傾佳電子儲能變流器(PCS)離網不平衡負載能力深度研究及B3M013C120Z的應用價值分析





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1. 離網儲能系統中不平衡負載的挑戰
1.1. 負載不平衡的定義、來源與特性

在并網模式下,儲能變流器(PCS)的運行相對穩定,電網作為一個近乎無限大的能量緩沖池,能夠吸收系統中的各種擾動。然而,在離網(或稱孤島)模式下,PCS的角色發生了根本性轉變:它從一個并網電流源轉變為支撐整個局部電網的唯一電壓源,必須獨立維持電壓和頻率的穩定。此時,負載不平衡成為PCS面臨的最嚴峻挑戰之一。
負載不平衡,指的是三相電力系統中,A、B、C三相負載的電流在幅值和/或相位上不對稱。這種情況在戶用和輕型商用場景中極為普遍,其主要來源是大量單相用電器的不均勻接入,例如空調、照明、廚房電器等。理想情況下,這些單相負載應均勻分布于三相,但在實際應用中,由于用戶用電行為的隨機性和不可預測性,實現完全平衡幾乎是不可能的。因此,PCS在離網運行時必須具備強大的不平衡負載帶載能力。
1.2. 系統級影響:零序電流的產生與中點電位偏移

不平衡負載對系統的核心影響可以通過對稱分量法進行深刻解析 。任何一組不對稱的三相電流,都可以分解為正序、負序和零序三組對稱的分量。其中:
正序分量:產生期望的旋轉磁場,驅動三相電機正常工作。
負序分量:產生反向旋轉磁場,對電機造成制動轉矩,引起過熱和振動。
零序分量:三相幅值相等、相位相同。在三相三線制系統中,由于沒有中性線,零序電流無法流通。但在包含中性線的三相四線制(3P4W)系統中,零序分量成為問題的關鍵。
在負載不平衡時,三相電流的矢量和不再為零(IA?+IB?+IC?=0)。這個非零的矢量和正是零序電流的3倍(3I0?),它必須通過中性線(N線)尋找回流路徑。對于一個典型的三電平三橋臂PCS拓撲,中性線通常連接到直流側母線電容的中點(O點)。這導致零序電流直接沖擊直流側,引起直流母線中點電位(Neutral Point Voltage)相對于大地或直流母線兩端發生劇烈波動。
1.3. 對系統穩定性、電能質量及組件應力的后果
中點電位的劇烈波動會引發一系列嚴重后果,危及整個離網系統的安全與穩定:
電能質量急劇惡化:中點電位的偏移直接破壞了三相輸出相電壓的對稱性。某些相的電壓會異常升高,而另一些相的電壓則會降低,導致嚴重的三相電壓不平衡。這不僅會影響三相負載的正常運行,還可能因過壓或欠壓而損壞連接在系統中的敏感電子設備。
關鍵組件應力加劇:零序電流是一種低頻(通常為三倍基頻)交流分量,它在直流母線電容上產生顯著的紋波電流。這會大大增加電容的ESR損耗(P=Iripple2?×ESR),導致電容溫度急劇升高,加速電解液老化,從而顯著縮短其使用壽命。電容是PCS系統中最易發生故障的組件之一,零序電流無疑是其可靠性的主要威脅。同時,逆變器橋臂的功率開關管也將承受不均勻的電流和電壓應力。
系統控制失穩:嚴重的電壓畸變和中點電位波動可能干擾PCS的控制環路,導致電壓和電流調節失準,甚至在極端情況下觸發保護機制,造成整個離網系統停機。因此,有效抑制不平衡負載帶來的影響,是確保PCS“能帶載”且“帶好載”的核心技術要求 。
隨著分布式能源和微電網的發展,儲能系統的規模和應用場景日益擴大 。一個服務于多個家庭或小型社區的微電網系統,其負載不平衡的程度和動態變化速度遠超單個家庭,這對PCS的不平衡負載應對能力提出了更高、更嚴苛的要求。因此,解決這一問題不僅是提升電能質量的技術需求,更是保障整個儲能系統長期可靠運行和經濟性的根本前提。
2. 四橋臂逆變器:應對不平衡負載的高性能拓撲方案
