国产精品久久久aaaa,日日干夜夜操天天插,亚洲乱熟女香蕉一区二区三区少妇,99精品国产高清一区二区三区,国产成人精品一区二区色戒,久久久国产精品成人免费,亚洲精品毛片久久久久,99久久婷婷国产综合精品电影,国产一区二区三区任你鲁

0
  • 聊天消息
  • 系統消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發帖/加入社區
會員中心
創作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內不再提示

Novator系列影像儀大幅提升半導體模具測量效率

中圖儀器 ? 2023-08-18 08:10 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

目前BGA封裝技術已廣泛應用于半導體行業,相較于傳統的TSOP封裝,具有更小體積、更好的散熱性能和電性能。

在BGA封裝的植球工藝階段,需要使用到特殊設計的模具,該模具的開窗口是基于所需的實際焊球大小和電路板焊盤尺寸考慮,模具的開窗口大小直接影響到錫球的尺寸,從而影響到最終的焊接效果:若孔徑過小形成凹點,會使得芯片與連接它的其它部件之間的接觸面積變小,導致信號傳輸不良、電氣性能下降等問題;若孔徑過大則會對焊盤產生壓力,使錫漿不易流動形成缺陷。因此該模具在使用前需要經過高精度的檢測,測量其開窗口大小是否合格,是否有臟污,每一個焊點的位置是否正確。

傳統的測量方式針對此類含有小特征多尺寸且無序排列的樣品,在創建模板時需要逐個識別提取,消耗測量人員時間精力,整板自動測量時,測量移動次數多,測量過程耗時長,效率低下。

中圖儀器Novator系列全自動影像儀,針對此類大尺寸多特征的樣品測量,有著顯著優勢:單視場范圍大,單視場內一次可完成約200個特征提取,無需多次移動;自動取圓工具,針對無序排列特征,無需測量人員手動逐個特征提取,只需一鍵框選便可實現自動提取,并可自動標注直徑,輸出坐標位置;

9fd9344c-3d5b-11ee-ad04-dac502259ad0.png

特有的飛拍測量模式,在平臺快速移動過程中就完成特征提取,使測量流程更流暢,測量時間更短。測量外形尺寸320mm×160mm,含有25920個圓的模具,僅需耗時5分鐘,針對此類特征密集排布型工件,飛拍測量充分發揮其優勢,對比傳統影像測量儀,測量時長由 1小時縮短至 5 分鐘,測量效率提升 10余倍,且測量精度無損失。

Novator系列全自動影像儀,可有效提升模具測量效率,減少人力資源消耗,為半導體行業降本增效。Novator系列全自動影像儀創新推出的飛拍測量、圖像拼接、環光獨立升降、圖像匹配、無接觸3D掃描成像等功能,多方面滿足客戶測量需求,解決各行業尺寸測量難題。

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規問題,請聯系本站處理。 舉報投訴
  • 半導體
    +關注

    關注

    339

    文章

    30751

    瀏覽量

    264342
  • 電路板
    +關注

    關注

    140

    文章

    5318

    瀏覽量

    108245
  • BGA
    BGA
    +關注

    關注

    5

    文章

    584

    瀏覽量

    51567
  • 測量
    +關注

    關注

    10

    文章

    5638

    瀏覽量

    116743
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關推薦
    熱點推薦

    TH2839精密阻抗分析測量半導體材料介電常數的方法

    TH2839精密阻抗分析基于自動平衡電橋原理,精度達0.05%,頻率范圍20Hz至10MHz,搭配專用夾具與上位機軟件,可精準測量半導體材料介電常數(ε?)及介質損耗角正切(tanδ)。其核心是通過
    的頭像 發表于 02-26 16:48 ?517次閱讀
    TH2839精密阻抗分析<b class='flag-5'>儀</b><b class='flag-5'>測量</b><b class='flag-5'>半導體</b>材料介電常數的方法

    四探針法測量半導體薄層電阻的原理解析

    半導體材料與器件的表征中,薄層電阻是一個至關重要的參數,直接關系到導電薄膜、摻雜層以及外延層的電學性能。為了精準測量這一參數,四探針電阻憑借其獨特的測試原理,有效消除了接觸電阻等寄生
    的頭像 發表于 01-14 16:51 ?721次閱讀
    四探針法<b class='flag-5'>測量</b><b class='flag-5'>半導體</b>薄層電阻的原理解析

    影像AI自動尋邊技術精準捕捉邊界測量,檢測效率翻倍!

    【智能制造測量影像測量儀的AI自動尋邊技術是通過深度學習模型,實現對工件特征的自主識別與邊緣精準提取。能解決質檢環節中多重邊界提偏、刀紋干擾、對比度低等測量痛點。
    發表于 11-18 10:16

    是德科技Keysight B1500A 半導體器件參數分析/半導體表征系統主機

    一臺半導體參數分析抵得上多種測量儀器Keysight B1500A 半導體參數分析是一款一體化器件表征分析
    發表于 10-29 14:28

    BW-4022A半導體分立器件綜合測試平臺---精準洞察,卓越測量

    。 2.**新器件性能評估** 對于新開發的半導體器件(如新型的晶體管結構、光電器件等),測試設備可以對其性能進行全面評估。在開發新型的光電探測器時,測試設備可以測量探測器的響應速度、量子效率等參數
    發表于 10-10 10:35

