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3D堆疊發(fā)展過程中面臨的挑戰(zhàn)

半導(dǎo)體芯科技SiSC ? 來源:LIG ? 作者:LIG ? 2024-09-19 18:27 ? 次閱讀
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來源:睞芯科技LightSense

原文作者:LIG

本文簡單介紹3D堆疊發(fā)展過程中面臨的挑戰(zhàn)。

3D堆疊將不斷發(fā)展,以實現(xiàn)更復(fù)雜和集成的設(shè)備——從平面到立方體

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挑戰(zhàn)1:間距縮小

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挑戰(zhàn)2:缺陷

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挑戰(zhàn)3:高分辨率的CSAM(超聲掃描顯微鏡C-mode Scanning Acoustic Microscope)。CSAM是一種關(guān)鍵的計量學(xué),但更高的分辨率需要樣品制備/管芯薄化,而3D堆疊結(jié)構(gòu)并不總是能夠做到這一點。

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挑戰(zhàn)4:高分辨率成像。需要在成像方面進行創(chuàng)新,以非破壞性地快速檢測埋在多個界面下的細(xì)微缺陷。達到精細(xì)間距特征的高分辨率所需的樣品準(zhǔn)備和長掃描時間將減緩產(chǎn)量學(xué)習(xí)并影響上市時間。

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挑戰(zhàn)5:玻璃基板。玻璃提供了改進的材料性能,從而提高了尺寸穩(wěn)定性和縮放能力。

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挑戰(zhàn)6:裂痕檢查。需要新的在線計量來快速檢測玻璃基板中的微米級裂紋。左圖:分片時導(dǎo)致的邊緣缺陷;右圖:如果未被發(fā)現(xiàn),可能會變得嚴(yán)重的裂縫會失效。

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挑戰(zhàn)7:Co-Packaged Optics共封裝光學(xué)器件。集成波導(dǎo)的玻璃橋是實現(xiàn)大容量兼容可插拔解決方案的關(guān)鍵。玻璃中光波導(dǎo)三維映射的無損方法+透明基板上精細(xì)特征的高精度測量。

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挑戰(zhàn)8:計量。需要在過程工具內(nèi)實現(xiàn)更高水平的計量集成,以實現(xiàn)實時過程反饋和控制。

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