為了從根本上解決三橋臂拓撲在應對不平衡負載時的固有缺陷,三相四橋臂(Four-Leg)逆變器拓撲應運而生,并已成為高性能儲能PCS的主流選擇。
2.1. 工作原理:對中性線路徑的主動控制

三相四橋臂逆變器在傳統的三相橋臂(A、B、C相)基礎上,增加了一個獨立的第四橋臂,其輸出端直接連接到系統的中性點N 。這個新增的橋臂通常被稱為“平衡橋”或“中點箝位橋”。
其核心工作原理在于,第四橋臂為零序電流提供了一個可主動控制的低阻抗通路 。當系統因負載不平衡產生零序電流時,該電流不再被動地沖擊直流母線電容中點,而是被引導至第四橋臂。通過對第四橋臂上下兩個開關管進行高精度的PWM(脈寬調制)控制,控制器可以主動地從直流母線吸收或向其注入電流,以精確抵消負載側的零序電流。其效果是,無論負載如何不平衡,第四橋臂都能實時地將中性點N的電位“鉗位”在直流母線的中點O,從而保證了三相輸出相電壓(VAN?, VBN?, VCN?)的高度對稱和穩定。這種控制策略將正序電壓的生成(由前三臂負責)與零序電流的補償(由第四臂負責)進行了解耦,實現了對不平衡負載的精確、快速響應 。
2.2. 平衡橋開關管的動態要求與工作應力

第四橋臂(平衡橋)中的開關管工作在極為嚴苛的環境下,其性能直接決定了整個PCS的不平衡負載抑制能力。這些開關管必須滿足以下要求:
高頻開關能力:為了實時跟蹤并補償負載動態變化產生的零序電流,平衡橋必須以遠高于電網基頻的頻率(通常在幾十千赫茲)進行開關操作。
高電流處理能力:在極端情況下,例如單相滿載(100%不平衡度),流經中性線的零序電流幅值可能與相電流相當。因此,平衡橋的開關管必須能夠承載巨大的峰值電流和有效值電流。
承受高開關應力:高頻、大電流的開關過程必然伴隨著極高的電流變化率(dI/dt)和電壓變化率(dV/dt),這對開關管的動態特性和魯棒性提出了極高要求。
高效的損耗管理:平衡橋本身是一個能量轉換單元,其工作過程會產生導通損耗和開關損耗。這些損耗以熱量的形式散發,必須被有效管理,否則將影響系統整體效率和可靠性。
2.3. 寬禁帶半導體:實現高效平衡橋的關鍵
平衡橋的上述嚴苛要求,使得傳統的硅基(Si)功率器件,特別是IGBT,難以勝任。Si IGBT由于其雙極性導電機制,在關斷時存在明顯的“拖尾電流”現象,導致其關斷損耗(Eoff?)巨大,并嚴重限制了其最高工作頻率(通常低于20 kHz)。在高頻開關應用中,Si IGBT的損耗會急劇上升,效率低下。
這正是碳化硅(SiC)等寬禁帶(WBG)半導體的用武之地。SiC MOSFET作為一種單極性器件,不存在拖尾電流,其開關速度比Si IGBT快一個數量級,開關損耗極低 。這一特性使其能夠輕松實現數十乃至上百千赫茲的高頻工作,從而賦予平衡橋極快的動態響應速度。此外,SiC材料優異的熱導率和更低的導通電阻溫升系數,使其在高溫下依然能保持高效工作 。
因此,采用SiC MOSFET構建PCS的平衡橋,不僅是技術上的優化,更是一種必然選擇。它能夠顯著提升PCS在處理不平衡負載時的動態性能和穩態精度。平衡橋的效率直接影響儲能系統的整體往返效率,尤其是在長期不平衡運行工況下,由平衡橋自身損耗所浪費的電能不容忽視。使用SiC MOSFET構建的高效平衡橋,能夠最大化地減少這部分能量損失。同時,SiC器件的高頻、高效特性使得平衡橋所需的散熱器和無源濾波元件(電感、電容)的體積和重量大幅減小,從而顯著提升PCS的功率密度(kW/L),降低系統成本和安裝難度,這對于現代電力電子產品至關重要 。
3. B3M013C120Z SiC MOSFET深度技術剖析
基本半導體(BASIC Semiconductor)推出的B3M013C120Z是一款基于其第三代技術平臺的高性能1200V SiC MOSFET,其各項特性使其成為儲能PCS平衡橋應用的理想選擇。


