国产精品久久久aaaa,日日干夜夜操天天插,亚洲乱熟女香蕉一区二区三区少妇,99精品国产高清一区二区三区,国产成人精品一区二区色戒,久久久国产精品成人免费,亚洲精品毛片久久久久,99久久婷婷国产综合精品电影,国产一区二区三区任你鲁

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫(xiě)文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

測(cè)試光源光通量的積分球測(cè)試系統(tǒng)

jf_79332942 ? 來(lái)源:jf_79332942 ? 作者:jf_79332942 ? 2023-07-25 15:48 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

積分球測(cè)試系統(tǒng)可以方便地測(cè)量光源光通量和輻射功率,進(jìn)而用于測(cè)試各種照明產(chǎn)品。

什么是積分球:
積分球又稱光通球,是具有高反射性內(nèi)表面的空心球體,用來(lái)對(duì)處于球內(nèi)或放在球外并靠近窗口處的試樣對(duì)光的散射或發(fā)射進(jìn)行收集的一種高效率器件。積分球內(nèi)壁涂有白色漫反射材料,也就是漫反射系數(shù)接近于1的材料,常用的材料是氧化鎂或者硫酸鋇,一般與膠質(zhì)粘結(jié)劑混合均勻后噴涂在內(nèi)表面。積分球的基本原理是光通過(guò)采樣口被積分球收集,在積分球內(nèi)部經(jīng)過(guò)多次反射后非常均勻地散射在積分球內(nèi)部。使用積分球來(lái)測(cè)量光通量時(shí),可使得測(cè)量結(jié)果更為可靠,積分球可降低并除去由光線地形狀、發(fā)散角度、及探測(cè)器上不同位置地響應(yīng)度差異所造成地測(cè)量誤差。

球體在光度學(xué)中有廣泛的應(yīng)用,在大多數(shù)應(yīng)用中,這些通用的光學(xué)元件與其他光電設(shè)備如光度計(jì)和輻射計(jì)一起使用。在研究實(shí)驗(yàn)室里,積分球可用于測(cè)量材料的透射率或反射率。球體也通常用于電子成像設(shè)備的校準(zhǔn)和光測(cè)量。

積分球反射率測(cè)量方法:
將樣品保持在0度端口中,并用入射光束照射,以確定通過(guò)180度端口的反射率。球體在空間上整合總反射輻射,并用擋板檢測(cè)器進(jìn)行測(cè)量。反射的鏡面輻射可以通過(guò)利用樣本保持器來(lái)清理,該樣本保持器使用垂直入射來(lái)反射任何入射的鏡面輻射。
“鏡面加漫反射”反射率可以使用8入射樣品架來(lái)測(cè)量。通過(guò)測(cè)量?jī)烧卟⑷∑浔戎担梢杂?jì)算出已知標(biāo)準(zhǔn)樣品的反射率。為了避免樣品反射率引起的錯(cuò)誤,樣品和標(biāo)準(zhǔn)品應(yīng)具有相同的反射率。雙光束系統(tǒng)可以用來(lái)消除這種潛在的測(cè)量誤差源。探測(cè)器安裝在一個(gè)90度的端口上。

總流量的測(cè)量:
光源(如燈)產(chǎn)生的總光通量是通過(guò)將光源置于光學(xué)元件內(nèi)部來(lái)測(cè)量的,光線被球壁多次反射,直到被光電探測(cè)器探測(cè)到。這種光度概念在工業(yè)中廣泛用于比較光源的流明輸出,以進(jìn)行制造質(zhì)量控制。這種配置所需的其他基本元件包括明視覺(jué)響應(yīng)檢測(cè)器和漫射器。

積分球透射比的測(cè)量:
入射到樣品上并穿過(guò)樣品的光稱為透光率。如果樣品具有低散射性(如干凈的稀釋溶液),幾乎所有未被吸收的光都將被透射。除了反射率測(cè)量之外,使用積分球時(shí)要考慮的另一個(gè)重要因素是透射率測(cè)量。

光譜輻射通量的測(cè)量:
為了測(cè)量光源產(chǎn)生的光譜輻射通量,積分球與光譜輻射計(jì)一起使用。該配置與測(cè)量總光通量的配置相同,只是用光譜輻射計(jì)代替了光電探測(cè)器。此外,這種設(shè)置適用于測(cè)量顯色指數(shù)、相關(guān)色溫和色度坐標(biāo)。

測(cè)試成像傳感器
球形端口允許該光學(xué)元件用作均勻的光源漫射體,來(lái)自漫射源的均勻輻照度可用于測(cè)試成像系統(tǒng),如CCD相機(jī)或陣列探測(cè)器。這種應(yīng)用的設(shè)置是通過(guò)將燈放置在球體內(nèi)部來(lái)實(shí)現(xiàn)的。燈的選擇取決于所需的輻射度。對(duì)于這種配置,不需要檢測(cè)器。

