2024 年 12 月 7日，由世紀電源網主辦的第十五屆亞洲電源技術發展論壇在深圳萬麗酒店盛大啟幕，麥科技(Micsig)應邀參加本次論壇活動，與眾多業內專家一起深度交流在電力電子測試測量行業的新技術和解決方案，同時在電源行業配套品牌頒獎晚會上，憑借硬核研發實力與超高品質的產品，榮獲光隔離探頭卓越獎。

現場直擊

論壇當天，麥科信(Micsig)展臺熱鬧非凡，大家圍繞電源技術實戰經驗各抒己見，更有專業大咖"有備而來"，帶著測試板現場使用光隔離探頭進行實測，并對測試效果表示非常滿意。

麥科信(Micsig)深耕行業多年，作為平板示波器開創者、光隔離探頭引領者，一直致力于解決電源行業上下游廠商的痛點與訴求，推出功率半導體應用場景測試測量解決方案，此次得獎正是來自于國內外行業客戶對麥科信(Micsig)產品的認可。

光隔離探頭案例分享

光隔離探頭在雙脈沖實驗的應用

光隔離探頭在雙脈沖測試中扮演著重要的角色，我們以MOSFET的半橋柵極驅動電路為例，我們需要測試下管的Vds、Id 和 Vgs，同時也需要觀察上管的Vgs。這里我們使用光隔離探頭測試上管Vgs信號，同時推薦選用麥科信MHO高分辨率示波器3系，高達500MHz帶寬，3GSa/s采樣率，4個通道，可以支持同時觀察上下管的開關，以及Id波形。

有不少用戶會有疑問：“之前一直使用的麥科信DP系列高壓差分探頭，在測試硅器件的時候表現很好，7000V的電壓都能測，帶寬也不低（500MHz），現在切換到GaN、SiC器件了，按說可以滿足這些器件的帶寬指標參數了，測試下管也可以，但為什么測試上管的電壓總出問題？”

碳化硅（SiC）和氮化鎵(GaN)的開關動作時間

通過上圖數據分析對比后我們發現，碳化硅（SiC）和氮化鎵（GaN）的開關速度都達到了ns級別，這一特點的顯著優勢，就是降低了開關電源的能耗，但這也給測試帶來了巨大挑戰。在半橋電路中，上管Vgs電壓懸浮在不斷導通與關斷的下管Vds， Vds電壓在幾個納秒的時間內就能完成零伏到上千伏的跳變，高壓疊加高頻，使得高次諧波分量顯著增加。而我們的被測對象Vgs的差模電壓往往只有十幾伏，它會顯著受到Vds高次諧波分量部分帶給它的共模干擾，我們在測量的時候需要盡量抑制這個共模干擾，這就要求測試設備在高頻段依然具備很高的共模抑制能力，這個參數指標叫做共模抑制比（CMRR)。

以麥科信高壓差分探頭DP系列為例，在100kHz時，CMRR＞-70dB；在20MHz時，CMRR＞-40dB；120MHz時，CMRR為>-26dB，對于差分探頭而言，這個CMRR在同行里已經非常優秀，但滿足我們測量上管Vgs的要求還是遠遠不夠，我們需要一個測試設備在高頻段依然具有很高的CMRR。

高壓差分探頭和光隔離探頭實測對比

關于CMRR對測試的影響，我們做個對比，看看高壓差分探頭在測試SiC器件時產生的問題，以及具有高CMRR的探頭測試對比情況：

碳化硅IGBT雙脈沖測試，光隔離探頭和差分探頭同時連接上橋臂Vge接線圖

測試方式：被測器件SiC開關，具有上、下管，Vce電壓500V左右，同時使用高壓差分探頭和光隔離探頭（使用麥科信光隔離探頭MOIP系列）同時連接上管Vge信號，進行雙脈沖測試。

碳化硅IGBT雙脈沖測試，光隔離探頭（紅色波形）和差分探頭（白色波形）同時測量上橋臂Vge波形圖

上圖為測試結果圖，圖中白色信號是高壓差分探頭測試結果，可以看到在Vge上升時刻，上下震蕩劇烈，幾乎分辨不出本來的波形；我們曾使用高壓差分探頭測試過一個Vce電壓達到800V時的上管Vge信號，震蕩已經超過了SiC的關斷電壓，會嚴重影響工程師的判斷。

而圖中紅色的波形是采用光隔離探頭測試的，信號的干擾就小多了。如果采用光隔離探頭單獨測試的話，幾乎沒有干擾，這上面看到的干擾是高壓差分探頭對光隔離探頭造成的影響。事實上，光隔離探頭其底噪相對于高壓差分探頭更低，精度更高，能夠測到的共模電壓也更大。這是怎么做到的呢？

光隔離探頭的優勢

麥科信采用獨家SigOFIT技術，測試之前選擇適合被測信號大小的衰減器，使得能夠滿量程測試從±0.01V至±6250V的差模信號，在適應大范圍測試的同時提高測試精度（達到1%），降低底噪，將信噪比提高。

麥科信光隔離探頭MOIP系列參數表

麥科信MOIP系列光隔離探頭，最高可達1GHz的帶寬，其最小底噪可以達到0.45mVrms以內。在1GHz頻段，CMRR依然高達100dB以上。因此，使用光隔離探頭測量上管Vgs就無需再考慮共模干擾的影響，完美解決了高壓差分探頭CMRR不足的問題。

麥科信光隔離探頭MOIP系列

此外，差分探頭由于引線長（一般在20cm左右），這兩根輸入線可以看作是一個天線，會接收外界的磁場干擾，由于氮化鎵的開關速度極快，其產生的磁場穿過高壓差分探頭輸入端時就會導致震蕩，有時候這個震蕩超過了一定極限，就會引起氮化鎵器件瞬間燒毀炸管。而光隔離探頭采用MCX或MMCX連接，引線極短，幾乎沒有天線效應，寄生電容在幾pF以內，斷絕了測試導致的寄生產生的安全隱患。

總結

著眼未來，麥科信將繼續秉持創新、專業、極致的理念，持續加大產品研發投入，助力每一位電子領域工作者與所在組織更加卓越，為國產測試測量行業的高質量騰飛貢獻磅礴力量。

關于麥科信

深圳麥科信科技有限公司是一家行業技術領先的信號測試測量設備研發制造商和方案提供商，國家級高新技術企業，專精特新企業。麥科信（Micsig）致力于信號測試測量領域前沿技術的研究和開發，尤其在示波器及示波器探頭產品領域我們一直走在創新的前沿，是平板示波器開創者，光隔離探頭引領者。

我們秉承使命和愿景，從專業出發，不斷突破技術邊界，助力每一位電子領域工作者與所在組織更加高效和卓越。

我們每一項創新只為突破產品的技術邊界，為行業發展趨勢探索新的可能。

公司主營產品有示波器系列：高分辨率示波器，平板示波器，汽車診斷示波器，分體式示波器，示波器探頭系列：光隔離探頭，高壓差分探頭，柔性電流探頭(羅氏線圈)，高頻交直流電流探頭，低頻交直流電流探頭等。