16位DAC81401和12位DAC61401(DACx1401)器件是引腳兼容的單通道、緩沖、高壓輸出數模轉換器(DAC)系列,集成了2.5V內部基準電壓源。這些器件指定為單調,并提供小于1LSB(最大值)的卓越線性度。
DACx1401 提供 ±20V、±10V、±5V 的雙極性輸出電壓,以及 40V、10V 和 5V 的滿量程單極性輸出電壓。DAC 輸出范圍是可編程的。
*附件:dac61401.pdf
DACx1401 集成了一個上電復位 (POR) 電路,可為 DAC 輸出供電,并使器件保持掉電模式,直到輸出使能。
與器件的通信通過與行業標準微處理器和支持 1.7V 至 5.5V作的微控制器兼容的高速 4 線串行接口完成。
DACx1401 的工作溫度范圍為 –55°C 至 +125°C,采用小型 16 引腳 QFN 和 20 引腳 TSSOP 封裝。
特性
- 卓越性能:1LSB INL/DNL(最大)
- 超低毛刺能量:1nV-s
- 寬電源:
- 單極模式:+4.5V 至 +41.5V
- 雙極性模式:±4.5V 至 ±21.5V
- 14 個用戶可編程輸出范圍
- ±5V、±10V、±20V
- 0V 至 5V、0V 至 10V、0V 至 20V、0V 至 40V
- 20% 超量程(±20V 和 0V 至 40V 除外)
- 集成 10ppm/°C、2.5V 精密基準電壓源
- 可靠性特點:
- 循環冗余校驗 (CRC)
- 故障引腳
- 50MHz、4線SPI兼容接口
- 回讀
- 菊花鏈
- 溫度范圍:–55°C 至 +125°C
- 包:
- 20 引腳 TSSOP (PW)
- 16引腳WQFN(RTE)
參數
方框圖
一、產品概述
DAC61401(12 位)與 DAC81401(16 位)是德州儀器推出的單通道高壓輸出數模轉換器(DAC) 系列,核心優勢在于高精度(INL/DNL 最大 1LSB)、寬輸出范圍(單極性 040V / 雙極性 ±20V)及集成精密基準源,專為半導體測試、工業控制、實驗室儀器等高壓高精度場景設計。通過可編程增益輸出緩沖、SPI 接口及故障檢測功能,在簡化系統設計的同時,確保全溫域(-55125°C)下的穩定性與可靠性。
二、核心特性
(一)高精度與高壓輸出
- 分辨率與線性度 :DAC61401 為 12 位,DAC81401 為 16 位,兩者均保證單調特性,積分非線性(INL)與微分非線性(DNL)最大 1LSB,全溫域總未調整誤差(TUE)最大 0.05% FSR,滿足精密測量需求;
- 輸出范圍 :支持 14 種用戶可編程輸出范圍,覆蓋單極性(0
5V/10V/20V/40V,部分范圍支持 20% 超量程,如 05V 可擴展至 0~6V)與雙極性(±5V/±10V/±20V),適配不同高壓驅動場景; - 動態性能 :超低毛刺能量(1nV?s),5V 量程下建立時間 7μs(±2LSB),40V 量程下 22μs(±2LSB),壓擺率最高 4V/μs(非 40V 量程),確保高速響應。
(二)低功耗與靈活供電
- 功耗優化 :正常模式下模擬供電電流(IAVDD)最大 1.6mA,數字供電電流(IVDD)最大 2.5mA,全局掉電模式功耗僅 10μA,支持分模塊掉電(如關閉內部基準、DAC 輸出)進一步降低功耗;
- 供電配置 :需四電源供電,模擬正電源(AVDD)4.5
41.5V、模擬負電源(AVSS)-21.50V(雙極性模式需負電源)、數字核心電源(VDD)4.55.5V、接口電源(IOVDD)1.75.5V,電源序列無強制要求,簡化系統供電設計。
(三)集成精密基準與故障防護
- 內部基準 :集成 2.5V 精密基準源,溫度漂移最大 10ppm/°C,輸出噪聲(0.1~10Hz)典型值 30μVpp,支持外部基準輸入(VREFIO 引腳),適配更高精度需求場景;
- 故障檢測 :具備循環冗余校驗(CRC)、溫度告警(結溫超 140°C 觸發)、DAC 忙狀態指示功能,FAULT 引腳(開漏輸出)可配置為故障告警輸出,支持 CRC 錯誤、溫度超限、DAC 忙等多觸發源;
