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【案例1.6】在電子產品測試中與濕度有關的問題

賽盛技術 ? 2025-10-16 17:32 ? 次閱讀
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【案例1.6】在電子產品測試中與濕度有關的問題

本案例討論與濕度有關的測試項目。

【討論】

ESD(Electronic State Discharge,靜電放電)敏感度測試是EMC測試中的一個重要測試項目。

濕度對ESD有較大影響。相對濕度越低,越容易積累靜電。在IEC 61000-4-2的附錄A中,提到了相對濕度和可 能產生的靜電電壓的關系(見圖1.15),正好可以說明這一點,所以,在EMC測試中,需考慮設備工作環境濕度的因素,濕度越低,越容易積累靜電,越需要加強靜電相關測試。

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可以看出,當相對濕度比較低,靜電電壓會達到15kV。所以在ESD測試中,會專門有一個測試級別,是對空氣放電15KV時設備的靜電敏感度進行測試。

那么針對電子設備的測試,高濕度環境是否需要特別考慮呢?

濕度越高,電子遷移能力越強。腐蝕度越高,更容易觸發電介質擊穿等故障。所以在系統強化測試時,高濕度常常會伴隨著高溫一起進行。很多產品,都會按照雙85測試標準(環境溫度為85℃,相對濕度為85%)加入一項系統測試項目,意義正在于此。例如,若電路板上存在本研發團隊從未用過的Flash存儲器(包括Nor Flash和Nand Flash),高溫、高濕測試通常就是一項必備的測試。

對于大多數產品而言,一般是不進行高溫度低濕度測試的。低濕度對設備的影響,大多數情況下,是通過ESD敏感度測試進行驗證。

【擴展1】

在討論環節中提到的雙85測試,是一種加速測試方式。某些產品,本身工作環境既不會出現85℃的環境溫度,也不會出現85%的相對濕度,那么做雙85測試是否還有意義呢?因為這種高溫、高濕的測試方式,可以大幅度縮短測試所需時間,所以雙85測試仍然有重要的意義。

以高濕度測試為例。例如,設備真實工作環境的相對濕度為50%,在85%的相對濕度條件下進行測試,可以采用Hallberg-Peck模型,其公式為

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式中,AF為濕度加速因子;RHa為加速測試中采用的相對濕度;RHu為真實工作環境中的相對濕度;n為常數系數,一般取2.5~3。

取n=2.5,將RHa=85%、RHu=50%代入公式,可以算出濕度加速因子AF=3.7。其含義是,從可靠性驗證的角度看,在85%相對濕度條件下進行1h的測試,等效于在50%相對濕度條件下進行3.7h的測試。

【擴展2】

溫度測試也可實現加速測試。

對于許多高可靠性產品,需驗證它們在某溫度條件下的壽命數據,直接在該溫度條件下進行數年的測試是不現實的,因此壽命測試一般都會采用溫度加速。其方式是,基于Arrhenius加速模型計算得到的溫度加速因子,在一個更高的溫度,以更短的時間進行測試,再輔以多個測試樣本下概率分布的考慮,基于某低于100%的置信度值(如壽命測試中常用的90%或60%置信度),測試時間可以大幅度縮短。例如,可以把本該進行數年的可靠性壽命驗證,壓縮到數周之內完成。這樣的測試過程,有數學理論依據,也被業內各大公司認可。

針對濕度,需考慮元器件的濕度敏感等級(Moisture Sensitivity Level,MSL)。MSL分為若干級,即MSL-1~MSL-6。通過MSL,廠家對元器件的包裝、運輸、傳送等環節提出了建議和要求。根據J-STD-020C標準,MSL有表1.2所列級別。根據對應級別的要求,在包裝袋打開后,元器件必須在規定的時間(稱為車間壽命)內完成再流焊。

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一部分元器件的MSL等級,可以在元器件手冊上查到,但也有一些器件的MSL等級并不列在手冊中,需要登錄廠家官網下載,也可聯系廠家獲取。

需注意的是,表格中的“車間壽命”指累計時間。

例如,元器件密封包裝袋拆開后,使用了部分元器件后,剩余元器件重新密封放入干燥包裝袋內,過一段時間后,再拆封使用剩余元器件,則這兩次拆封后的時間,需累計起來,不得超過對應MSL等級的車間壽命。也就是說,只要元器件暴露在密封干燥袋之外,時間就需要累計,確保總車間壽命不超過規定的限值。

若無法保證以上條件,如環境濕度較高,選型時就應盡量選擇 MSL-1 級別的元器件,或在焊接前進行高溫烘烤。


以上案例來自電路設計領域知名專家-王老師《高速電路設計進階》著作內容其一案例!

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