三坐標(biāo)測量儀（CMM）與影像測量儀在測量維度、測量方式和主要測量工件類型方面存在顯著區(qū)別：

1、測量維度不同

三坐標(biāo)測量儀：三坐標(biāo)測量儀能夠測量三維坐標(biāo)系內(nèi)的點，即每個點都有其唯一的三維坐標(biāo)值（x, y, z）。這種測量方式使得三坐標(biāo)測量儀在測量精度上非常高，適用于需要精確三維測量的場合。

影像測量儀：影像測量儀主要測量二維空間坐標(biāo)系內(nèi)的點，即每個點的坐標(biāo)值僅在二維平面上定義（x, y）。影像測量儀通常用于獲取工件的二維影像，并通過圖像處理技術(shù)進行測量，適用于需要二維平面測量的場合。

2、測量方式不同

三坐標(biāo)測量儀：三坐標(biāo)測量儀通過使用測頭接觸工件來獲取點的三維坐標(biāo)值。這種接觸式測量方式可以非常精確地測量工件的尺寸和形狀，但可能不適合測量軟質(zhì)或易損的工件。

影像測量儀：影像測量儀通過光學(xué)鏡頭獲取工件的圖像，然后通過圖像處理軟件進行測量。這種非接觸式測量方式不會對工件造成損傷，適用于各種類型的工件，包括軟質(zhì)或易損的工件。

3、主要測量工件類型不同

三坐標(biāo)測量儀：三坐標(biāo)測量儀適用于需要高精度三維測量的場合，如航空航天、汽車制造、精密機械等領(lǐng)域。它在測量精度上具有優(yōu)勢，但可能不適合測量小薄軟等類型的工件。

影像測量儀：影像測量儀適用于需要二維平面測量的場合，如電子、模具、注塑、五金、橡膠、低壓電器等領(lǐng)域。它在測量效率和非接觸測量方面具有優(yōu)勢，但可能不適合需要三維測量的場合。

綜上所述，三坐標(biāo)測量儀和影像測量儀各有優(yōu)勢和適用場景，它們是兩種互補的高精密測量儀器。在實際應(yīng)用中，應(yīng)根據(jù)工件的特性和測量需求選擇合適的測量設(shè)備。