ADC3683-xEP 使用串行 LVDS (SLVDS) 接口輸出數據,從而最大限度地減少數字互連的數量。該器件支持雙通道、單通道和半通道選項。該器件采用 40 引腳 QFN 封裝 (5 mm x 5 mm),支持 -55 至 +105?C 的擴展溫度范圍
*附件:adc3683-sep.pdf
特性
- 耐輻射(僅限 -SEP):
- 單事件閂鎖 (SEL) 免疫高達 LET = 43 MeV-cm2/mg
- 單事件功能中斷 (SEFI) 表征高達 LET = 43 MeV-cm2/mg
- 總電離劑量 (TID):30 krad(Si)
- 增強型產品(-EP 和 -SEP):
- 符合 ASTM E595 釋氣規(guī)范
- 供應商物料圖紙 (VID)
- 溫度范圍:–55°C 至 105°C
- 一個制造、組裝和測試站點
- 金鍵合絲,NiPdAu 引線表面處理
- 晶圓批次可追溯性
- 延長產品生命周期
- 雙通道、65 MSPS ADC
- 18 位分辨率(無遺漏代碼)
- 本底噪聲:-160 dBFS/Hz
- 低功耗 94 mW/ch(65MSPS 時)
- 延遲:1-2 個時鐘周期
- INL:±7,DNL:±0.7 LSB(典型值)
- 參考選項:外部或內部
- 片上 DSP(可選/可旁路)
- 抽取 2、4、8、16、32
- 32 位 NCO
- 串行LVDS數字接口(2線、1線和1/2線)
- 小尺寸:40-QFN (5x5 mm) 封裝
- 頻譜性能 (fIN = 5MHz):
- 信噪比:83.8dBFS
- SFDR:89dBc HD2、HD3
- SFDR:101dBFS 最差支線
參數
方框圖

一、產品基礎信息與核心差異對比
ADC3683-SEP 與 ADC3683-EP 同屬 ADC3683-xEP 系列,核心架構均為 18 位雙通道 65MSPS ADC,共享低功耗、高動態(tài)范圍等特性,主要差異集中在抗輻射能力與應用場景,具體參數對比如下:
| 參數分類 | 參數名稱 | ADC3683-SEP(抗輻射型) | ADC3683-EP(增強型) | 系列共同特性 |
|---|---|---|---|---|
| 基礎性能 | 最大采樣速率 | 65MSPS / 通道 | 65MSPS / 通道 | 1. 18 位分辨率無失碼,INL±7LSB(典型值)、DNL±0.7LSB(典型值),全溫度范圍(-55°C 至 105°C)INL 最大 ±19LSB2. 低噪聲性能:噪聲譜密度 - 160dBFS/Hz,fIN=5MHz 時 SNR 典型 83.8dBFS,THD 典型 - 88dBc,無雜散動態(tài)范圍(SFDR)89dBc3. 寬輸入特性:差分輸入滿量程 3.2Vpp,共模電壓 0.9-1.0V(典型 0.95V),模擬輸入帶寬 200MHz(-3dB)4. 集成功能:內置 32 位 NCO 的數字下變頻器(DDC),支持 2/4/8/16/32 倍抽取;串行 LVDS 接口(2 路 / 1 路 / 1/2 路輸出),數據速率最高 1Gbps5. 低功耗設計:65MSPS 時每通道功耗 94mW,支持多檔位掉電模式,掉電時 AVDD 電流降至 0.2-2mA6. 快速響應: latency 低至 1-2 個時鐘周期,喚醒時間最短 1.7μs(外部基準 + 差分時鐘) |
| 基礎性能 | 典型總功耗(65MSPS) | 187-232mW(2 路模式) | 187-232mW(2 路模式) | |
| 抗輻射能力 | 單粒子鎖定(SEL) | 免疫,LET=43MeV-cm2/mg | 無 | |
| 抗輻射能力 | 單粒子功能中斷(SEFI) | LET=43MeV-cm2/mg | 無 | |
| 抗輻射能力 | 總電離劑量(TID) | 30krad(Si) | 無 | |
| 環(huán)境適應性 | 工作溫度范圍 | -55°C 至 105°C | -55°C 至 105°C | |
| 環(huán)境適應性 | _outgassing 特性 | 符合 ASTM E595 標準 | 符合 ASTM E595 標準 | |
| 電源與電流 | AVDD(1.8V)電流(65MSPS) | 63-82mA | 63-82mA | |
| 電源與電流 | IOVDD(1.8V)電流(65MSPS) | 41-47mA(2 路模式) | 41-47mA(2 路模式) |
二、關鍵功能特性詳解
1. 模擬輸入與信號調理
1.1 輸入特性與保護