3.1. 靜態與動態電氣特性
對B3M013C120Z數據表的詳細分析揭示了其卓越的電氣性能 :
電壓等級 (VDS?):1200 V。該電壓等級為在800V直流母線電壓下工作提供了充足的安全裕量,能夠有效應對開關過程中產生的電壓過沖,這在光伏和儲能應用中非常普遍 。
導通電阻 (RDS(on)?):典型值13.5 mΩ (25°C),23 mΩ (175°C)。極低的導通電阻是降低導通損耗的關鍵。更值得注意的是,其導通電阻隨溫度的增長系數(約1.7倍)表現優異,這有助于在高溫工作時維持較低的損耗,并抑制并聯應用中出現熱失控的風險 。
極低的寄生電容:其輸入電容 (Ciss?) 為5200 pF,輸出電容 (Coss?) 為215 pF,而反向傳輸電容 (Crss?) 僅為14 pF 。極低的$C_{rss}$是實現快速、穩定開關的核心,它直接關系到開關損耗的大小。同時,較高的$C_{iss}/C_{rss}$比值也是一項重要的設計特性,能夠有效降低由$dV/dt$引起的寄生導通風險,提升系統在復雜工況下的可靠性 。
優異的開關速度:在800V/60A測試條件下,其開通延遲時間 (td(on)?) 為19 ns,上升時間 (tr?) 為37 ns,關斷延遲時間 (td(off)?) 為80 ns,下降時間 (tf?) 為16 ns 。這些納秒級的開關時間遠非數百納秒級別的Si IGBT所能比擬,充分證明了其在高頻應用中的巨大優勢。
TO-247-4四引腳封裝:該封裝提供了一個獨立的開爾文源極(Kelvin Source)引腳。這一設計將功率回路的源極與門極驅動回路的源極在芯片內部連接點分離,有效規避了功率源極引線寄生電感上的壓降對門極驅動電壓的干擾,從而實現更干凈、更快速、更精確的柵極控制,這對于高速開關和器件并聯應用至關重要 。
3.2. 卓越的熱性能:銀燒結工藝與極低的結殼熱阻
B3M013C120Z的一個突出亮點是其卓越的熱管理能力。數據手冊明確指出,該器件采用了銀燒結(Silver Sintering)工藝,顯著改善了結殼熱阻(Rth(j?c)?)。其結殼熱阻典型值達到了驚人的0.20 K/W 。
這是一個極為關鍵的參數,它衡量了芯片產生的熱量傳遞到散熱器的效率。更低的熱阻意味著在相同的功率損耗下,芯片的結溫(Tj?)會更低。這不僅能提升器件性能(高溫下$R_{DS(on)}$更低),更重要的是,它直接關系到器件的長期可靠性和壽命。溫度是影響半導體器件壽命的首要因素,優異的散熱能力是保障器件在平衡橋等高應力應用中長期穩定運行的基礎。
3.3. 開關性能評估:高頻工作與損耗最小化的潛力
分析器件的開關能量曲線可以更直觀地評估其在高頻應用中的表現。根據數據手冊,在800V、60A、175°C的嚴苛條件下,B3M013C120Z的總開關能量(Etotal?=Eon?+Eoff?)約為2090 μJ(1490 μJ + 600 μJ)。
這個數值本身已經非常低,但更重要的是其結構。與IGBT相比,SiC MOSFET的關斷損耗$E_{off}要小得多,并且隨電流增長較為平緩。此外,數據還表明,如果配合外部SiC肖特基二極管(SBD)作為續流二極管,可以完全消除體二極管的反向恢復損耗,從而將開通損耗E_{on}$在175°C時從1490 μJ大幅降低至880 μJ,降幅超過40% 。這為系統設計者提供了進一步優化效率的有效途徑。
3.4. 可靠性與魯棒性評估:來自制造商的長期應力測試數據
除了優異的性能參數,基本半導體還提供了詳盡的可靠性數據,這對于在儲能等要求高可靠性的關鍵應用中選用該器件至關重要 。
