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一學就會的SPC

半導體封裝工程師之家 ? 來源:半導體封裝工程師之家 ? 作者:半導體封裝工程師 ? 2024-03-18 08:39 ? 次閱讀
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SPC—統(tǒng)計過程控制,要解決兩個問題:1.過程穩(wěn)定不穩(wěn)定?2.過程能力夠不夠?穩(wěn)不穩(wěn)定的問題,依靠“控制圖”來解決;能力夠不夠的問題,依靠“過程能力”來解決。

01 控制圖,是質(zhì)量管理先驅(qū)休﹒哈特(見圖一)帶領(lǐng)團隊開發(fā)出來的

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圖一休·哈特

它是將正態(tài)分布圖逆時針旋轉(zhuǎn)90°得到的,取±3σ(標準差)作為控制限。控制圖由三部分組成:1)數(shù)據(jù)點;2)中心線centerline=CL;3)控制限UCL/LCL=X± 3σ,如圖二所示。

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圖二控制圖的組成

控制圖的理論依據(jù)有兩個:1.質(zhì)量波動原理;2.小概率事件。因此控制圖有一定的抽樣風險(錯報或漏報),降低風險可借助8條判異原則,如圖三所示。這8條判異原則可借助1、(2、3) 、(4、5) 、 6、8 、9、14 、15這些數(shù)字來方便記憶。

典型特殊原因識別準則的匯總
1 一個點遠離中心線超過3個標準差
2 連續(xù)9點位于中心線一側(cè)
3 連續(xù)6點上升或下降
4 連續(xù)14點交替上下變化
5 2/3的點距中心線的距離超過2個標準差(同一側(cè))
6 4/5的點距中心線的距離超過1個標準差(同一側(cè))
7 連續(xù)15個點排列在中心線1個標準差范圍內(nèi)(任一側(cè))
8 連續(xù)8個點距中心線的距離大于1個標準差(任一側(cè))

圖三 8條判異原則

控制圖跟數(shù)據(jù)類型有關(guān),不同的數(shù)據(jù)類型對應不同的控制圖,其對應關(guān)系如圖四所示。

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圖四數(shù)據(jù)類型與控制圖對應關(guān)系

控制圖中最常用是均值—極差圖,即Xbar—R控制圖,其中心線和控制限的計算公式如下:

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圖五Xbar—R圖中心線和控制限的計算公式

02 過程能力以最常用的過程能力指數(shù)—Cpk來說明

過程能力指數(shù)—Cpk,是指過程的加工質(zhì)量滿足技術(shù)標準的能力,計算公式Cpk=min{(USL-Xbar)/3σ,(Xbar-LSL)/3σ}。他的應用條件是過程穩(wěn)定且數(shù)據(jù)是正態(tài)分布的質(zhì)量特性。

過程能力指數(shù)Cpk值的評價參考標準如下:

Cpk值的范圍 過程能力的評價參考
Cpk≥1.67 過程能力滿足要求,可簡化質(zhì)量檢驗工作
1.33≤ Cpk < 1.67 過程能力尚可,但需要改善
1.00≤ Cpk< 1.33 過程能力不足

在中心值無偏移的情況下,Cpk值與不良PPM對應關(guān)系如下:

Cpk值 不良PPM
1.0 2700
1.33 63
1.67 0.57

03 掌握了控制圖和過程能力指數(shù)Cpk的知識后,你就可以輕松地按照如下步驟導入SPC

步驟1:確定質(zhì)量指標,收集數(shù)據(jù)。一般取25個子組,子組大小為5。如對5A管梁左段孔徑5.5±0.1mm尺寸進行連續(xù)抽樣,并記錄在預先設(shè)計好的表格中,數(shù)據(jù)如下:

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步驟2:計算觀測值的總均值X=5.50,平均極差R=0.05。

步驟3:計算R圖控制線、X圖控制線,并作圖。

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步驟4:依據(jù)判異原則判定,其生產(chǎn)過程處于穩(wěn)定受控狀態(tài)。

步驟5:計算過程能力指數(shù)Cpk=1.57,能力尚可,滿足技術(shù)要求。

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步驟6:延長X-R控制圖的控制線,作控制用控制圖,進行日常管理。

審核編輯 黃宇

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