- 輸入范圍與阻抗 :差分輸入滿量程 3.2Vpp,支持 AC/DC 耦合,輸入共模電壓需匹配 VCM 引腳(0.95V);差分輸入電阻 8kΩ(100kHz 時),輸入電容 7pF(100kHz 時),等效輸入網絡含采樣開關與寄生電容(如圖 7-1 所示),適配高頻信號。
- 線性度與誤差 :增益誤差(外部基準)典型 ±2.3% FSR,溫度漂移 68ppm/°C;失調誤差典型 ±130LSB,溫度漂移 ±0.2LSB/°C;轉換噪聲 5LSB,確保弱信號采集精度。
- 抗混疊與濾波 :需外部配置采樣毛刺濾波器,推薦方案分兩種:DC-30MHz 用 180nH 電感 + 100pF 電容,30-70MHz 用 120nH 電感 + 82pF 電容,抑制采樣噪聲對 SNR 的影響。
1.2 時鐘與基準配置
- 時鐘輸入 :支持差分 / 單端時鐘,差分時鐘需 0.5-3.6Vpp 差分電壓,共模電壓 0.9V;單端時鐘需 DC 耦合至 0.9V 中心電壓,未使用時鐘引腳需 AC 耦合接地;時鐘抖動敏感,外部時鐘抖動 100fs 時,fIN=20MHz 的 SNR 仍達 83.6dBFS。
- 基準配置 :支持三種基準模式:
2. 數字信號處理與接口功能
2.1 數字下變頻器(DDC)
- 核心構成 :集成 32 位 NCO 與數字混頻器,支持實抽取(低通濾波,無混頻)與復抽取(混頻 + 低通濾波),抽取倍數 2/4/8/16/32 可選,復抽取時信號幅度衰減 6dB,可通過 6dB 數字增益補償(寄存器 0x26 配置)。
- NCO 配置 :NCO 頻率范圍 ±FS/2,通過 32 位寄存器(0x2A-2D/0x31-34)配置,公式為;支持相位反轉(寄存器 0x25 [0]),配置后需觸發(fā) MIX_RES(0x26 [5/1])更新 NCO。
- 濾波特性 :復抽取時阻帶衰減≥85dB,通帶帶寬約 80% 輸出速率;實抽取通帶帶寬為復抽取的 1/2,適配不同帶寬需求的信號采集。
2.2 串行 LVDS 接口
- 接口模式 :支持三種輸出模式,通過寄存器 0x07 配置:
- 2 路模式:每通道分 2 路輸出,65MSPS 時 DCLK=585MHz,數據速率 292.5Mbps / 路。
- 1 路模式:每通道 1 路輸出,65MSPS 時 DCLK=585MHz,數據速率 585Mbps / 路。
- 1/2 路模式:雙通道共享 1 路輸出,65MSPS 時 DCLK=1.17GHz,數據速率 1.17Gbps / 路。
- 數據格式 :18 位結果以 24 位數據包輸出(MSB 優(yōu)先),支持二進制補碼(默認)/ 偏移二進制(寄存器 0x8F/0x92 配置),輸出分辨率 14-20 位可調(14/16 位截斷 LSB,20 位補 0)。
- 同步功能 :通過 PDN/SYNC 引腳或 SPI(寄存器 0x0E)同步多器件,同步信號需滿足 500ps 建立時間與 600ps 保持時間,確保多 ADC 通道對齊。
2.3 特殊功能
- 通道平均 :開啟后將兩通道輸入信號內部平均(A+B)/2,非相關噪聲降低 3dB,需配置 DDC MUX(0x24 [4:3]=11)與通道平均使能(0x24 [5]=1),適配高精度測量場景。
- 數據加擾 :2 路模式專屬功能,通過 XOR 操作隨機化數據(寄存器 0x22 [6] 使能),降低地彈噪聲對模擬性能的干擾,需重新配置位映射確保每路僅傳輸樣本的一半(如 D0-D8/D9-D17)。
- 測試模式 :支持固定圖案、斜坡圖案輸出(寄存器 0x14-16 配置),固定圖案由 18 位自定義數據(0x14-16)決定,斜坡步長需匹配分辨率(14 位用 0x00010,16 位用 0x00004,18 位用 0x00001)。
3. 抗輻射與可靠性(僅 ADC3683-SEP)
- 單粒子效應 :單粒子鎖定(SEL)免疫,LET 閾值 43MeV-cm2/mg;單粒子功能中斷(SEFI)LET 閾值 43MeV-cm2/mg,適應太空輻射環(huán)境。
- 總電離劑量 :耐受 30krad (Si),器件參數在輻射后仍保持穩(wěn)定,滿足衛(wèi)星等長壽命航天應用需求。
- 封裝與工藝 :采用 40 引腳 WQFN 封裝(5mm×5mm),金鍵合線、NiPdAu 引腳鍍層, wafer 批次可追溯,延長產品生命周期。
三、電氣規(guī)格詳情(典型值,TA=25°C,AVDD=IOVDD=1.8V,外部 1.6V 基準)
3.1 供電與電流特性
