為進一步滿足市場對850nm波段光器件精準測量的需求，昊衡科技FLA系列光纖鏈路分析儀拓展850nm測量新波段，為多模光纖鏈路、850nm光器件及芯片級樣品提供一套更高效、更全面的檢測解決方案。

FLA系列光纖鏈路分析儀

850nm波段的高性能測量

產品參數如下：

測量長度：500m

空間分辨率：2mm

中心波長：850nm

回損動態范圍：70dB

回損重復精度：±0.5dB

插損動態范圍：15dB

插損重復精度：±0.2dB

單次測量時間：＜15s

（支持定制200微米空間分辨率，測量長度50米的型號，詳情可聯系我司咨詢）

多元應用場景，賦能產業全環節

光器件精準測試：可對500米內的850nm光器件進行精確的長度定位以及插損、回損一體化測試，為器件性能評估提供可靠數據。

分布式鏈路診斷與失效分析：能夠對整條850nm多模光纖鏈路進行分布式測量，快速定位并分析連接點、斷裂點、彎曲損耗等故障或性能劣化點。

全面支持多模光纖：支持850nm窗口的多模光纖測量，確保結果的準確性與可靠性。

芯片級高精度定制方案：針對前沿科研與高端制造可提供50米內200微米超高空間分辨率的定制型號，專攻850nm波段芯片級樣品的精密測量。

昊衡科技FLA光纖鏈路分析儀本次850nm波段拓展，實現了從常規到特殊光纖鏈路的需求覆蓋。無論是通信工程、光器件生產，還是科研領域的高精度檢測，都能提供穩定、精準、高效的測量支持，為用戶創造更高檢測價值。