激光功率測(cè)量:
球體廣泛用于實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)中的激光功率測(cè)量,這些光學(xué)元件適用于測(cè)試高功率和低功率工業(yè)激光器。進(jìn)行激光功率測(cè)量時(shí),正確使用擋板有助于防止直接看到激光熱點(diǎn)。空間積分使得積分球成為測(cè)試激光二極管和其他呈現(xiàn)非對(duì)稱和發(fā)散特性的設(shè)備的合適選擇。此外,球體涂層的高反射率有助于保護(hù)表面材料免受極端高溫的影響。

測(cè)試固態(tài)照明產(chǎn)品:
LED燈和其他固態(tài)照明產(chǎn)品的性能特征是通過(guò)測(cè)試和評(píng)估光源產(chǎn)生的光效和總光通量獲得的,使用積分球可以獲得比色數(shù)據(jù)和總光通量的精確測(cè)量。盡管這些光學(xué)元件能夠精確測(cè)量上述參數(shù),但是它們不能測(cè)量光束的空間分布。為了測(cè)量這些光源的性能特征,球體通常與測(cè)角光度計(jì)一起使用。測(cè)角光度計(jì)可以精確測(cè)量空間分布。

積分球的總的光通量測(cè)試:
積分球包括最少兩部分—一部分用于樣品,另部分用于探測(cè)器。探測(cè)器為輻射通量而校準(zhǔn),但基本是測(cè)試球內(nèi)表面照度的。使用積分球測(cè)量LED光通量,需要根據(jù)LED的封裝尺寸及類型。

積分球要滿足下面要求以保證所有的曲面都具有相同的照度(測(cè)試區(qū)域的照度值將代表整個(gè)球的照度值):
探測(cè)接口處與球直徑比值最大1:3;
忽略樣品與樣品接口或者輔助燈的光線自吸收;
內(nèi)涂層具有高的反射與漫射系數(shù)(BaSO4);
符合CIE 127:2007以及IES LM-79所定義的其他流明測(cè)試條件;

根據(jù)標(biāo)準(zhǔn),存在三種不同的積分球測(cè)試配置:
2π配置:樣品放置在積分球內(nèi)表面—可以用于LEDs這樣沒(méi)有反向光線。經(jīng)常用于單顆LED與LED陣列
4π配置:樣品通過(guò)接口,放置在積分球內(nèi)部中央—常用于固體照明光源,必須使用輔助燈以補(bǔ)償樣品與連接器的光吸收。
部分光通量測(cè)試配置:樣品被安置于樣品接口一定距離處—在接口前一個(gè)精確孔徑定義為一個(gè)立體角。

LPCE-2高精度光譜輻射計(jì)&積分球系統(tǒng)主要測(cè)試節(jié)能燈,熒光燈,HID燈(如高壓鈉燈和高壓汞燈),冷陰極熒光燈和LED燈。LED的質(zhì)量應(yīng)通過(guò)檢查其光色電參數(shù)進(jìn)行測(cè)試。此系統(tǒng)測(cè)試結(jié)果滿足CIE177,CIE-13.3,CIE-84,ANSI-C78.377, GB/T 24824,IESNA-LM-63-2,Optical-Engineering-49-3-033602,(EU) 2019/2015,LM-80和LM-79光度和色度測(cè)試要求。LPCE-2系統(tǒng)采用LMS-9000C高精度快速光譜輻射計(jì)或LMS-9500C科學(xué)級(jí)快速光譜輻射計(jì),一次成型技術(shù)生產(chǎn)的新型帶載臺(tái)積分球,及其它相關(guān)設(shè)備。一次成型積分球的測(cè)試精度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于傳統(tǒng)拼接積分球。

wKgaomS_fdeAeVEAAAHBilsOmi0229.png

LED CCD快速光色電綜合測(cè)試系統(tǒng)

審核編輯 黃宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 光源
    +關(guān)注

    關(guān)注

    3

    文章

    792

    瀏覽量

    71337
  • 測(cè)試系統(tǒng)
    +關(guān)注

    關(guān)注

    6

    文章

    925

    瀏覽量

    63778
  • 光通量
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    23

    瀏覽量

    12496
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評(píng)論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    揭秘深圳郎特 LED 投光燈:光通量與顯色指數(shù)背后的照明秘密!

    起著決定性作用。接下來(lái),讓我們一同揭開(kāi)它們背后的照明秘密。 一、光通量:照亮世界的能量使者 光通量的定義與意義 光通量是指光源在單位時(shí)間內(nèi)發(fā)出的光的總量,單位是流明(lm)。簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),
    的頭像 發(fā)表于 02-09 16:24 ?134次閱讀
    揭秘深圳郎特 LED 投光燈:<b class='flag-5'>光通量</b>與顯色指數(shù)背后的照明秘密!