| 參數名稱 | 測試條件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|---|
| AVDD 電流 | 65MSPS,外部基準,2 路模式 | 63 | 72.5 | 82 | mA |
| IOVDD 電流 | 65MSPS,2 路模式 | 41 | 44 | 47 | mA |
| 總功耗 | 65MSPS,外部基準,2 路模式 | 187 | 209.5 | 232 | mW |
| 掉電電流(AVDD) | 全局掉電,外部基準 | 0.2 | 1.1 | 2 | mA |
| 掉電電流(IOVDD) | 全局掉電 | 0.1 | 1.05 | 2 | mA |
3.2 AC 性能指標(fIN=5MHz,-1dBFS 輸入)
| AC 性能參數 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|
| 信噪比(SNR) | 81.0 | 83.8 | - | dBFS |
| 信號噪聲失真比(SINAD) | - | 82.7 | - | dB |
| 總諧波失真(THD) | 80.5 | -88 | - | dBc |
| 無雜散動態(tài)范圍(SFDR) | 81.5 | 89 | - | dBc |
| 非二次 / 三次諧波 SFDR | 90 | 101 | - | dBFS |
| 三階互調失真(IMD3) | - | -89 | - | dBc(f1=10MHz,f2=12MHz) |
| 模擬輸入帶寬(-3dB) | - | 200 | - | MHz |
| 孔徑延遲 | - | 0.85 | - | ns |
| 孔徑抖動 | - | 180 | - | fsRMS |
3.3 數字接口電氣特性
| 接口類型 | 參數名稱 | 測試條件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| LVDS 輸出 | 差分輸出電壓(VOD) | RL=100Ω | 500 | 600 | 850 | mVpp |
| LVDS 輸出 | 共模電壓(VCM) | RL=100Ω | - | 1.0 | - | V |
| LVDS 輸入(DCLKIN) | 差分輸入電壓(VID) | - | 200 | 350 | 650 | mVpp |
| LVDS 輸入(DCLKIN) | 共模電壓(VCM) | - | 1.0 | 1.2 | 1.3 | V |
| SPI 接口(SCLK/SDIO) | 低電平輸入電壓(VIL) | - | -0.3 | - | 0.4 | V |
| SPI 接口(SCLK/SDIO) | 高電平輸入電壓(VIH) | - | 1.4 | - | 1.8 | V |
| SPI 接口(SDIO 輸出) | 低電平輸出電壓(VOL) | IOL=400μA | 0 | - | 0.1 | V |
| SPI 接口(SDIO 輸出) | 高電平輸出電壓(VOH) | IOH=-400μA | 1.7 | - | 1.8 | V |
四、寄存器配置體系
器件含多組寄存器,核心功能通過 SPI 配置,關鍵寄存器分類如下:
4.1 基礎配置寄存器
| 寄存器地址 | 寄存器名稱 | 核心功能 | 關鍵字段說明 |
|---|---|---|---|
| 0x00 | 復位寄存器 | 器件復位 | - RESET(bit0):1b 時復位所有寄存器,自動清零 |
| 0x07 | 輸出接口映射寄存器 | 接口模式選擇 | - OP_IF_SEL(bit2-0):011=2 路,100=1 路,101=1/2 路- OP_IF_EN(bit3):1b 使能接口模式切換 |
| 0x08 | 掉電控制寄存器 | 模塊掉電 | - PDN_GLOBAL(bit0):1b 使能全局掉電- PDN_A/B(bit2-1):1b 分別掉電通道 A/B |
| 0x0E | 同步與基準控制寄存器 | 同步與基準選擇 | - SYNC_PIN_EN(bit7):1b 將 PDN/SYNC 引腳配置為同步功能- REF_SEL(bit2-1):00 = 內部基準,01 = 外部 1.2V 基準,10 = 外部 1.6V 基準- SE_CLK_EN(bit0):1b 使能單端時鐘 |
4.2 DDC 與 NCO 配置寄存器
| 寄存器地址 | 寄存器名稱 | 核心功能 | 關鍵字段說明 |
|---|---|---|---|
