)勢,主要體現(xiàn)在以下幾個關(guān)鍵參數(shù)上:
3.2.1 導(dǎo)通特性與溫度系數(shù)
Si IGBT是雙極性器件,存在拖尾電流,且具有膝點(diǎn)電壓(Vce(sat)?),在輕載下效率較低。而SiC MOSFET是單極性器件,呈線性電阻特性。
根據(jù)基本半導(dǎo)體(BASIC Semiconductor)的產(chǎn)品數(shù)據(jù),其BMF540R12KA3模塊(1200V/540A)在25°C下的導(dǎo)通電阻僅為2.5 mΩ 。更關(guān)鍵的是,SiC MOSFET具有正溫度系數(shù),易于并聯(lián),且高溫下的電阻增加幅度遠(yuǎn)小于Si器件,保證了全工況下的高效率。
3.2.2 動態(tài)開關(guān)特性與反向恢復(fù)
這是SiC最核心的優(yōu)勢。Si IGBT在關(guān)斷時存在嚴(yán)重的電流拖尾(Tail Current),導(dǎo)致巨大的關(guān)斷損耗(Eoff?)。同時,IGBT必須并聯(lián)反向并聯(lián)二極管(FRD),該二極管在反向恢復(fù)過程中會產(chǎn)生巨大的反向恢復(fù)電荷(Qrr?)和反向恢復(fù)電流(Irrm?)。
相比之下,SiC MOSFET沒有拖尾電流。以基本半導(dǎo)體的BMF80R12RA3模塊為例,其反向恢復(fù)損耗極低,幾乎可以忽略不計(jì) 。
數(shù)據(jù)支撐:在800V/400A的測試條件下,基本半導(dǎo)體的BMF240R12E2G3模塊的總開關(guān)損耗(Etotal?)為25.24 mJ,而同規(guī)格的Si IGBT模塊損耗通常高出數(shù)倍。特別是反向恢復(fù)電荷Qrr?僅為0.59 μC,遠(yuǎn)低于競爭對手產(chǎn)品的1.24 μC 。極低的Qrr?不僅提升了效率,還大幅降低了EMI干擾,這對構(gòu)網(wǎng)型PCS的電磁兼容設(shè)計(jì)至關(guān)重要。
4. SiC功率器件在構(gòu)網(wǎng)型PCS中的關(guān)鍵應(yīng)用技術(shù)
本章將結(jié)合基本半導(dǎo)體的實(shí)際產(chǎn)品與技術(shù)資料,詳細(xì)闡述SiC器件如何解決構(gòu)網(wǎng)型PCS的工程痛點(diǎn)。
4.1 應(yīng)對高頻熱沖擊:先進(jìn)封裝與材料技術(shù)
構(gòu)網(wǎng)型PCS在進(jìn)行一次調(diào)頻或慣量響應(yīng)時,功率會在毫秒級內(nèi)發(fā)生劇烈波動,導(dǎo)致芯片承受劇烈的熱沖擊。傳統(tǒng)的焊接工藝和氧化鋁(Al2?O3?)陶瓷基板難以滿足20年壽命要求。



材料革新:
氮化硅(Si3?N4?)AMB基板:基本半導(dǎo)體的Pcore?6和62mm系列模塊全線引入高性能Si3?N4?活性金屬釬焊(AMB)陶瓷基板 1。
性能對比:Al2?O3?的熱導(dǎo)率僅為24 W/mK,抗彎強(qiáng)度450 MPa;而Si3?N4?的熱導(dǎo)率高達(dá)90 W/mK,抗彎強(qiáng)度達(dá)到700 MPa 1。
應(yīng)用價值:在1000次極嚴(yán)酷的溫度沖擊試驗(yàn)后,Si3?N4?基板保持良好的結(jié)合強(qiáng)度,未出現(xiàn)銅箔分層,而傳統(tǒng)基板早已失效。這對于經(jīng)常處于變載工況的構(gòu)網(wǎng)型PCS至關(guān)重要。
銀燒結(jié)與高溫焊料:為了配合SiC芯片耐高溫的特性(Tj,max?=175°C),先進(jìn)模塊采用了銀燒結(jié)工藝替代傳統(tǒng)錫鉛焊料,大幅降低了熱阻,提升了功率循環(huán)壽命。
