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      立儀科技光譜共焦應用之金屬隔膜靜態(tài)重復性測量

      h1654156072.2321 ? 來源：h1654156072.2321 ? 作者：h1654156072.2321 ? 2024-08-09 14:33 ? 次閱讀
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      01｜檢測需求：金屬隔膜重復性測量


      立儀科技光譜共焦應用之金屬隔膜靜態(tài)重復性測量

      02｜檢測方式

      為了保證精度，首先先用千分尺進行測量，得出相應的厚度數據，在選擇合適的側頭，根據結果，我們現在立儀科技H4UO控制器搭配D27A20側頭

      03｜千分尺測量結果


      經過測量可以厚度是84微米

      wKgaoma1uEqAPWEyABvOKI0cf1w864.jpg立儀科技光譜共焦應用之金屬隔膜靜態(tài)重復性測量

      04｜光譜共焦測量結果


      經過測量可以厚度83.417μm


      wKgZoma1uEyAIDkCAAHu5_0SC2M762.png立儀科技光譜共焦應用之金屬隔膜靜態(tài)重復性測量

      05｜60秒內重復精度展示（部分）


      60秒內重復精度展示（部分）


      wKgaoma1uEyAEe07AADmww-fAFQ622.png立儀科技光譜共焦應用之金屬隔膜靜態(tài)重復性測量

      06｜光譜共焦側頭


      D27A20側頭相關參數

      wKgZoma1uEyAA0o5AAeDmzGaL_g116.png立儀科技光譜共焦應用之金屬隔膜靜態(tài)重復性測量

      審核編輯 黃宇

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