超長時應力測試:B3M013C120Z通過了長達2500小時的高溫反偏(HTRB)和高壓高濕高溫反偏(HV-H3TRB)測試,遠超行業普遍執行的1000小時標準。在整個測試過程中,其關鍵參數(如VGS(th)?, IDSS?, RDS(on)?)的漂移量均控制在5%以內,展現出在長期電壓和溫度應力下卓越的穩定性和耐久性 。
柵氧壽命預測:柵極氧化層的可靠性是SiC MOSFET技術的核心。通過時變介質擊穿(TDDB)測試和模型預測,B3M013C120Z在推薦的18V柵壓和175°C結溫下工作時,其柵氧的平均無故障時間(MTTF)超過2×109小時,即超過22.8萬年 。這一數據有力地證明了其柵氧工藝的成熟與可靠,打消了設計者對器件長期可靠性的顧慮。
高一致性:制造商聲稱,其產品在閾值電壓$V_{GS(th)}和導通電阻R_{DS(on)}$等關鍵參數上具有非常小的一致性偏差,允許用戶在不進行額外篩選的情況下直接并聯使用 。這對于需要并聯多個器件以達到更高電流處理能力的平衡橋設計而言,是一個巨大的工藝優勢,不僅簡化了生產流程,也從根本上提升了并聯模塊的可靠性。
綜上所述,B3M013C120Z不僅在性能參數上表現出色,其通過先進封裝技術實現的卓越散熱能力,以及由嚴苛測試驗證的長期可靠性,共同構成了一個協同增強的體系。優異的散熱保證了器件能在低結溫下工作,而低工作溫度又進一步延緩了各種老化失效機制,從而使其在可靠性測試中表現出色。這種性能、散熱與可靠性的完美結合,使其成為高要求應用場景的理想選擇。
4. B3M013C120Z在PCS平衡橋中的價值量化
為了直觀地展示B3M013C120Z在儲能PCS平衡橋應用中的價值,本節將通過與傳統Si IGBT以及其他主流SiC MOSFET的橫向對比,進行定量分析。
4.1. 與傳統Si IGBT的性能對決
平衡橋作為一種高頻開關電路,其核心性能由開關器件決定。下表將B3M013C120Z與一款同為1200V電壓等級、額定電流150A的典型Si IGBT(MIF150R12C1TL)的關鍵參數進行對比 。
表 4.1: 性能基準對比:B3M013C120Z (SiC MOSFET) vs. MIF150R12C1TL (Si IGBT)
| 參數 | 單位 | B3M013C120Z (SiC) | MIF150R12C1TL (Si) | 優勢因子 (SiC vs. Si) |
|---|---|---|---|---|
| 電壓等級 | V | 1200 | 1200 | - |
| 額定電流 (ID?/IC?) | A | 180 (@25°C) | 150 (@100°C) | - |
| 導通損耗特性 | - | RDS(on)?=23 mΩ (@175°C) | VCE(sat)?=2.20 V (@125°C) | 應用相關 |
| 開通能量 (Eon?) @~125°C | μJ | ~1490 (175°C, 800V/60A) | 19700 (125°C, 600V/150A) | ~13.2x 更低 |
| 關斷能量 (Eoff?) @~125°C | μJ | ~600 (175°C, 800V/60A) | 16500 (125°C, 600V/150A) | ~27.5x 更低 |
| 總開關能量 (Etotal?) @~125°C | μJ | ~2090 | 36200 | ~17.3x 更低 |
| 續流二極管 Qrr? @~125°C | nC | 1150 (175°C) | 16100 (125°C) | ~14.0x 更低 |
| 結殼熱阻 (Rth(j?c)?) | K/W | 0.20 | 0.155 | SiC封裝更優 |