5. SiC功率器件的可靠性驗(yàn)證與評估體系
構(gòu)網(wǎng)型儲能系統(tǒng)通常作為關(guān)鍵基礎(chǔ)設(shè)施,要求具備極高的可靠性。SiC作為新技術(shù),其可靠性驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)(如AQG324)比傳統(tǒng)硅基器件更為嚴(yán)苛。基于提供的可靠性試驗(yàn)報告,我們可以深入分析SiC器件的工程成熟度。
5.1 靜態(tài)與動態(tài)壽命測試
針對SiC MOSFET特有的失效機(jī)理,必須進(jìn)行針對性的加嚴(yán)測試。
HTRB(高溫反偏)與HTGB(高溫柵偏) :在Tj?=175°C的極限結(jié)溫下,分別對漏源極施加1200V高壓,對柵極施加+22V/-10V偏壓,持續(xù)1000小時。基本半導(dǎo)體的B3M013C120Z通過了該測試,且參數(shù)零漂移,證明了其柵氧質(zhì)量和耐壓終端設(shè)計(jì)的穩(wěn)定性 1。
H3TRB(高溫高濕反偏) :考慮到海上風(fēng)電或潮濕環(huán)境的儲能應(yīng)用,在85°C/85%RH環(huán)境下施加960V高壓。測試結(jié)果顯示無腐蝕、無擊穿,驗(yàn)證了封裝的氣密性和鈍化層質(zhì)量 。
5.2 動態(tài)柵極應(yīng)力(DGS)與動態(tài)反偏(DRB)
這是針對SiC高頻應(yīng)用特有的測試項(xiàng)目,用于評估開關(guān)過程中的陷阱效應(yīng)和界面態(tài)退化。
DGS測試:使用dVGS?/dt>0.6V/ns的高速驅(qū)動信號,在250kHz的高頻下連續(xù)開關(guān)300小時(累計(jì)1.08×1011次循環(huán))。
DRB測試:模擬逆變器實(shí)際工況,以50V/ns的dV/dt進(jìn)行硬開關(guān)測試。
測試結(jié)論:基本半導(dǎo)體產(chǎn)品順利通過上述動態(tài)測試 。這意味著在構(gòu)網(wǎng)型PCS的高頻操作中,器件不會因?yàn)轭l繁的充放電導(dǎo)致閾值電壓漂移或?qū)娮柙黾樱WC了長周期的控制精度。
5.3 間歇工作壽命(IOL)
IOL測試模擬設(shè)備啟停和負(fù)載變化引起的熱應(yīng)力。在ΔTj?≥100°C的條件下循環(huán)15000次。這一指標(biāo)直接對應(yīng)儲能電站每天“兩充兩放”的實(shí)際工況,驗(yàn)證了鍵合線和焊接層的抗疲勞能力 。
6. 系統(tǒng)級應(yīng)用案例與經(jīng)濟(jì)性分析
6.1 工商業(yè)儲能PCS設(shè)計(jì)案例
針對當(dāng)前火熱的工商業(yè)儲能市場,基本半導(dǎo)體提出了全碳化硅的PCS解決方案 。
主功率逆變級:模塊BMF240R12E2G3。
方案優(yōu)勢:相比IGBT方案,SiC方案將開關(guān)頻率提升至30kHz以上。這使得LCL濾波器的電感量和體積減小了50%以上,直接降低了銅材和磁芯的成本。
輔助電源與驅(qū)動:甚至在輔助電源環(huán)節(jié)也采用了SiC MOSFET(B2M600170H),配合BTD5350系列高抗噪隔離驅(qū)動芯片,構(gòu)建了完整的全SiC生態(tài)系統(tǒng) 。
6.2 構(gòu)網(wǎng)型PCS的仿真對比分析
為了量化SiC的價值,我們引用一組基于62mm半橋模塊的仿真數(shù)據(jù),對比對象為SiC MOSFET(BMF540R12KA3)與同規(guī)格的高速Si IGBT模塊 。
