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防止VBUS誤觸至CC and SBU造成端口失效的TVS防護方案

光與電子加油 ? 來源:jf_98060606 ? 作者:jf_98060606 ? 2023-11-28 14:15 ? 次閱讀
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AMAZINGIC晶焱科技提供防止VBUS誤觸至CC and SBU造成端口失效的TVS防護方案

2013年,USB-IF協會發布了Type-C端口,此接口一經推出,就受到廣大消費者以及業界的歡迎。Type-C端口小巧,支持正反插,不僅是信號傳輸的端口,同時也是供電端口。目前主流設備支持的PD 3.0協議最高可以達到20V,5A的規格。對于信號傳輸,Type-C端口更是最高可以支持到USB4 40Gbps的超高規格,并且還可以兼容DP等視頻協議。

Type-C具有很多的優點,端口尺寸僅有8.6mm*2.6mm,支持正反插并且功能豐富。但是事物都具有兩面性,在如此緊湊的空間內,連接器PIN腳數量達到了24pin,引腳之間的間距非常小。在復雜的實際應用場景中,容易造成pin腳之間搭接、錯位。其中最危險的情況就是VBUS在正常提供20V的DC Power時,短接到CC或者SBU pin(如圖1所示)。由于CC和SBU pin正常的工作電壓是5V左右,當有20V的DC Power短接時,可能會造成后端IC燒毀和端口的TVS損壞。所以在端口防護設計時候,除了要滿足ESD和EOS的防護要求外,還要考慮到如果VBUS短接到CC和SBU時,不能出現硬件損壞。

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圖1. Type-C接口的引腳分布

正是考慮到終端客戶的這種失效模式,許多消費類產品的頭部廠商已經提出在CC和SBU端口上,除了已有的ESD測試之外,還要加入DC直流耐壓測試,也就是進行20V DC Power持續1分鐘~3分鐘不等的直流耐壓測試。目前主流的設計架構是靠近Type-C端口放置TVS,后端選擇帶OVP(Over voltage protection)的USB控制芯片,這樣的設計架構才能夠保證端口有足夠的防護能力。但是如果仍然使用傳統的VRWM=5V的TVS,將會導致DC直流測試無法通過,所以必須要使用VRWM≥20V的TVS,這種使用方法又帶來了一個問題,傳統VRWM≥20V的TVS其鉗位電壓VCL(Clamping voltage)也會很高,導致其ESD/EOS保護效果較差,甚至會導致整機ESD Pin injection測試失敗。所以需要一種能夠既能滿足直流耐壓測試,又能夠有良好保護效果的TVS,晶焱科技推出了專門針對這種應用場景的AZ5H25-01B。 AZ5H25-01B的特點在于與傳統的5V TVS不同,其VBV(崩潰電壓)不再是6V左右,而是確保在26.5V之前,TVS不會啟動(如表1),這保證了20V直流測試時,AZ5H25-01B不會誤啟動,避免了TVS管被直流能量燒毀的風險。同時,AZ5H25-01B的ESD鉗位電壓在8kV時僅有10V,能夠幫助整機輕松的通過ESD測試。并且其浪涌耐受度也可以達到6.5A(8/20μS,IEC61000-4-5),有較好的EOS防護能力。

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表1. AZ5H25-01B電氣參數

AZ5H25-01B的ESD鉗位電壓非常優秀,有一個原因是TVS在啟動之后,snap-back電壓的最低點VHOLD可以做到約6V(如圖2所示)。這樣既可以達到降低鉗位電壓的目的,又可以保證不會影響到CC/SBU的信號,避免Latch-up。晶焱科技將AZ5H25-01B定義為VRWM=5V,這樣可以完全避免工程師根據VRWM來選擇TVS時可能面臨的Latch-up風險。

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圖2. AZ5H25-01B TLP特性曲線

AZ5H25-01B的封裝大小為0201,體積小,擺放靈活,能夠滿足日益增長的設備小型化需求,在USB 4的全功能接口上,晶焱科技能夠提供包括超高速信號端口使用的超低電容TVS AZ5B9S-01F; CC/SBU滿足直流耐壓測試,靜電鉗位電壓超低的AZ5H25-01B;滿足VBUS高浪涌測試的AZ4520-01F/AZ4920-01F。示例LAYOUT如圖3所示。

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圖3. AZ5H25-01B Type-C USB4端口Layout示例

隨著時代的發展,Type-C端口的使用率越來越高,使用場景也越來越復雜,隨之而來的是設備返修率升高。所以在系統設計的時候,不僅要考慮到ESD和EOS防護,還要考慮到直流耐壓測試等特殊狀況。晶焱科技可以提供數百種類的產品,協助客戶提高產品的魯棒性,降低返修率,使產品更加可靠。

審核編輯:湯梓紅

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