2025年8月30日-8月31日第六屆光電子集成芯片立強大會在湖北省武漢市舉辦并順利召開！

作為備受矚目的行業盛會，本次大會聚焦光芯片、電芯片、人工智能、光器件、激光通信等熱點話題及最新科技研發成果和進展。

作為光電子集成芯片測試領域知名企業，中星聯華科技（北京）股份有限公司受邀參加本次展會。

盛會匯聚眾多業內專家以及技術領先企業，進一步推動光電子與交叉領域的技術交流、產業鏈合作和人才培養，展示光電子集成芯片材料、器件、工藝平臺、仿真設計、封測技術及其在光通信、數據中心、高性能計算、多維光存儲和光成像、光顯示與光傳感等領域的應用。

大會邀請華中科技大學、山東大學、國家信息光電子創新中心、鵬城實驗室、浙江大學、中國科學院、清華大學、南京大學、東南大學、上海交通大學等單位代表蒞臨。

現場熱況

中星聯華展出光芯片測試、光模塊測試、電芯片測試、Serdes芯片測試、光壓力眼測試等專業技術方案，本次會議與現場嘉賓、觀眾進行了深度交流，為現場的觀眾提供了專業的解答。

中星聯華展出的高性能注抖加噪誤碼儀、高速率誤碼儀、超低相噪信號源、雙音信號源等產品及光電芯片測試、Serdes芯片測試，光模塊測試等方案備受關注。

中星聯華展示的產品吸引了眾多觀眾前來交流，在現場同事們專業的講解下，客戶對我司的核心產品和解決方案產生了濃厚的興趣，希望后續可以與我司進行深入了解與交流，并一起探尋業務合作的機會。

中星聯華高性能誤碼儀

產品特色：

模塊化：多通道靈活配置，單機支持32發32收

高速率：1G-120Gbps，數據速率靈活可調

壓力眼：注抖加噪，讓信號擁有72般變化

UDP：最大可支持16Gbit超長用戶自定義碼型

中星聯華高性能誤碼分析儀具有模塊化設計、靈活的通道配置、高速率、注抖加噪創建壓力眼信號、超長用戶自定義碼型等業內領先的核心技術，可用于高速Serdes芯片和高速接口、光芯片、光器件、光模塊、光傳輸、高速互連等領域苛刻的測試。

中星聯華超低相噪信號源

頻率范圍:5kHz~67GHz

超低相位噪聲:

<-132dBc/Hz(@10GHz,10kHz偏移,典型值)

最大輸出功率：≥+18dBm（@20GHz，典型值）

支持多通道輸出，支持雙音信號輸出

諧波抑制：＜-55dBc（@100MHz~2GHz）

非諧波抑制：＜-80dBc（@10GHz）

代碼兼容，支持業內主流SCPI命令

高度集成，體積小巧，操作簡單

本次盛會已圓滿結束，中星聯華此行收獲滿滿。未來，中星聯華將繼續深化與國內外同行的交流與合作，共同推動光電子產業向前發展。

我們期待來年再見！