- 可靠性設計 :輸出短路保護(短路電流限制 40mA),ESD 防護符合 HBM±1000V/CDM±500V 標準,確保工業環境下的抗干擾能力。
(四)靈活的數字接口與控制
- SPI 接口 :支持 50MHz 高速 4 線 SPI(SCLK/SDIN/SDO/SYNC),兼容 1.7~5.5V 邏輯電平,支持寄存器讀寫、數據回讀及菊花鏈(Daisy-Chain)多器件級聯,適配多通道同步控制;
- 配置功能 :通過寄存器可配置輸出范圍、基準源(內部 / 外部)、掉電模式、CRC 校驗等,支持軟件復位與軟件清除(清零代碼 / 中量程代碼),適配動態系統調整需求。
三、器件信息與電氣規格
(一)型號差異與封裝
| 型號 | 分辨率 | 封裝類型 | 引腳數 | 工作溫度 | 關鍵差異 |
|---|---|---|---|---|---|
| DAC61401 | 12 位 | 20 引腳 TSSOP(PW)、16 引腳 WQFN(RTE) | -55~125°C | 無超量程擴展至 ±20V/0~40V,功耗較 16 位型號低約 15% | |
| DAC81401 | 16 位 | 20 引腳 TSSOP(PW)、16 引腳 WQFN(RTE) | -55~125°C | 支持全范圍超量程,更高分辨率,適合精密高壓控制 |
(二)熱學特性(典型值)
| 封裝類型 | 結到環境熱阻(RθJA) | 結到頂部外殼熱阻(RθJC (top)) | 結到板熱阻(RθJB) |
|---|---|---|---|
| 20 引腳 TSSOP(PW) | 36.0°C/W | 21.7°C/W | 17.9°C/W |
| 16 引腳 WQFN(RTE) | 19.0°C/W | 30.2°C/W | 18.9°C/W |
(三)核心電氣參數(TA=-40~125°C,AVDD=15V,AVSS=-15V,VREF=2.5V)
| 參數 | DAC61401(12 位) | DAC81401(16 位) | 測試條件 |
|---|---|---|---|
| INL(最大) | 1LSB | 1LSB | 全量程,-40~125°C |
| DNL(最大) | 1LSB | 1LSB | 全量程,-40~125°C |
| 增益誤差(最大) | ±0.075%FSR | ±0.075%FSR | 外部基準,25°C |
| 增益溫度漂移 | ±3ppm/°C | ±3ppm/°C | 外部基準 |
| 輸出噪聲(0.1~10Hz) | 30μVpp | 25μVpp | 10V 量程,內部基準 |
| 輸出電流能力 | ±10mA(AVDD≤5.5V) | ±10mA(AVDD≤5.5V) | 負載電流范圍,保證線性 |
| 電源抑制比(PSRR-AC) | 75dB | 75dB | 60Hz,±10V 輸出 |
四、功能模塊詳解
(一)模擬輸出與基準模塊
- R-2R 梯形 DAC 架構
- 采用分段式 R-2R 梯形網絡,配合專用基準緩沖器,確保輸入阻抗恒定(參考引腳 VREFIO 阻抗典型值 50kΩ),通過生產校準實現低非線性;
- 輸出緩沖放大器支持軌到軌輸出,單極性模式下輸出阻抗 0.05Ω,雙極性模式下 0.05Ω,負載調整率 50μV/mA,保證大負載下的電壓穩定性。
- 基準源配置
- 內部基準 :默認掉電狀態,需通過 GENCONFIG 寄存器(0x04)啟用,輸出 2.5V(±0.1% 精度),支持 5mA 負載電流,VREFIO 引腳需并聯 150nF 濾波電容;
- 外部基準 :需將內部基準掉電,外部 2.5V 基準接入 VREFIO 引腳,推薦使用高精度基準源(如 REF5025),此時增益誤差溫度漂移降至 - 35ppm/°C,提升長期穩定性。
- 高壓輸出與保護
- 輸出級支持 ±15mA 驅動電流(AVDD>5.5V 時),具備 1.5V 電源裕量(輸出離電源軌 1.5V 內仍保證線性);
- 短路保護:輸出短路至 AVSS/AVDD 時,電流限制 40mA(AVDD>5.5V),避免器件損壞,短路狀態下結溫可能超上限,需避免長期短路。