注:兩款器件的測試條件不完全相同,但對比結果足以揭示其數量級上的巨大差異。
分析上表可以得出決定性的結論:
開關損耗的顛覆性優勢:B3M013C120Z的總開關能量比同等級的Si IGBT低了超過17倍。這一差異是根本性的,主要源于SiC MOSFET無拖尾電流的物理特性,使其關斷損耗極低 。在平衡橋這種需要數萬次每秒開關的工況下,17倍的開關損耗差異意味著SiC方案的散熱需求將大幅降低,或者在同等散熱條件下,其工作頻率可以提升數倍。
續流特性的巨大改進:SiC MOSFET體二極管(或外配SiC SBD)的反向恢復電荷$Q_{rr}比IGBT模塊中的快恢復二極管(FRD)低一個數量級。更低的Q_{rr}$意味著更小的反向恢復電流,這不僅降低了二極管自身的損耗,更重要的是顯著減小了橋路中對管開通時的電流尖峰和開通損耗。
導通損耗的權衡:在導通損耗方面,SiC MOSFET呈現電阻特性,損耗與電流平方成正比;而IGBT則接近恒定壓降,損耗與電流成正比。在平衡橋這種電流動態范圍很大的應用中,大部分時間工作在中低電流區域,SiC MOSFET的低導通電阻將帶來更低的平均導通損耗。
4.2. 在SiC MOSFET領域的競爭力分析
在確立了相對Si IGBT的絕對優勢后,還需評估B3M013C120Z在日益激烈的SiC MOSFET市場中的競爭力。下表將其與來自行業領導者Wolfspeed和STMicroelectronics的同級別產品進行比較 。
表 4.2: 1200V, ~13mΩ級別SiC MOSFET競品對比
| 參數 | 單位 | BASIC B3M013C120Z | Wolfspeed CPM3-1200-0013A | STMicro A2F12M12W2-F1 |
|---|---|---|---|---|
| RDS(on)? @25°C (typ) | mΩ | 13.5 | 13 | 13 |
| RDS(on)? @175°C (typ) | mΩ | 23 | N/A (150°C data) | 20 (@150°C) |
| 總柵極電荷 (Qg?) (typ) | nC | 225 | 260 | N/A |
| 反向傳輸電容 (Crss?) (typ) | pF | 14 | N/A | 56 |
| 結殼熱阻 (Rth(j?c)?) (typ) | K/W | 0.20 | N/A (裸芯片) | 0.2 |
| 封裝類型 | - | TO-247-4 | Bare Die | ACEPACK 2 (模塊) |
注:由于各廠商提供的數據手冊和產品形態(分立器件、裸芯片、模塊)不同,參數對比僅供參考。
從表中可以看出,B3M013C120Z在關鍵性能指標上完全達到了行業一線水平:
導通電阻:其13.5 mΩ的典型值與競品處于同一水平,表明其芯片工藝具有很強的競爭力。
動態參數:其總柵極電荷Qg?和反向傳輸電容$C_{rss}$表現優異,預示著良好的開關性能和較低的驅動損耗。
熱性能:0.20 K/W的結殼熱阻是其一大亮點,與STMicroelectronics在先進模塊中實現的數值持平 ,證明其采用的銀燒結封裝技術達到了業界領先水平。

4.3. 實現的系統級價值:效率、功率密度與可靠性的飛躍
綜合以上分析,B3M013C120Z在PCS平衡橋中的應用價值可以歸結為三個層面:
效率:與Si IGBT方案相比,開關損耗降低超過一個數量級,使得PCS在處理不平衡負載時,能夠將更多的能量用于供電而非發熱,顯著提升了儲能系統的整體往返效率。