工況設(shè)定:直流母線800V,輸出電流300A,散熱器溫度80°C。
結(jié)果對比:
Si IGBT系統(tǒng):在6kHz開關(guān)頻率下,IGBT的總損耗高達(dá)1119W,結(jié)溫已接近失效邊緣。
SiC MOSFET系統(tǒng):即便將開關(guān)頻率倍增至12kHz,SiC模塊的單管總損耗僅為242W,降低了78% 。結(jié)溫僅為109°C,擁有巨大的熱裕量。
系統(tǒng)效率:SiC方案的整機(jī)效率達(dá)到99.39% ,而IGBT方案僅為97.25% 。對于吉瓦時(GWh)級別的儲能電站,2%的效率提升意味著全生命周期內(nèi)數(shù)千萬元的電費(fèi)節(jié)省。
6.3 頻率與電流能力的解耦
在仿真任務(wù)3中 ,展示了輸出電流能力隨開關(guān)頻率的變化曲線。
IGBT的局限:隨著頻率從2kHz增加到10kHz,IGBT的電流輸出能力呈斷崖式下跌,限制了其在高頻構(gòu)網(wǎng)型應(yīng)用中的潛力。
SiC的優(yōu)勢:SiC MOSFET的電流能力隨頻率變化非常平緩。這意味著設(shè)計(jì)人員可以自由選擇更高的開關(guān)頻率來優(yōu)化動態(tài)響應(yīng),而無需犧牲功率容量。
7. 結(jié)論與展望
深圳市傾佳電子有限公司(簡稱“傾佳電子”)是聚焦新能源與電力電子變革的核心推動者:
傾佳電子成立于2018年,總部位于深圳福田區(qū),定位于功率半導(dǎo)體與新能源汽車連接器的專業(yè)分銷商,業(yè)務(wù)聚焦三大方向:
新能源:覆蓋光伏、儲能、充電基礎(chǔ)設(shè)施;
交通電動化:服務(wù)新能源汽車三電系統(tǒng)(電控、電池、電機(jī))及高壓平臺升級;
數(shù)字化轉(zhuǎn)型:支持AI算力電源、數(shù)據(jù)中心等新型電力電子應(yīng)用。
公司以“推動國產(chǎn)SiC替代進(jìn)口、加速能源低碳轉(zhuǎn)型”為使命,響應(yīng)國家“雙碳”政策(碳達(dá)峰、碳中和),致力于降低電力電子系統(tǒng)能耗。


7.1 研究總結(jié)
本報告通過對構(gòu)網(wǎng)型PCS技術(shù)路線的梳理和碳化硅功率器件特性的深度剖析,得出以下核心結(jié)論:
構(gòu)網(wǎng)型PCS是新型電力系統(tǒng)的剛需,其技術(shù)特征要求底層功率器件具備更高的高頻、高壓和熱循環(huán)能力。
SiC MOSFET是打破硅基極限的關(guān)鍵。憑借超低的開關(guān)損耗、零反向恢復(fù)特性以及卓越的高溫穩(wěn)定性,SiC器件解決了構(gòu)網(wǎng)型PCS效率與動態(tài)響應(yīng)之間的矛盾。
技術(shù)成熟度已達(dá)商用標(biāo)準(zhǔn)。采用Si3?N4? AMB基板解決熱可靠性,以及通過嚴(yán)格的DGS/IOL可靠性測試,國產(chǎn)SiC模塊(如基本半導(dǎo)體Pcore系列)已具備在嚴(yán)苛電網(wǎng)環(huán)境下長期運(yùn)行的能力。
7.2 未來展望
電壓等級進(jìn)一步提升:隨著3300V及以上高壓SiC器件的研發(fā),未來構(gòu)網(wǎng)型PCS有望直接接入中壓配電網(wǎng),省去工頻升壓變壓器,實(shí)現(xiàn)“高壓直掛”的級聯(lián)型拓?fù)洹?/p>
智能功率模塊(IPM) :未來的SiC模塊將集成電流、溫度、健康狀態(tài)(SOH)監(jiān)測功能,與構(gòu)網(wǎng)型控制算法深度耦合,實(shí)現(xiàn)器件級的智能運(yùn)維與壽命預(yù)測。
