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淺談3D封裝與CoWoS封裝

中科院半導體所 ? 來源:學習那些事 ? 2025-08-21 10:48 ? 次閱讀
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文章來源:學習那些事

原文作者:小陳婆婆

本文主要講述3D封裝與CoWoS封裝。

集成扇出(InFO)

自戈登·摩爾1965年提出晶體管數量每18-24個月翻倍的預言以來,摩爾定律已持續推動半導體技術跨越半個世紀,從CPUGPU到專用加速器均受益于此。

如今這一規律正從單一晶體管縮微(1.0時代)向晶圓級系統集成(WLSI)的2.0時代演進——通過將超大芯片拆解為獨立功能單元,結合2D/3D封裝與硅通孔、扇出等前沿技術,在保持甚至加速晶體管密度增長的同時,實現性能、功耗、面積與成本(PPAC)的協同優化。

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新指標3D互連密度(3DID)的提出,更量化了系統級封裝的擴展能力,配合SoIC等顛覆性3D集成技術,正為摩爾定律的持續生效注入新動能,開啟半導體技術指數級增長的新篇章,本文分述如下:

3D封裝和片上集成系統(SoIC)

CoWoS封裝

3D封裝和片上集成系統(SoIC)

在半導體系統集成領域,3D Fabric技術平臺的演進正推動封裝工藝從單一互連方案向多維協同架構跨越。作為晶圓級集成技術的集大成者,3D Fabric通過整合扇出型互連(InFO)、硅轉接板集成(CoWoS)及晶圓級系統集成(SoW/SoIS)等模塊化工藝,構建起覆蓋前端制造與后端封裝的完整技術生態。

其中,InFO技術以芯片預嵌入為核心,通過扇出型重布線層實現高密度橫向擴展,其工藝流程本質在于先固定芯片位置再構建互連網絡,這種"芯片先行"的策略為復雜系統提供了靈活的布局空間;而CoWoS則采用"再布線優先"的逆向思維,在芯片貼裝前完成多層高密度互連結構的沉積,結合硅轉接板的垂直貫通能力,有效平衡了信號完整性與熱管理需求。

值得注意的是,實際生產中兩者并非非此即彼的選擇,通過混合集成模式——部分芯片采用InFO方式嵌入,其余模塊通過CoWoS實現精密對接——系統架構師得以在局部互連密度、芯片形貌適配及散熱路徑優化間找到最佳平衡點,這種工藝組合的靈活性在異構計算時代尤為重要。

作為3D Fabric體系中的顛覆性技術,片上集成系統(SoIC)將前道制造工藝引入封裝領域,通過晶圓級鍵合技術實現多芯片的垂直堆疊與無縫集成。其核心優勢在于,通過預先對不同工藝節點、不同材料體系的芯片進行嚴格測試(KGD篩選),確保堆疊單元的功能可靠性,再利用類似前端制程的銅互連技術(節距密度媲美后道銅布線),在微米級甚至亞微米級尺度上實現芯片間的等效單片化集成。這種前道與后道工藝的深度融合,不僅使SoIC集成的多芯片系統在電氣性能、機械穩定性上達到傳統SoC水準,更通過模塊化設計大幅縮短產品迭代周期。當前,SoIC技術已與CoWoS、InFO等后道工藝形成技術閉環,構建起從芯片級到系統級的多維集成解決方案。

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CoWoS封裝

在先進封裝領域,CoWoS(Chip-on-Wafer-on-Substrate)技術平臺通過模塊化設計,構建了覆蓋高密度互連、成本優化與異構集成需求的多維解決方案。作為芯片后置工藝的典型代表,CoWoS體系通過預布線層(RDL)與轉接板技術的深度融合,實現了從芯片級到系統級的精準性能調控。

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CoWoS-S作為基礎架構,依托硅轉接板(Silicon Interposer)實現芯片間的高密度互連。其核心優勢在于硅基材的高熱導率與低介電損耗特性,可支持微米級節距的TSV(硅通孔)與微凸點互連,單塊轉接板即可實現超過1000個I/O通道的密集走線。更值得關注的是,有源轉接板技術的引入使硅基板不再局限于被動互連角色——通過集成嵌入式電容、電感或射頻模塊,該平臺可有效縮短信號傳輸路徑,降低寄生效應對高速串行鏈路(如PCIe 5.0/6.0)的影響。據臺積電2024年技術論壇披露,其5nm CoWoS-S工藝已實現轉接板層數突破至8層,互連密度達每平方毫米10萬個連接點,成功支撐英偉達Hopper架構GPU與Grace CPU的異構集成。

針對成本敏感型應用,CoWoS-R平臺以RDL(重布線層)替代硅轉接板,通過有機基板上的銅布線實現芯片互連。盡管其線寬/線距(L/S)通常維持在2μm/2μm級別,較硅轉接板的1μm/1μm稍顯寬松,但有機基材的低成本與易加工特性使其在加速器領域獲得廣泛采用。AMD MI300系列APU即采用該技術,通過RDL層將GPU與HBM內存垂直堆疊,在保持1.2TB/s帶寬的同時,將封裝成本降低30%。值得補充的是,三星近期公布的X-Cube 3D技術亦采用類似RDL方案,但其通過混合鍵合(Hybrid Bonding)將互連節距壓縮至4μm,在成本與性能間形成新平衡點。

在需要局部高密度的復雜系統中,CoWoS-L平臺通過嵌入式LSI(局部硅互連)芯片解決了傳統RDL的密度瓶頸。該技術將微型硅橋接片嵌入RDL層中,在特定區域實現亞微米級互連(如0.8μm節距),同時保留有機基板的大面積布局優勢。英特爾在Ponte Vecchio GPU中采用的EMIB(嵌入式多芯片互連橋接)技術即屬此類,其LSI芯片通過預先植入的深溝槽電容(DTC)有效抑制電源噪聲,使多芯片系統在200W功耗下仍能維持1.2V的核心電壓穩定度。行業動態顯示,臺積電正將CoWoS-L與SoIC技術結合,開發出支持3D堆疊與2.5D互連的混合架構,預計2025年量產的CoWoS-L Gen2工藝將實現LSI芯片與RDL層的無縫集成,進一步縮小先進封裝與單片SoC的性能差距。

從技術演進路徑看,CoWoS平臺正通過材料創新與工藝解耦持續拓展邊界。硅轉接板向玻璃基板的過渡研究已進入實操階段,玻璃基板的高平整度與超薄化特性可支持更精密的TSV制造;而RDL層與LSI芯片的協同設計,則推動封裝從被動互連向主動功能集成轉型。這些進展共同印證了先進封裝技術正在從"連接載體"演變為"系統賦能者",為摩爾定律的延續提供關鍵支撐。

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原文標題:集成扇出(InFO)應用——3D封裝與CoWoS封裝

文章出處:【微信號:bdtdsj,微信公眾號:中科院半導體所】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

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