在半導體行業飛速發展的今天,芯片可靠性已成為決定產品市場競爭力的核心因素之一。尤其在汽車電子、工業控制、人工智能等應用領域,芯片的工況復雜,要求長期可靠的工作,這對芯片的可靠性測試能力提出了更大的挑戰。
為更好地助力客戶檢測高功率芯片可靠性,季豐RA可靠性實驗室持續升級硬件能力——近期成功引進長川科技兩款高功耗SOC芯片老化測試設備(CM1028、BD350)。未來,RA實驗室將持續升級可靠性測試“武器庫”,為芯片從研發到量產的全流程可靠性驗證注入新動能。
動態老化測試
芯片“極限工況”的“試金石”
動態老化測試,是模擬芯片的實際工作場景(通過施加電壓、溫度、頻率等應力環境),加速暴露芯片潛在缺陷(如電遷移、熱載流子注入、早期失效等)的關鍵手段。與“靜態測試”相比,動態老化更貼近芯片的“真實服役狀態”,能更高效地篩選出“隱患產品”,是芯片可靠性驗證中不可替代的核心環節。
新設備“硬核參數”
覆蓋多元場景,突破測試邊界
此次引進的CM1028與BD350這兩款型號檢測設備,在功率覆蓋、溫區控制、通道靈活性等方面各有側重,可精準匹配不同類型芯片的測試需求:
1功率與散熱:
從“低功耗”到“高功率”全面覆蓋
CM1028:
聚焦“常規功率芯片”,支持單顆芯片功耗≤150W,配備1個溫區(不支持非獨立溫控),為消費電子、通用IC等提供穩定測試環境。
BD350:
突破“高功率”測試限制,支持單顆芯片功耗150W~500W,通過風冷外循環+軸流風扇散熱,完美適配“功率器件、大算力AI芯片”等高功率產品的老化測試。
2靈活配置:
精準匹配復雜測試場景,為客戶提供靈活的測試環境。
空間與并行效率:
兩臺設備均支持14個插槽,搭配“570×600mm”的板子尺寸,可同時開展多顆芯片的并行測試,大幅提升測試效率。
信號與通道能力:
具備256 IO通道數+32M each pattern深度,結合“pattern compare”監控能力,可精準捕捉芯片動態工作時的信號變化;頻率范圍覆蓋1KHz~10MHz,VIH(輸入高電平)范圍0.5V~4V,且每通道支持“2 levels VIH”,能模擬復雜數字信號場景。
電源擴展自由度:
電源模塊支持靈活定制(如“V0~V7覆蓋0.5V~1.7V/125A”“V8~V15覆蓋0~5.5V/20A”,還可額外擴展高電流通道),滿足不同電壓、電流組合的測試需求。
3溫區與環境模擬:
還原“極限工況”,提供符合標準或定制檢測環境。
CM1028:支持+50℃~+150℃的溫度范圍,可驗證芯片在“高溫環境”下的穩定性;
BD350:通過風冷系統強化“散熱與熱循環模擬”,進一步覆蓋“寬溫、強熱應力”場景。
賦能行業
為“高可靠性芯片”保駕護航
季豐RA實驗室此次設備升級,將重點服務以下領域客戶:
1汽車電子:
新能源汽車的功率模塊、MCU等芯片,需在“寬溫、高功率、長期運行”下穩定工作,動態老化測試可提前驗證其壽命與可靠性。
2工業控制:
工業級芯片對“極端環境適應性”要求苛刻,設備可模擬復雜工況下的老化過程,助力客戶把控品質。
3高算力芯片:
AI芯片、服務器芯片往往“功率密度高”,BD350的“高功率支持能力”可精準匹配這類產品的測試需求。
綜上,依托新設備,季豐RA實驗室可提供從芯片設計驗證、樣品老化篩選到量產質量管控的全流程可靠性服務,幫助客戶“縮短研發周期、降低量產風險”。
季豐RA實驗室
可靠性測試的“全能伙伴”
作為國內領先的半導體檢測服務平臺,季豐RA可靠性實驗室已構建起包含符合消費類、工業類、車規類系列行業規范標準(如JEDEC系列、AECQ系列等)的完整可靠性測試體系。
此次長川動態老化測試設備的加入,進一步補全了季豐針對高功率器件的“動態應力測試”的能力短板,使季豐有能力為客戶提供更“全鏈路、定制化”的可靠性解決方案。
如果您的芯片需要進行動態老化或其他可靠性測試,歡迎聯系我們,郵箱:sales@giga-force.com。
我們將以專業的技術、先進的設備,為您的產品可靠性“保駕護航”!
季豐電子
季豐電子成立于2008年,是一家聚焦半導體領域,深耕集成電路檢測相關的軟硬件研發及技術服務的賦能型平臺科技公司。公司業務分為四大板塊,分別為基礎實驗室、軟硬件開發、測試封裝和儀器設備,可為芯片設計、晶圓制造、封裝測試、材料裝備等半導體產業鏈和新能源領域公司提供一站式的檢測分析解決方案。
季豐電子通過國家級專精特新“小巨人”、國家高新技術企業、上海市“科技小巨人”、上海市企業技術中心、研發機構、公共服務平臺等企業資質認定,通過了ISO9001、 ISO/IEC17025、CMA、CNAS、IATF16949、ISO/IEC27001、ISO14001、ISO45001、ANSI/ESD S20.20等認證。公司員工超1000人,總部位于上海,在浙江、北京、深圳、成都等地設有子公司。
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原文標題:能力升級!季豐RA實驗室新引入高功耗SOC芯片老化測試設備
文章出處:【微信號:zzz9970814,微信公眾號:上海季豐電子】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。
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