成本與規(guī)模效應(yīng):隨著8英寸SiC晶圓產(chǎn)能的釋放,SiC與Si的成本差距將進(jìn)一步縮小。考慮到系統(tǒng)BOS成本的節(jié)省(散熱、磁件、外殼)和全生命周期電費(fèi)收益(OPEX),全SiC構(gòu)網(wǎng)型PCS的綜合經(jīng)濟(jì)性拐點(diǎn)已經(jīng)到來。
綜上所述,碳化硅功率器件不僅是構(gòu)網(wǎng)型儲能變流器的性能倍增器,更是推動電網(wǎng)從“跟網(wǎng)”向“構(gòu)網(wǎng)”轉(zhuǎn)型的核心硬件引擎。
附錄:關(guān)鍵數(shù)據(jù)對比表
表1:1200V SiC MOSFET與競品靜態(tài)參數(shù)對比
| 參數(shù) | 單位 | Basic Semi (BMF240) | 競品 W (SiC) | 競品 I (IGBT) | 備注 |
|---|---|---|---|---|---|
| 擊穿電壓 BVDSS? | V | 1627 | 1531 | 1404 | 更高的耐壓余量,適應(yīng)1500V系統(tǒng)波動 |
| 閾值電壓 VGS(th)? | V | 4.31 | 3.00 | 4.05 | 高閾值,抗干擾能力更強(qiáng) |
| 導(dǎo)通電阻 RDS(on)? (25°C) | mΩ | 5.70 | 4.03 | 4.41 | 優(yōu)異的低導(dǎo)通損耗 |
| 導(dǎo)通電阻 RDS(on)? (150°C) | mΩ | 8.51 | 7.67 | 8.25 | 高溫下電阻漂移小,熱穩(wěn)定性好 |
| 漏電流 IDSS? | μA | 6.04 | 0.13 | 0.22 | 處于安全范圍,略高于競品 |
表2:開關(guān)損耗性能對比(800V/400A工況)
| 參數(shù) | 單位 | Basic Semi (BMF240) | 競品 W | 競品 I | 技術(shù)解讀 |
|---|---|---|---|---|---|
| 開通延遲 Td(on)? | ns | 53.56 | 51.38 | 38.63 | 響應(yīng)速度相當(dāng) |
| 開通損耗 Eon? | mJ | 18.48 | 15.55 | 15.39 | 略高,可通過軟開關(guān)技術(shù)優(yōu)化 |
| 關(guān)斷損耗 Eoff? | mJ | 6.76 | 10.87 | 8.85 | 顯著低于競品,高頻應(yīng)用優(yōu)勢明顯 |
| 總開關(guān)損耗 Etotal? | mJ | 25.24 | 26.42 | 24.24 | 綜合能效處于國際領(lǐng)先水平 |
| 反向恢復(fù)電荷 Qrr? | μC | 0.59 | 1.24 | 0.55 | 極低的反向恢復(fù),大幅降低EMI |
表3:可靠性測試結(jié)果(B3M013C120Z)
| 測試項(xiàng)目 | 測試條件 | 持續(xù)時間/次數(shù) | 樣本數(shù) | 失效數(shù) | 結(jié)果 |
|---|---|---|---|---|---|
| HTRB (高溫反偏) | 175°C,1200V | 1000小時 | 77 | 0 | 通過 |
| H3TRB (高濕反偏) | 85°C,85%RH,960V | 1000小時 | 77 | 0 | 通過 |
| IOL (間歇壽命) | ΔTj?≥100°C | 15000次循環(huán) | 77 | 0 | 通過 |
| TC (溫度循環(huán)) | ?55°C~150°C | 1000次循環(huán) | 77 | 0 | 通過 |
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