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使用OI-EASU321對芯片進行EMI表面掃描測試實例

海洋儀器 ? 2023-11-25 08:30 ? 次閱讀
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OI-EAS系列電磁干擾掃描儀是一款具有四高特征的產品:高性能、高柔性組合、高性價比、高端技術;也是一款自主品牌國產化的電磁兼容測試設備,產品參考GB9254、GB18655、GJB151B、IEC61697-3等電磁兼容測試標準進行設計。OI-EAS系列EMI掃描儀是一套四向定位系統,與近場探頭和頻譜干擾接收機相結合,完成PCB板或類似電源適配器、智能穿戴電子設備等小型電子產品以及芯片的輻射騷擾自動測試;可用于測試PCB板、小型電子設備、器件等產品的電磁兼容性,精度可達±0.05mm。具有非常友好的設備兼容性,可兼容市面上主流的頻譜、接收機和近場探頭組等。今天我們使用OI-EASU321對泰克示波器演示版DPO DEMO 2 進行掃描測試。

測試設備:

羅德與施瓦茨頻譜分析儀FPC1500;掃描儀OI-EASS321;固緯EMI電場探頭PR-02;

本次測量只對晶振和芯片附近進行掃描,掃描區域尺寸(紅色框內)40mm*80mm;

e35deb1a-8b29-11ee-9788-92fbcf53809c.png

我們先設定設備參數:掃描頻率:520MHz;分辨率帶寬:10kHz;檢波器類型:最大峰值檢波;步進:2mm;經過一段時間的掃描后我們可以得到如下效果圖:

e3890520-8b29-11ee-9788-92fbcf53809c.png

在520MHz可以明顯看出被測樣品掃描區域的對外輻射情況,圖片下方紅色區域是FlexRAY插針,圖片中部黃色區域是SG-625PHC晶體振蕩器

其他測試圖片如下:

e3a0e212-8b29-11ee-9788-92fbcf53809c.png

e3c6072c-8b29-11ee-9788-92fbcf53809c.png

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