IS802異常測(cè)試

使用儀器：

固緯GPD-4303S

SIGLENT-SDS2354X

福祿克 FLUKE 17B

測(cè)試電路：

圖1：IS802被測(cè)電路 IS802EVM

備注：所有測(cè)試項(xiàng)用的同一顆芯片

測(cè)試項(xiàng)1：負(fù)載短路

測(cè)試項(xiàng)1 測(cè)試條件1：

VCC=3.3V

EN=3.3V

測(cè)試波形：

圖2：VOUT輸出波形

圖3：VOUT 短路到開路后輸出波形

測(cè)試項(xiàng)1 測(cè)試條件2：

VCC=5V

EN=5V

測(cè)試波形：

圖4：VOUT輸出波形

圖5：VOUT 短路到開路后輸出波形

測(cè)試項(xiàng)2：引腳短路

測(cè)試項(xiàng)2測(cè)試條件1：

VCC=3.3V

EN=3.3V

D1和VCC 引腳短路，其他不變

測(cè)試波形：

圖6：上電后VOUT 波形

圖7：芯片溫度約44℃

圖8：IS802 短路D1時(shí)D2輸出波形

測(cè)試項(xiàng)2測(cè)試條件2：

VCC=3.3V

EN=3.3V

VOUT 輸出短路

D1和VCC 引腳短路，其他不變

測(cè)試波形：

圖9：VOUT輸出波形

圖10：VOUT 短路到開路后輸出波形

測(cè)試項(xiàng)2測(cè)試條件3：

VCC=5V

EN=5V

D1和VCC 引腳短路，其他不變

測(cè)試波形：

圖11：VOUT輸出波形

圖12：芯片溫度約45℃

圖13：D1短路時(shí)D2輸出波形

測(cè)試項(xiàng)2測(cè)試條件4：

VCC=5V

EN=5V

VOUT 輸出短路

D1和VCC 引腳短路，其他不變

測(cè)試波形：

圖14：VOUT 輸出波形

圖15：VOUT 短路到開路后輸出波形

測(cè)試項(xiàng)2測(cè)試條件5：

VCC=5V

EN=5V

VCC和D1引腳短路移除測(cè)試輸出情況

測(cè)試波形：

圖16：故障移除后VOUT上電波形

圖17：VOUT 輸出短路波形

圖18：VOUT 短路到開路后輸出波形

測(cè)試項(xiàng)3：輸入過壓

測(cè)試項(xiàng)3測(cè)試條件1：

VCC=EN=5.5V~break down Voltage

圖19：黃色-VCC色-D1 藍(lán)色-D2

圖20：黃色-VCC色-D1 藍(lán)色-D2

圖21：黃色-VCC色-D1 藍(lán)色-D2

圖22：黃色-VCC紅色-D1 藍(lán)色-D2

在輸入電壓約6.63V時(shí)候D1和D2不再輸出見圖19。當(dāng)電壓到達(dá)6.5V時(shí)D1和D2又繼續(xù)正常輸出見圖20，輸出電壓從8V掉到6.5V以后VOUT還是正常輸出，見圖21。

當(dāng)輸入電壓達(dá)到9.95V后D1和D2徹底沒有輸出，直接燒毀。

燒毀后VCC和GND,D1,D2,EN內(nèi)部短路。

結(jié)論

目前測(cè)試來看，只有輸入過壓會(huì)造成芯片損毀，輸入過壓值已經(jīng)遠(yuǎn)超手冊(cè)規(guī)定最大值。