引言

在電子設(shè)備研發(fā)領(lǐng)域，模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）的性能直接決定了系統(tǒng)的好壞，因此ADC測(cè)試環(huán)節(jié)是必不可少的。ADC測(cè)試通常需要從精度、功耗、傳輸速度等多個(gè)方面進(jìn)行評(píng)估，以確保其能夠滿足設(shè)計(jì)需求與實(shí)際應(yīng)用中對(duì)準(zhǔn)確性和可靠性的需求。如何從噪聲干擾、信號(hào)失真、環(huán)境波動(dòng)等諸多影響因素中實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的ADC測(cè)試？音頻分析儀A10為工程師們提供了一個(gè)不錯(cuò)的ADC測(cè)試解決方案。

三大核心優(yōu)勢(shì)

出色的硬件測(cè)試設(shè)備

傳統(tǒng)信號(hào)源精度不足？A10作為一款專為研發(fā)設(shè)計(jì)的測(cè)試設(shè)備，集高精度信號(hào)源與分析儀于一身，更配備了專為ADC測(cè)試打造的ADCtest功能，幅度精度可達(dá)±0.03dB，殘余THD+N（20kHz BW）小于-117dB，以此提供穩(wěn)定的測(cè)試信號(hào)，并且支持頻率范圍5Hz～204kHz的模擬信號(hào)，能夠滿足工程師們的大部分測(cè)試需要。

豐富的測(cè)試指標(biāo)，支持一鍵參數(shù)分析

除了ADCtest測(cè)試功能以外，設(shè)備還提供信噪比（SNR）、信納比（SINAD）、有效位數(shù)（ENOB）等多種指標(biāo)測(cè)試功能。工程師可以根據(jù)測(cè)試需要選擇不同的測(cè)試項(xiàng)，或者直接設(shè)置測(cè)試模板一鍵實(shí)現(xiàn)多個(gè)指標(biāo)的自動(dòng)測(cè)試。

信噪比（SNR）：反映了在一個(gè)通信系統(tǒng)中，信號(hào)在傳輸與處理過(guò)程中受到噪聲干擾的程度；

信納比（SINAD）：反映了信號(hào)幅度與其他所有頻譜成分（包含諧波但不包含直流）信號(hào)之間的比例關(guān)系，能夠很好的反映ADC的整體動(dòng)態(tài)性能；

有效位數(shù)（ENOB）：一個(gè)ADC的分辨率通常是由用來(lái)表示模擬值的位數(shù)規(guī)定的。例如，一個(gè)12位的ADC，在理想情況下，其有效位數(shù)幾乎為12。然而，在實(shí)際應(yīng)用中，由于真實(shí)的信號(hào)存在噪聲，以及真實(shí)電路的不完美性會(huì)引入額外的噪聲和失真，這些因素都會(huì)減少ADC的精度位數(shù)。因此，ENOB作為一個(gè)更實(shí)際的性能指標(biāo)，用于描述ADC在特定條件下的有效分辨率。

硬件級(jí)防護(hù)，守護(hù)研發(fā)安全

工程師不僅可以靈活的設(shè)置測(cè)試信號(hào)的輸出幅度以及頻率， 如圖1所示A10還支持共模電壓的設(shè)置，并提供了Pin腳電壓門限設(shè)置功能，從而更有效地保護(hù)測(cè)試電路，確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和安全性。

圖1

±0.1mV共模電壓微調(diào)，精準(zhǔn)匹配復(fù)雜電路偏置需求；

可設(shè)置引腳保護(hù)閾值：過(guò)壓自動(dòng)切斷，避免芯片燒毀風(fēng)險(xiǎn)。

產(chǎn)品介紹

圖2?音頻分析儀A10

標(biāo)配支持SPDIF/TOSLINK/AES/EBU數(shù)字接口；

支持BT/HDMI/I2S/PDM等多種數(shù)字接口擴(kuò)展；

完整強(qiáng)大的電聲分析儀功能；

免代碼的自動(dòng)化及全面API接口；

支持LabVIEW,VB.NET,C#.NET；

自動(dòng)生成各種格式的測(cè)試報(bào)告；

多達(dá)60項(xiàng)測(cè)試功能，其中包括示波器，頻譜分析儀，連續(xù)快速掃描等。

想要了解更多關(guān)于ADC測(cè)試的內(nèi)容，歡迎咨詢北京度緯科技有限公司,聯(lián)系電話010-64327909。

審核編輯 黃宇