2024年7月，品英Pickering公司作為用于電子測試和驗證的模塊化信號開關和仿真解決方案的領先供應商，于近日推出新型低漏電流開關解決方案，面向半導體測試，如WAT晶圓驗收測試中的低電流驅動保護測量。

新款產品基于開關隨動保護層(switched guard)設計原理，提供PXI、PXIe和LXI版本，整體設計確保隔離電阻高達1013Ω。

該產品系列包括三個系列，提供各種開關拓撲結構。

PXI模塊40-121系列提供兩種SPST通用開關配置(13或26個)或2:1(8或16組)多路復用開關。

PXI模塊40-590系列和PXIe模塊42-590系列，提供兩款矩陣開關(8x4或16x4)。

LXI模塊65-290系列，基于Pickering公司的2U LXI模塊化機箱(型號65-200)設計，最多可容納6個8x16或16x16矩陣開關模塊。模塊從機箱的前部推入，便于后期擴展和維護。

為了確保測試系統未來的可擴展性，PXI/PXIe型號40/42-590和LXI型號65-290產品均擁有loop-thru拓展接口，其中矩陣規模大小可以通過使用符合標準的短電纜在機箱中互連相鄰模塊來擴展——PXI/PXI型號允許進行X軸擴展，而LXI型號允許進行X軸和Y軸擴展，可實現每個機箱高達 16x96 的矩陣大小，也可以通過簡單的連接靈活擴展到其他機箱。同時每個PXI模塊只占用一個機箱槽位。如此小的槽位占用是通過使用高密度同軸連接器來實現的，以此實現低漏電流驅動保護測量。

PXI 40-121模塊采用多路MS-M連接器，所有52個引腳(SPST開關)分布在兩個連接器之間，大大加快了連接和斷開的速度。40/42-590和65-290系列采用帶絕緣蓋的MMCX微型同軸連接器，提供緊湊的單端口，降低布線復雜性，從而達成使用loop-thru來簡易地拓展矩陣規模的目的。

LXI型號65-200平臺還允許用戶加載預設置的測試序列，并通過軟件或硬件觸發器對它們進行控制，與標準的軟件驅動程序控制方式相比，節約了測試時間。這些測試序列存儲在本地LXI控制器上，減輕了主機CPU和以太網流量的負擔，最大限度地降低了整體系統延遲。這些功能將優化半導體測試的體驗，因為在半導體測試中，每個被測設備可能需要測試數千次。

Pickering開關產品經理Steve Edwards表示：“本次所有產品均采用Pickering集團下專注于繼電器設計生產制造的Pickering Electronic公司定制生產的的高品質鍍釕舌簧繼電器。這些開關采用內部結構設計，可為新的開關保護模塊提供必要的隔離度，以保證較長的使用壽命。Pickering還提供標準和定制電纜解決方案，可以幫助將產品集成到用戶的測試系統中。”