伴隨著我國(guó)科技水平的飛速發(fā)展和5G時(shí)代的到來(lái)，汽車(chē)自動(dòng)駕駛功能在現(xiàn)實(shí)中得到了日益廣泛的應(yīng)用。

激光雷達(dá)由于具有高精度與高適用性以及高環(huán)境感知力等特點(diǎn)，成為自動(dòng)駕駛與高級(jí)駕駛輔助系統(tǒng)中的核心硬件，同時(shí)獲得新的發(fā)展機(jī)遇。從有關(guān)資料來(lái)看，激光雷達(dá)的整個(gè)市場(chǎng)正面臨著一個(gè)高速的增長(zhǎng)，預(yù)計(jì)2025年全球市場(chǎng)規(guī)模將達(dá)到135.4億美元(約合870億元人民幣)，前景十分可期。

激光雷達(dá)光電組件

激光雷達(dá)由激光發(fā)射，掃描系統(tǒng)，激光接收以及信息處理4大系統(tǒng)組成。激光發(fā)射與激光接收作為激光雷達(dá)光電組件組成部分。

其中，發(fā)射模塊內(nèi)激光器發(fā)射脈沖激光并經(jīng)過(guò)光束控制器，發(fā)射光學(xué)系統(tǒng)，將激光照射至目標(biāo)物體，常見(jiàn)的激光發(fā)射器包括邊發(fā)射激光器（Edge Emitting Laser，EEL）、垂直腔面發(fā)射激光器（Vertical Cavity Surface Emitting Laser，VCSEL）。

以及接收系統(tǒng)，用于將所述目標(biāo)對(duì)象反射回的激光轉(zhuǎn)換為接收信號(hào)，主要包括雪崩二極管（Avalanche Photo-Diode，APD）、單光子雪崩二極管（Single Photon Avalanche Diode，SPAD）、硅光電倍增管（Silicon photomultiplier，SiPM）。

激光雷達(dá)結(jié)構(gòu)拆分（資料來(lái)源：麥姆斯，長(zhǎng)江證券研究所）

08nm VCSEL Diodes(2-10W)_新亮光子（brightphoton.cn） 雪崩二極管（APD）_光傳感器

車(chē)規(guī)AEC-Q可靠性的要求

根據(jù)激光雷達(dá)在車(chē)輛上的使用場(chǎng)景以及車(chē)輛本身高可靠性的需求，激光雷達(dá)及各部件進(jìn)入車(chē)用供應(yīng)鏈需要經(jīng)過(guò)苛刻的可靠性驗(yàn)證。

AEC-Q102是公認(rèn)、通用的光電半導(dǎo)體國(guó)際可靠性驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)，可為相關(guān)產(chǎn)品提供全面詳盡的驗(yàn)證方案。

中國(guó)作為世界第一新能源汽車(chē)大市場(chǎng)，其產(chǎn)品力持續(xù)增強(qiáng)，推動(dòng)產(chǎn)業(yè)供應(yīng)鏈持續(xù)重塑和優(yōu)化，為國(guó)內(nèi)激光雷達(dá)產(chǎn)業(yè)發(fā)展帶來(lái)新機(jī)遇。而對(duì)激光雷達(dá)核心光電部件（激光器、探測(cè)器）進(jìn)行車(chē)規(guī)驗(yàn)證，則是論證其質(zhì)量和可靠性的一種重要方法。

AEC-Q102驗(yàn)證可有效解決國(guó)產(chǎn)元器件不敢用、怎么用的問(wèn)題，幫助其扎根車(chē)規(guī)供應(yīng)鏈。

AEC-Q102激光雷達(dá)組件可靠性需求分為環(huán)境應(yīng)力加速實(shí)驗(yàn)，加速壽命仿真實(shí)驗(yàn)，封裝完整性檢測(cè)，電氣特性校驗(yàn)實(shí)驗(yàn)，腔封裝完整性校驗(yàn)實(shí)驗(yàn)等。測(cè)試要求為零失效，并經(jīng)過(guò)對(duì)應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的所有測(cè)試項(xiàng)目后，供應(yīng)商才可宣稱(chēng)產(chǎn)品已經(jīng)過(guò)對(duì)應(yīng)AEC-Q認(rèn)證。

AEC-Q102流程圖（來(lái)源：AEC-Q102 Rev A標(biāo)準(zhǔn)）

技術(shù)難點(diǎn)

近幾年激光雷達(dá)光電組件制造商逐漸出現(xiàn)于國(guó)內(nèi)市場(chǎng)，元器件制造技術(shù)與結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)也在不斷更新?lián)Q代，這對(duì)元器件核查技術(shù)手段提出了新的需求。

目前針對(duì)激光雷達(dá)組件AEC-Q102環(huán)境應(yīng)力與壽命試驗(yàn)主要有批次或批量驗(yàn)證一致性，施加應(yīng)力的過(guò)程監(jiān)測(cè)、應(yīng)力條件不滿足規(guī)范或器件故障模型要求，對(duì)規(guī)范條款的適用性進(jìn)行了詮釋等。例如VCSEL的短脈沖加電試驗(yàn)、APD光照下HTRB、應(yīng)力試驗(yàn)前后功能驗(yàn)證問(wèn)題。