| 0x24 | DDC 使能與通道平均寄存器 | DDC 與平均控制 | - DDC_EN(bit1):1b 使能 DDC- CH_AVG_EN(bit5):1b 使能通道平均- DDC_MUX(bit4-3):11 = 平均輸出至 DDC |
| 0x25 | 抽取與 NCO 相位寄存器 | 抽取倍數與 NCO 相位 | - DECIMATION(bit6-4):001=2 倍,101=32 倍- REAL_OUT(bit3):1b 使能實抽取- MIX_PHASE(bit0):1b 反轉 NCO 相位 |
| 0x26 | 混頻增益與 NCO 更新寄存器 | 增益補償與 NCO 復位 | - MIX_GAIN_A/B(bit7-6/3-2):10=6dB 增益(復抽取),01=3dB 增益(實抽取)- MIX_RES_A/B(bit5/1):1b 觸發(fā) NCO 相位復位與頻率更新 |
| 0x2A-2D/0x31-34 | NCO 數值寄存器 | NCO 頻率配置 | - NCO_A/B [31:0]:32 位 NCO 數值,決定混頻頻率 |
4.3 輸出接口與測試模式寄存器
| 寄存器地址 | 寄存器名稱 | 核心功能 | 關鍵字段說明 |
|---|---|---|---|
| 0x1B | 輸出分辨率寄存器 | 輸出分辨率選擇 | - BIT_MAPPER_RES(bit5-3):000=18 位,001=16 位,010=14 位- 20B_EN(bit6):1b 使能 20 位輸出 |
| 0x14-16 | 測試模式寄存器 | 測試圖案配置 | - TEST_PAT_A/B(bit4-2/7-5):010 = 斜坡模式,011 = 固定模式- CUSTOM_PAT [17:0]:斜坡步長或固定圖案數據 |
| 0x22 | 加擾使能寄存器 | 數據加擾控制 | - SCR_EN(bit6):1b 使能數據加擾(僅 2 路模式) |
五、應用設計與布局建議
5.1 典型應用場景
該系列 ADC 主要面向航天級高精度采集,具體場景包括:
- 衛(wèi)星光通信載荷 :接收端高頻光信號轉換為電信號后,經 ADC 采集,DDC 降速后傳輸至基帶處理。
- 衛(wèi)星成像載荷 :多通道圖像信號同步采集,通道平均功能提升動態(tài)范圍,適配弱光成像場景。
- 衛(wèi)星雷達 / LIDAR :雷達回波信號采集,高 SFDR 抑制雜散,確保目標探測精度。
5.1.1 頻譜分析儀應用方案
- 電路結構 :單端信號經 THS4541 全差分放大器轉換為差分信號,經 180nH+100pF 毛刺濾波器后輸入 ADC;時鐘采用低抖動差分時鐘源(如 CDCE6214),基準選用 REF7016(1.6V);ADC 輸出經 LVDS 傳輸至 FPGA,DDC 配置為 8 倍復抽取,降低 FPGA 處理速率。
- 關鍵參數 :fIN=20MHz 時 SNR=77.6dBFS,SFDR=76dBc,滿足中頻信號頻譜分析需求。
5.2 電源與布局設計要點
5.2.1 電源配置
- 供電體系 :需兩路 1.8V 電源,AVDD 為模擬電路供電(含 ADC、基準),IOVDD 為數字接口供電(LVDS、SPI),無上電順序要求;推薦供電方案:5-12V 輸入經 TPS7H4010-SEP 開關電源降壓,再經 TPS73801-SE LDO 穩(wěn)壓至 1.8V,降低電源噪聲。
- 去耦配置 :AVDD、IOVDD 引腳均需并聯(lián) 10μF+0.1μF 陶瓷電容,靠近引腳布局;VREF 引腳并聯(lián) 10μF+0.1μF 電容,REFBUF/CTRL 引腳(外部 1.2V 基準時)同樣并聯(lián) 10μF+0.1μF 電容,抑制基準噪聲。
5.2.2 PCB 布局準則
- 分區(qū)布局 :模擬部分(AINxP/AINxM、VREF、REFBUF/CTRL)與數字部分(LVDS 接口、SPI)嚴格分區(qū),模擬路徑避免穿越數字區(qū)域;時鐘路徑獨立布線,遠離電源噪聲源。
- 差分對布線 :模擬輸入、時鐘輸入、LVDS 輸出均需 100Ω 差分對布線,長度差≤5mil,減少相位偏移;模擬輸入差分對遠離時鐘差分對,間距≥2 倍線寬,降低串擾。
- 接地處理 :暴露熱焊盤(面積 5.2mm×5.2mm)必須接地,通過過孔連接至內層接地平面;AVDD 與 IOVDD 的接地分別獨立,最終單點連接,避免數字噪聲串入模擬地。
六、封裝與訂購信息
6.1 封裝規(guī)格
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