該AFE0256是一款 256 通道模擬前端 (AFE),旨在滿足以下要求: 基于平板探測器 (FPD) 的數字 X 射線系統。該器件包括 256 個積分器、一個 用于滿量程電荷電平選擇的可編程增益放大器 (PGA),相關雙倍 具有雙庫、256:4模擬多路復用器和四個差分輸出的采樣器(CDS) 司機。
*附件:afe0256.pdf
該器件還具有四個 14 位逐次逼近寄存器 (SAR) 板載模數轉換器 (ADC)。來自ADC的串行數據可在以下位置獲得 SPI 格式。
硬件可選的集成極性允許正電荷或負電荷積分 并在系統設計中提供了更大的靈活性。Nap 功能可大幅節省功耗 這在電池供電系統中特別有用。
特性
- 256 個通道
- 片內14位ADC
- 高性能:
- 集成:
- 八個可選的滿量程范圍:
- 0.15 pC(最小值)至 9.6 pC(最大值)
- 內置相關雙采樣器
- 2 倍分箱可實現更快的吞吐量:
- 兩個相鄰通道的平均電荷
- 流水線集成和讀?。?
- 允許在集成期間讀取數據
- 八個可選的滿量程范圍:
- 靈活性:
- 電子和空穴積分
- 為外部
高分辨率ADC提供模擬輸出
- 低功耗:
- 每通道2.9 mW(帶ADC)
- 每通道2.3 mW(不含ADC)
- 0.1 mW(午睡模式下每通道)
- 全面掉電功能
- 22 mm × 5 mm 鍍金芯片,適用于
磁帶載體封裝 (TCP) 或薄膜芯片 (COF)
參數
AFE0256 是一款 256 通道模擬前端(AFE),專為平板數字 X 射線探測器設計,集成 14 位 SAR ADC、積分器、相關雙采樣器(CDS)等模塊,支持高分辨率電荷檢測與快速數據采集。
核心參數與性能
- 通道與分辨率 :256 個并行通道,內置 4 個 14 位 SAR ADC,積分非線性(INL)±1.25 LSB;支持 8 檔滿量程電荷范圍(0.15 pC-9.6 pC),28 pF 傳感器電容、1.2 pC 量程下噪聲僅 758 eRMS。
- 采集速度 :正常模式最小掃描時間 37.9 μs,2 倍合并(Binning)模式下縮短至 26 μs;支持流水線式積分與讀取,可在積分過程中同步讀取數據,提升吞吐量。
- 功耗特性 :開啟 ADC 時單通道功耗 2.9 mW,關閉 ADC 時 2.3 mW;休眠模式(Nap Mode)單通道功耗 0.1 mW,支持全芯片掉電功能,適配低功耗需求。
封裝與供貨
- 采用 22 mm×5 mm 金凸點裸片封裝,適用于載帶封裝(TCP)或膜上芯片(COF)工藝,無傳統引腳設計。
- 在售型號為 AFE0256GBTD 與 AFE0256GBTD.A,以 39 片 / 管的形式供貨,符合 RoHS 標準,MSL 等級 1(260°C 回流焊無限制),工作溫度 0°C 至 85°C。
核心功能與特性
- 靈活積分與采樣 :支持電子與空穴積分,硬件可選擇積分極性;內置相關雙采樣器(CDS),減少噪聲與偏移誤差;2 倍合并模式可平均相鄰兩通道電荷,平衡速度與分辨率。
- 數據輸出 :ADC 數據以 SPI 格式串行輸出,同時提供模擬輸出接口,可搭配外部高分辨率 ADC 使用;通過 256:4 模擬多路復用器與差分輸出驅動器傳輸信號。
- 系統適配 :專為平板 X 射線探測器優化,兼容高電容傳感器,支持電池供電系統,休眠模式大幅降低待機功耗。
典型應用場景
- 平板數字 X 射線探測器、醫療影像設備、高通道數電荷檢測系統。
設計要點
- 支持芯片級集成(TCP/COF 工藝),需注意金凸點焊接工藝與 PCB 熱設計。
- 需根據傳感器電容與電荷量程需求,配置合適的滿量程檔位,平衡噪聲與動態范圍。
- 利用休眠模式與掉電功能優化系統功耗,尤其適用于便攜式醫療設備。
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