    金屬-半導體接觸電阻測量的TLM標準化研究:模型優化與精度提升

    Xfilm埃利測量專注于電阻/方阻及薄膜電阻檢測領域的創新研發與技術突破,致力于為全球集成電路和光伏產業提供高精度、高效率的量檢測解決方案。公司以核心技術為驅動,深耕半導體量測裝備及光伏電池電阻檢測
    的頭像 發表于 09-29 13:46 ?1626次閱讀
    金屬-<b class='flag-5'>半導體</b>接觸電阻<b class='flag-5'>測量</b>的TLM標準化研究:模型優化與精度<b class='flag-5'>提升</b>

    新思科技半導體設計解決方案拓展GenAI能力

    新思科技(納斯達克股票代碼:SNPS)近日宣布,為旗下行業領先的半導體設計解決方案拓展Synopsys.ai Copilot生成式人工智能(GenAI)功能。此舉可助力半導體開發團隊縮短開發周期、支持復雜度大幅
    的頭像 發表于 09-20 16:34 ?1572次閱讀

    三坐標如何實現測量效率提升

    精密制造的產線節奏日益加快,傳統三坐標測量機面臨著“要么放慢速度保精度,要么犧牲精度換速度”的困境制約著生產效率提升。MizarGold三坐標測量機通過材料創新與傳動優化,實現了
    的頭像 發表于 09-11 16:47 ?1505次閱讀
    三坐標如何實現<b class='flag-5'>測量</b><b class='flag-5'>效率</b>的<b class='flag-5'>提升</b>?

    橢偏半導體薄膜厚度測量中的應用:基于光譜干涉橢偏法研究

    的厚度與折射率的高精度表征,廣泛應用于薄膜材料、半導體和表面科學等領域。為解決半導體領域常見的透明硅基底上薄膜厚度測量的問題并消除硅層的疊加信號,本文提出基于光譜干
    的頭像 發表于 09-08 18:02 ?1823次閱讀
    橢偏<b class='flag-5'>儀</b>在<b class='flag-5'>半導體</b>薄膜厚度<b class='flag-5'>測量</b>中的應用:基于光譜干涉橢偏法研究

    鋁鑄件氣密性檢測:極速檢測,大幅提升生產效率-岳信儀器

    在制造業蓬勃發展的今天,鋁鑄件作為眾多行業不可或缺的基礎部件,其氣密性直接關系到產品的性能和質量。而鋁鑄件氣密性檢測憑借其極速檢測的特性,成為了大幅提升生產效率的關鍵利器。傳統的鋁鑄
    的頭像 發表于 08-21 17:18 ?596次閱讀
    鋁鑄件氣密性檢測<b class='flag-5'>儀</b>:極速檢測,<b class='flag-5'>大幅</b><b class='flag-5'>提升</b>生產<b class='flag-5'>效率</b>-岳信儀器

    深愛半導體 代理 SIC213XBER / SIC214XBER 高性能單相IPM模塊

    空間、降低研發生產成本,在小型家電中實現能效、空間與成本的優化平衡。 突破能效瓶頸,駕馭小型化浪潮!面對家電與工業驅動領域對高效率、極致緊湊、超強可靠性與成本控制的嚴苛需求,深愛半導體重磅推出
    發表于 07-23 14:36

    臺階高度的測量標準丨在臺階校準下半導體金屬鍍層實現測量誤差&amp;lt;1%

    半導體芯片制造過程中,臺階結構的精確測量至關重要,通常采用白光干涉或步進等非接觸式測量設備進行監控。然而,SiO?/Si臺階高度標準在
    的頭像 發表于 07-22 09:53 ?783次閱讀
    臺階高度的<b class='flag-5'>測量</b>標準丨在臺階<b class='flag-5'>儀</b>校準下<b class='flag-5'>半導體</b>金屬鍍層實現<b class='flag-5'>測量</b>誤差&amp;lt;1%

    金相測量顯微鏡助力半導體行業

    金相測量顯微鏡,作為工業精密檢測的利器,正在為半導體行業及其他高精尖領域注入新的活力。測量顯微鏡采用精密高清光學鏡頭,配合工業級彩色CCD影像系統,將被測工件的表面紋理清晰地呈現,輪廓
    的頭像 發表于 07-04 17:34 ?1377次閱讀
    金相<b class='flag-5'>測量</b>顯微鏡助力<b class='flag-5'>半導體</b>行業

    晶圓隱裂檢測提高半導體行業效率

    相機與光學系統,可實現亞微米級缺陷檢測,提升半導體制造的良率和效率。SWIR相機晶圓隱裂檢測系統,使用紅外相機發揮波段長穿透性強的特性進行材質透檢捕捉內部隱裂缺陷
    的頭像 發表于 05-23 16:03 ?824次閱讀
    晶圓隱裂檢測提高<b class='flag-5'>半導體</b>行業<b class='flag-5'>效率</b>

    用了氣門芯膠管測徑 測量效率蹭蹭漲

    人工參與,減少誤差的同時,提升效率。 常被應用于氣門芯的測徑技術參數 JG01/Z-DG15技術參數: 測量范圍(mm):0-15; 軋材直徑(mm):0.1-10
    發表于 04-18 14:18