(二)數字信號處理與控制
- 可編程增益輸出
- 輸出增益隨量程自動配置,如 0~5V 量程增益 2.0、±5V 量程增益 4.0、40V 量程增益 16.0,輸出電壓計算公式如下:
- 單極性:VOUT ? =2NCODE?**×VREFIO ? ×GAIN**(CODE 為十進制輸入代碼,N 為分辨率)
- 雙極性:VOUT ? =(2N2**×CODE?**? 1 )×VREFIO?**×GAIN**
- 支持負載電壓 sensing(VSENSEP 引腳),通過反饋補償 PCB 線路壓降,確保負載端電壓精度。
- 輸出增益隨量程自動配置,如 0~5V 量程增益 2.0、±5V 量程增益 4.0、40V 量程增益 16.0,輸出電壓計算公式如下:
- 故障檢測與告警
- 溫度告警 :結溫超 140°C 時觸發熱關斷,TEMP-ALM bit 置 1,DAC 輸出進入掉電模式,需通過 ALM-RESET bit 清除告警;
- CRC 校驗 :啟用后 SPI 幀擴展為 32 位(含 8 位 CRC-8 校驗),CRC 錯誤時 CRC-ALM bit 置 1,FAULT 引腳可配置為低電平告警;
- DAC 忙指示 :DAC 更新期間 DAC-BUSY bit 置 1,FAULT 引腳可配置為忙狀態指示,避免連續更新導致數據錯誤。
- 掉電模式
- 支持全局掉電(DEV-PWDWN)與 DAC 單獨掉電(DAC-PWDWN),掉電時 DAC 輸出通過 10kΩ 電阻接地,寄存器數據保持,恢復后輸出恢復至掉電前值;
- 掉電電流:AVDD/AVSS 掉電電流最大 10μA,VDD/IOVDD 掉電電流最大 10μA,適合低功耗待機場景。
(三)SPI 接口與寄存器控制
- 多接口模式
- 標準 SPI :24 位幀(1 位 R/W+1 位保留 + 6 位地址 + 16 位數據),支持讀寫寄存器,SCLK 最高 50MHz(IOVDD=2.7~5.5V 時);
- 菊花鏈模式 :多器件通過 SDO 級聯,需滿足 24×N 個 SCLK 周期(N 為器件數),SYNC 高電平時數據鎖存至各器件;
- CRC 模式 :32 位幀(1 位 R/W+1 位 CRC-ERROR+6 位地址 + 16 位數據 + 8 位 CRC),用于噪聲環境下確保通信完整性。
- 關鍵寄存器 | 地址(十六進制)| 寄存器名稱 | 功能描述 ||----|----|----||0x02|STATUS | 狀態寄存器,顯示 CRC 告警、DAC 忙、溫度告警狀態 ||0x03|SPICONFIG|SPI 配置,控制故障引腳觸發源、掉電模式、CRC 使能 ||0x04|GENCONFIG | 通用配置,控制內部基準掉電 / 使能 ||0x0A|DACRANGE | 輸出量程配置,4 位字段選擇 14 種輸出范圍 ||0x0E|TRIGGER | 觸發寄存器,支持軟件復位、軟件清除、告警清除 ||0x10|DAC|DAC 數據寄存器,存儲 16 位輸入代碼(12 位型號高 4 位無效)|
五、典型應用場景
(一)半導體測試與 ATE 設備
- 應用架構 :DAC81401 通過 SPI 接收 FPGA 配置指令,輸出 0
40V 高壓信號,經外部運算放大器(如 OPA593)增益擴展至 080V,驅動半導體測試探針;VSENSEP 引腳反饋負載電壓,補償線路壓降;CRC 校驗確保配置指令無誤,溫度告警防止器件過熱; - 關鍵配置 :啟用內部基準(2.5V),配置 DAC 量程為 0
20V,外部放大器增益 4 倍,實現 080V 輸出;FAULT 引腳配置為溫度告警與 CRC 錯誤觸發,確保測試過程穩定; - 性能優化 :CCOMP 引腳并聯 470pF 電容,支持 1μF 負載電容,建立時間 1.2ms(±2LSB),滿足測試設備的高壓快速切換需求。
(二)工業 PLC 模擬輸出模塊
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