    誰(shuí)更有效?解碼焊剪切與鍵合點(diǎn)拉力測(cè)試的真實(shí)對(duì)比

    ,確保即使在長(zhǎng)時(shí)間熱老化后的微小強(qiáng)度變化也能被準(zhǔn)確捕捉。 多功能測(cè)試平臺(tái):我們的系統(tǒng)支持焊剪切、鍵合點(diǎn)拉拔、界面剝離等多種測(cè)試模式,一臺(tái)設(shè)備即可完成全面的可靠性評(píng)估。 智能數(shù)據(jù)分析:
    發(fā)表于 01-08 09:46

    從手工到自動(dòng):焊剪切測(cè)試的技術(shù)演進(jìn)與科學(xué)原理

    極高的定位精度和測(cè)量靈敏度,這也是手工測(cè)試難以滿足現(xiàn)代生產(chǎn)需求的重要原因。 焊-剪切測(cè)試示意圖 技術(shù)發(fā)展里程碑 技術(shù)發(fā)展的重要突破出現(xiàn)在Jellison設(shè)計(jì)的早期精密測(cè)試
    發(fā)表于 12-31 09:12

    拉力測(cè)試過(guò)關(guān),產(chǎn)品仍會(huì)失效?揭秘不可替代的半導(dǎo)體焊-剪切測(cè)試

    鍵合工藝中,焊與焊盤(pán)界面面積通常是引線橫截面積的3-6倍。這種情況下,即使界面結(jié)合存在缺陷,拉力測(cè)試中引線往往會(huì)在鍵合頸部上方的熱影響區(qū)先斷裂,導(dǎo)致界面質(zhì)量問(wèn)題被掩蓋。研究證實(shí),當(dāng)焊接觸面積達(dá)到
    發(fā)表于 12-31 09:09

    安捷倫86120C多波長(zhǎng)計(jì):光通測(cè)試的精密計(jì)量平臺(tái)

    在高速光通系統(tǒng)、密集波分復(fù)用(DWDM)網(wǎng)絡(luò)及精密激光器研發(fā)領(lǐng)域,對(duì)光波長(zhǎng)與功率進(jìn)行多通道、高精度的同步測(cè)量是確保系統(tǒng)性能與穩(wěn)定性的關(guān)鍵。 安捷倫(Agilent,現(xiàn)為是德科技Keysight
    的頭像 發(fā)表于 12-11 11:34 ?472次閱讀
    安捷倫86120C多波長(zhǎng)計(jì):<b class='flag-5'>光通</b>信<b class='flag-5'>測(cè)試</b>的精密計(jì)量平臺(tái)

    深度剖析LED燈具的光效、熱阻與光衰

    LED光效LED光效是衡量光源性能的關(guān)鍵指標(biāo),其定義為光通量(lm)與光源消耗功率(W)的比值,單位為lm/W。LED領(lǐng)域的科研檢測(cè)機(jī)構(gòu),具備先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備和豐富的技術(shù)經(jīng)驗(yàn),能夠?yàn)榭蛻?/div>
    的頭像 發(fā)表于 11-28 15:22 ?2705次閱讀
    深度剖析LED燈具的光效、熱阻與光衰

    ATE自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)能兼容哪些類型的電源測(cè)試

    在當(dāng)今電子設(shè)備無(wú)處不在的時(shí)代,電源的質(zhì)量和可靠性直接影響著終端產(chǎn)品的性能與壽命。而確保電源質(zhì)量的關(guān)鍵工具——ATE自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),已成為電源設(shè)計(jì)和制造過(guò)程中不可或缺的一環(huán)。本文將和大家介紹一下源儀電子的ATE測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 10-29 14:42 ?689次閱讀
    ATE自動(dòng)<b class='flag-5'>測(cè)試</b><b class='flag-5'>系統(tǒng)</b>能兼容哪些類型的電源<b class='flag-5'>測(cè)試</b>?

    光通測(cè)試領(lǐng)域的精準(zhǔn)利器:Agilent N7768A 多端口光開(kāi)關(guān)解析

    的 N7768A 多端口光開(kāi)關(guān) ,憑借其卓越的切換性能、靈活的端口配置和穩(wěn)定的運(yùn)行表現(xiàn),成為光通系統(tǒng)測(cè)試、網(wǎng)絡(luò)運(yùn)維及研發(fā)環(huán)節(jié)的核心設(shè)備,為復(fù)雜光鏈路的信號(hào)管理提供了高效解決方案。 一、設(shè)備核心定位與技術(shù)概覽 Agilent N
    的頭像 發(fā)表于 09-18 17:39 ?1056次閱讀
    <b class='flag-5'>光通</b>信<b class='flag-5'>測(cè)試</b>領(lǐng)域的精準(zhǔn)利器:Agilent N7768A 多端口光開(kāi)關(guān)解析

