工業顯微CT機X射線微焦點斷層掃描系統-Xradia Context microCT是一款大觀察視野、無損3DX射線微焦點計算斷層掃描系統, 現已加入蔡司X射線成像產品組合。蔡司Xradia Context是一款能滿足多種3D表征和檢測需求的成像解決方案, 不僅能夠在3D全景中展示完整大樣品的內部細節，還能針對小樣品使用大的幾何放大倍數實現高分辨率和高襯度成像觀察細節特征。Xradia Context建立在歷經考驗的蔡司 Xradia平臺之上, 圖像質量、穩定性和易用性均屬上乘, 且具備高效的工作流環境和高通量掃描功能。

全情景三維成像
高像素密度探測器（六百萬像素）能夠在完整的3D環境中解析精細細節，即使在相對較大的成像體積內也是如此。或者使用小樣本最大化幾何放大倍率，以識別和表征襯度和清晰度的微米級結構。快速的樣品安裝和校準，流程化的的采集工作流程，快速曝光時間和數據重建以及可選的自動加載器系統使Xradia Context成為高通量成像的利器，可滿足廣泛的3D成像和表征需求。

成熟的Xradia系列產品，數據質量可靠
Xradia Context建立在經過時間考驗和備受推崇的Xradia技術之上，在系統穩定性、圖像質量和可用性三方面被反復證實可靠。Scout-and-Scan控制系統提供高效的工作流環境。使用Autoloader擴大已有系統，實現自動處理和多達14個樣品的順序掃描。還可以用來做4D研究以測量材料微觀結構在不同條件下的變化。