該ADS4245是ADS42xx超低功耗系列雙通道14位模數轉換器(ADC)的低速變體。采用創新的設計技術實現高動態性能,同時在 1.8V 電源下消耗極低的功耗。這種拓撲結構使ADS4245非常適合多載波、寬帶寬通信應用。
該ADS4245具有增益選項,可用于在較低滿量程輸入范圍內提高SFDR性能。這些器件包括一個直流失調校正環路,可用于抵消ADC失調。DDR(雙倍數據速率)LVDS和并行CMOS數字輸出接口均采用緊湊的VQFN-64 PowerPAD?封裝。
該器件包括內部基準電壓源,而傳統的基準引腳和相關的去耦電容器已被取消。該ADS4245在軍用溫度范圍(–55°C 至 125°C)范圍內指定。
*附件:ads4245-ep.pdf
特性
- 超低功耗,單電源 1.8V,CMOS 輸出:
- 125MSPS 時總功率為 277mW
- 高動態性能:
- 170MHz時為88dBc SFDR
- 170MHz時為71.4dBFS SNR
- 串擾:185MHz時>90dB
- 可編程增益高達6dB,用于SNR/SFDR權衡
- 直流偏移校正
- 輸出接口選項:
- 1.8V并行CMOS接口
- 具有可編程擺幅的雙倍數據速率 (DDR) LVDS:
- 標準擺動:350mV
- 低擺幅:200mV
- 支持低至200mV的低輸入時鐘幅度
聚丙烯 - 支持國防、航空航天和醫療應用
- 受控基線
- 一個組裝和測試站點
- 一個制造現場
- 提供軍用(–55°C 至 125°C)溫度范圍
- 延長產品生命周期
- 擴展產品變更通知
- 產品可追溯性
參數
方框圖

ADS4245-EP 是德州儀器推出的超低功耗雙路 14 位模數轉換器(ADC),核心優勢為寬溫工作、高動態性能及靈活輸出接口,符合軍工級標準,適用于無線通信基礎設施、軟件無線電、功率放大器線性化等對功耗和可靠性要求嚴苛的場景。
一、核心產品參數
1. 基礎規格
- 分辨率與通道:14 位分辨率,2 個獨立差分模擬輸入通道
- 采樣與數據速率:最高 125 MSPS 采樣率(低速模式 1-80 MSPS),支持 DDR LVDS(最高 350Mbps 擺幅)和并行 CMOS 輸出
- 封裝與溫度:64 引腳 VQFN 封裝(9mm×9mm);工作溫度 -55°C 至 125°C,結溫最高 150°C,符合軍工級溫度標準
- 電源與功耗:單 1.8V 供電(模擬 / 數字電源均為 1.7V-1.9V),125 MSPS 時總功耗僅 277 mW,全局掉電功耗低至 20 mW
2. 性能特性
- 靜態性能:微分非線性(DNL)典型 ±0.5 LSB,積分非線性(INL)典型 ±2 LSB,無丟失碼;偏移誤差典型 ±2.5 mV
- 動態性能:170 MHz 輸入、-1 dBFS 時,信噪比(SNR)典型 71.4 dBFS,無雜散動態范圍(SFDR)典型 88 dBc,三階交調失真(IMD3)典型 -96 dBFS
- 輸入特性:差分滿量程輸入范圍 2 Vpp,輸入帶寬 550 MHz,輸入電容 3.7 pF,通道間串擾 >90 dB(185 MHz 時)
- 噪聲特性:噪聲譜密度(NSD)優異,總諧波失真(THD)典型 88 dBc(170 MHz 輸入)
3. 關鍵功能參數
- 接口與控制:支持 DDR LVDS(標準 350mV / 低 200mV 擺幅)和 1.8V 并行 CMOS 接口;4 線 SPI 配置接口(支持 1.8V/3.3V 邏輯)
- 增益與校正:可編程增益 0-6 dB(0.5 dB 步進),支持 SFDR/SNR 權衡;內置 DC 偏移校正(±10mV 校正范圍)
- 輔助功能:高速 / 高性能模式切換,通道獨立掉電 / 待機模式,支持二進制補碼 / 偏移二進制輸出格式
二、關鍵功能特性
1. 低功耗與寬溫適應
- 超低功耗設計:采用創新架構,125 MSPS 采樣時總功耗僅 277 mW,待機模式功耗 200 mW,全局掉電功耗 20 mW
- 軍工級可靠性:工作溫度覆蓋 -55°C 至 125°C,ESD 防護等級 ±2000V(HBM),滿足國防、航空航天應用要求
- 電源抗干擾:電源抑制比(PSRR)>30 dB,對電源噪聲敏感度低,適應復雜供電環境
2. 高動態性能優化
- 增益可調:0-6 dB 可編程增益,高輸入頻率下可顯著提升 SFDR 性能,滿量程輸入范圍隨增益成比例調整
- 偏移校正:內置偏移校正環路,支持時間常數配置(1M-2G 時鐘周期),可凍結校正結果,抵消 ADC 偏移誤差
- 模式適配:支持高頻模式(>200MHz 輸入優化)和高性能模式,適配不同頻率場景的動態性能需求
3. 靈活接口與配置
- 雙輸出接口:DDR LVDS 支持 100Ω 差分終端,擺幅可編程(125mV-570mV);并行 CMOS 接口每 bit 獨立輸出,負載電容最大 5 pF
- 多重配置方式:支持 SPI 串行配置(寄存器讀寫)和并行引腳配置(RESET/SEN/SCLK 直接控制),支持寄存器讀回診斷
- 電源管理:支持全局掉電、通道待機和低速模式,喚醒時間 50μs(待機)-500μs(全局掉電)
三、典型應用場景
四、設計與使用建議
1. 輸入與時鐘設計
- 輸入調理:建議差分驅動,輸入共模電壓參考 VCM 引腳(0.95V);高頻輸入(>150MHz)可串聯 5-15Ω 電阻抑制寄生振蕩
- 時鐘配置:CLKIN 支持差分(LVDS/LVPECL)或單端 CMOS 輸入,最小擺幅 200 Vpp;建議采用低抖動時鐘源,高頻采樣時需優化時鐘相位
- 同步配置:通道間孔徑延遲匹配 ±70 ps,多器件同步可通過 SPI 配置時序參數
2. 接口與配置
- 輸出選擇:高速傳輸優先選 DDR LVDS(減少布線數量),短距離低成本場景可選并行 CMOS;LVDS 需匹配 100Ω 差分終端
- 增益與校正:高輸入頻率場景建議啟用 3-6 dB 增益提升 SFDR;直流信號采集啟用偏移校正,根據采樣率配置時間常數
- 功耗優化:非工作時段啟用通道待機或全局掉電模式,低速場景切換至低速模式(1-80 MSPS)進一步降低功耗
3. 電源與布線
- 電源配置:模擬與數字電源共地,無需隔離;每個電源引腳就近并聯 0.1μF+10μF 去耦電容,確保供電穩定
- PCB 布局:差分信號對(INP/INM、CLKIN 對)緊密平行布線,減少長度差;暴露熱焊盤(PowerPAD)需焊接至地平面,優化散熱
- 抗干擾設計:模擬區域與數字區域嚴格分區,時鐘線與信號線垂直交叉,避免串擾。
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