第二十六屆中國國際光電博覽會

CIOE中國光博會

9月10-12日

中國·深圳

光博會介紹

作為全球光電產(chǎn)業(yè)公認的“風(fēng)向標”與 “晴雨表”，CIOE中國光博會將匯聚全球超3800家優(yōu)質(zhì)光電企業(yè)，全面覆蓋信息通信、精密光學(xué)、激光及智能制造、AR&VR、智能傳感、新型顯示、光電子創(chuàng)新等全產(chǎn)業(yè)鏈核心領(lǐng)域，集中呈現(xiàn)從核心材料、關(guān)鍵設(shè)備到系統(tǒng)方案的全鏈條創(chuàng)新技術(shù)，為光電產(chǎn)業(yè)及下游應(yīng)用持續(xù)注入新動能。

展會速覽

致真精密儀器將攜行業(yè)解決方案亮相展會，向全球科研機構(gòu)與產(chǎn)業(yè)用戶，展示最新的材料表征解決方案及智能化檢測系統(tǒng)，助力納米尺度研究實現(xiàn)技術(shù)升級。

01展會地址

深圳國際會展中心

02展會時間

2025年9月10-12日

03展位號

3E39

主推展品

AtomEdge Pro多功能原子力顯微鏡可對材料、電子器件、生物樣本等進行三維掃描成像，實現(xiàn)亞埃米級形貌表征。具備接觸、輕敲、非接觸等多種工作模式，為用戶提供了更為靈活和精準的操作選擇。此外，它還集成了磁力顯微鏡、靜電力顯微鏡、掃描開爾文顯微鏡、壓電力顯微鏡等多種功能模式，穩(wěn)定性強,可拓展性良好。此外可根據(jù)用戶需求靈活定制功能模塊,為特定研究領(lǐng)域提供針對性解決方案，實現(xiàn)一機多用的高效檢測平臺。

晶圓級原子力顯微鏡利用微懸臂探針結(jié)構(gòu)，可對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、絕緣品等固體材料進行三維樣貌表征，可實現(xiàn)晶圓級大樣品形貌表征。電動樣品定位臺與光學(xué)圖像相結(jié)合，可在200X200 mm 區(qū)域?qū)崿F(xiàn)1 μm的定位精度；光學(xué)結(jié)構(gòu)與掃描頭集成一體，操作便捷。

晶圓級磁光克爾測量儀利用極向/縱向磁光克爾效應(yīng)(MOKE),快速全局檢測晶圓膜堆的磁性。非接觸式測量,避免了對晶圓的破壞,可應(yīng)用于自旋芯片生產(chǎn)中的圖形化前后的樣品檢測。提供高達 2.5T的垂直磁場和高達1.4T的面內(nèi)磁場。強磁場可誘導(dǎo)垂直各向異性磁性隨機存儲器(MRAM)膜堆中的自由層、參考層的翻轉(zhuǎn)。超高克爾檢出靈敏度,可以單次同時表征不同膜層的細微磁性變化。將激光逐點探測與掃描成像結(jié)合,可以快速創(chuàng)建晶圓磁性特性全局圖譜,輔助工藝優(yōu)化與良率控制。

3D全自動磁場探針臺主要面向晶圓片在磁場作用下的快速磁性能或電性能表征,其集成了三維磁場發(fā)生器和先進的可定制硬件,為磁性器件(磁傳感器和磁存儲器)的開發(fā)、工藝和生產(chǎn)帶來了完整的測試解決方案?？蓾M足MRAM晶圓的磁性能與電性能表征需求,通過磁場(面內(nèi)/垂直)的精確控制測量器件的磁阻特性。結(jié)合脈沖發(fā)生模塊可測量器件的RV曲線、翻轉(zhuǎn)概率PSW、誤碼率WER與循環(huán)特性等;可測量磁傳感器件偏置特性、工作區(qū)間、線性度等參數(shù)。

會議期間，致真精密儀器技術(shù)團隊將全程駐展，帶來最新科研成果的沉浸式演示，并現(xiàn)場傾聽您的需求、解答疑問。我們誠邀各位專家老師撥冗蒞臨，面對面共謀合作、共話未來！

展會驚喜提前鎖定！掃碼預(yù)約尊享專屬福利，我們將在展臺恭候您的光臨，共啟探索之旅！

致真精密儀器

誠邀您蒞臨CIOE 2025

與您共同探索

磁學(xué)、自旋電子學(xué)、納米形貌表征等前沿技術(shù)

共同推動先進科技創(chuàng)新浪潮

致真精密儀器

致真精密儀器致力于實現(xiàn)高端科技儀器和集成電路測試設(shè)備的自主可控和國產(chǎn)替代。

致真精密儀器通過工程化與產(chǎn)業(yè)化攻關(guān)，已成功研發(fā)出一系列應(yīng)用于磁學(xué)、自旋電子學(xué)、納米形貌表征等領(lǐng)域的前沿科研設(shè)備，包括“原子力顯微鏡、高精度VSM、磁光克爾顯微鏡等磁學(xué)測量設(shè)備、各類磁場探針臺、低溫強磁場光學(xué)測量平臺、磁性芯片測試機等產(chǎn)線級設(shè)備、物理氣相沉積設(shè)備、集成電路裝備實訓(xùn)解決方案”等，如有需要，我們的產(chǎn)品專家可以提供免費的項目申報輔助、產(chǎn)品調(diào)研與報價、采購論證工作，期待與您更深入的交流與合作！