    積分球儀器數(shù)據(jù)實(shí)測(cè)

    儀器儀表
    jf_90915507
    發(fā)布于 :2025年08月07日 10:20:58

    LTCC焊可靠性提升方案:推拉力測(cè)試儀的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)與失效診斷

    近期,小編收到不少客戶關(guān)于焊推力測(cè)試設(shè)備選型的咨詢。針對(duì)這一市場(chǎng)需求,我們特別撰文介紹專門(mén)的測(cè)試解決方案。 在現(xiàn)代微電子封裝領(lǐng)域,低溫共燒陶瓷(LTCC)基板因其優(yōu)異的電氣性能、熱穩(wěn)定性和高集成度
    的頭像 發(fā)表于 07-04 11:17 ?722次閱讀
    LTCC焊<b class='flag-5'>球</b>可靠性提升方案:推拉力<b class='flag-5'>測(cè)試</b>儀的<b class='flag-5'>測(cè)試</b>標(biāo)準(zhǔn)與失效診斷

    光伏逆變器測(cè)試系統(tǒng)的關(guān)鍵測(cè)試項(xiàng)目解析

    在光伏產(chǎn)業(yè)蓬勃發(fā)展的當(dāng)下,光伏逆變器作為光伏系統(tǒng)的關(guān)鍵設(shè)備,其性能直接關(guān)系到整個(gè)系統(tǒng)的發(fā)電效率與穩(wěn)定性。而光伏逆變器測(cè)試系統(tǒng)的關(guān)鍵測(cè)試項(xiàng)目,
    的頭像 發(fā)表于 06-12 10:08 ?1289次閱讀
    光伏逆變器<b class='flag-5'>測(cè)試</b><b class='flag-5'>系統(tǒng)</b>的關(guān)鍵<b class='flag-5'>測(cè)試</b>項(xiàng)目解析

    ASTM F1269標(biāo)準(zhǔn)解讀:推拉力測(cè)試機(jī)在BGA焊可靠性測(cè)試中的應(yīng)用

    在當(dāng)今高速發(fā)展的微電子封裝和半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,球形凸點(diǎn)(如焊、導(dǎo)電膠凸點(diǎn)、銅柱凸點(diǎn)等)作為芯片與基板互連的關(guān)鍵結(jié)構(gòu),其機(jī)械可靠性直接影響產(chǎn)品的使用壽命和性能表現(xiàn)。隨著封裝技術(shù)向高密度、微型化方向發(fā)展
    的頭像 發(fā)表于 04-25 10:25 ?1040次閱讀
    ASTM F1269標(biāo)準(zhǔn)解讀:推拉力<b class='flag-5'>測(cè)試</b>機(jī)在BGA焊<b class='flag-5'>球</b>可靠性<b class='flag-5'>測(cè)試</b>中的應(yīng)用

    BGA封裝焊推力測(cè)試解析:評(píng)估焊點(diǎn)可靠性的原理與實(shí)操指南

    在電子封裝領(lǐng)域,BGA(Ball Grid Array)封裝因其高密度、高性能的特點(diǎn),廣泛應(yīng)用于集成電路和芯片模塊中。然而,BGA焊的機(jī)械強(qiáng)度直接影響到器件的可靠性和使用壽命,因此焊推力測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 04-18 11:10 ?1906次閱讀
    BGA封裝焊<b class='flag-5'>球</b>推力<b class='flag-5'>測(cè)試</b>解析:評(píng)估焊點(diǎn)可靠性的原理與實(shí)操指南

    什么是快充電源測(cè)試系統(tǒng)

    快充電源測(cè)試系統(tǒng)是確保快充設(shè)備性能、安全性和兼容性的重要工具。源儀電子的快充電源綜合測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)其豐富的測(cè)試功能、靈活的硬件框架結(jié)構(gòu)和高精度
    的頭像 發(fā)表于 04-07 14:48 ?1033次閱讀
    什么是快充電源<b class='flag-5'>測(cè)試</b><b class='flag-5'>系統(tǒng)</b>?

    Beta S100推拉力測(cè)試機(jī)助力激光通訊器件封裝質(zhì)量檢測(cè)!

    光通訊器件的封裝質(zhì)量檢測(cè),科準(zhǔn)測(cè)控小編將詳細(xì)介紹如何利用Beta S100推拉力測(cè)試機(jī)進(jìn)行有效的封裝測(cè)試。 一、測(cè)試目的 激光通訊器件在實(shí)
    的頭像 發(fā)表于 04-02 10:37 ?1023次閱讀
    Beta S100推拉力<b class='flag-5'>測(cè)試</b>機(jī)助力激<b class='flag-5'>光通</b>訊器件封裝質(zhì)量檢測(cè)!