功率密度:極低的開關損耗允許設計者將開關頻率提升3-5倍(例如從15-20 kHz提升至60-100 kHz)。更高的開關頻率意味著系統中的磁性元件(電感)和濾波電容可以大幅小型化。結合其卓越熱性能帶來的更小散熱器需求,最終可實現PCS整機功率密度的巨大提升,使產品更小、更輕、成本更低 。
可靠性:經過超長時應力測試驗證的器件穩定性和柵氧壽命,為儲能這種需要長期不間斷運行的關鍵基礎設施提供了堅實的可靠性保障,有效降低了全生命周期內的故障風險和運維成本。
5. 設計與實施指南
為充分發揮B3M013C120Z的性能優勢,在平衡橋的設計和實施中應遵循以下關鍵原則:
5.1. 門極驅動策略
推薦采用**-5V/+18V**的非對稱柵極驅動電壓 。負壓關斷(-5V)能夠提供更大的抗擾度,有效防止因高dV/dt導致的米勒效應寄生導通。驅動回路的設計必須追求極致的低電感,包括使用緊湊的驅動芯片布局、寬而短的PCB走線以及雙絞線。必須充分利用TO-247-4封裝的開爾文源極引腳,將門極驅動電流的返回路徑與主功率回路徹底分開,以獲得最純凈的驅動信號。
5.2. 器件并聯考量
當單個器件不足以處理所需的最大零序電流時,需要進行并聯。得益于B3M013C120Z的高一致性,并聯設計得以簡化 。然而,PCB布局的對稱性至關重要,必須確保每個并聯器件的門極驅動路徑和功率回路(從直流母線到中性點)的寄生電感和電阻完全一致。這有助于保證靜態和動態均流,避免個別器件承受過大應力。
5.3. PCB布局與熱管理
高頻、大電流的開關回路對PCB布局要求極高。應采用疊層母排(Laminated Busbar)或寬闊、重疊的PCB平面來最小化功率回路的寄生電感,以抑制開關過程中的電壓過沖和振蕩。在熱設計方面,B3M013C120Z極低的Rth(j?c)?(0.20 K/W)意味著熱量可以高效地從芯片導出。設計者應選擇合適的散熱器,并使用高質量的導熱界面材料(TIM),確保從器件外殼到散熱器的熱阻盡可能小,從而將器件結溫控制在安全范圍內。
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6. 戰略結論與建議
6.1. 綜合評估
本報告的深度分析表明,儲能PCS在離網模式下面臨的不平衡負載挑戰,本質上是對功率變換器動態響應能力、效率和長期可靠性的綜合考驗。傳統的Si IGBT器件由于其物理特性的限制,已難以滿足新一代高性能PCS的需求。
B3M013C120Z SiC MOSFET憑借其在開關損耗、熱性能和可靠性方面的綜合優勢,被證明是構建PCS平衡橋的卓越器件選擇。其價值并非來源于單一參數的領先,而是由低開關損耗的芯片技術、先進銀燒結封裝帶來的卓越散熱能力、以及經過嚴苛長期測試驗證的魯棒性三者協同作用的結果。
6.2. 戰略性建議
對于儲能PCS制造商而言,在平衡橋等關鍵高頻開關應用中,從Si IGBT向以B3M013C120Z為代表的高性能SiC MOSFET過渡,已不再是一個可選項,而是一個戰略性的必然選擇。這一決策將帶來:
產品性能的代際飛躍:實現對100%不平衡負載的快速、穩定、高效管理,滿足更廣泛和更嚴苛的離網應用場景需求。
核心競爭力的顯著提升:通過大幅提升功率密度、效率和可靠性,打造出體積更小、成本更優、壽命更長的儲能產品,在激烈的市場競爭中占據優勢地位。
因此,建議儲能PCS設計團隊積極評估并導入B3M013C120Z此類先進的SiC功率器件,將其作為提升產品性能、實現技術創新的關鍵賦能元件。有效駕馭不平衡負載的能力,將是定義下一代離網儲能系統核心價值的關鍵所在,而B3M013C120Z為此提供了堅實可靠的器件級解決方案。
審核編輯 黃宇
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