安捷倫4155A半導體參數分析儀
4155A 是安捷倫的半導體參數分析儀。半導體參數分析儀是用于各種測量功能的多合一工具。半導體參數分析儀可以測量和分析多種電子設備、材料、有源或無源元件、半導體或任何其他類型的電子設備的電氣特性。工程師使用這臺測試設備來監測不同類型設備中的電流和電壓響應附加的功能：

I：1 fA 至 100 mA（20 fA 偏移精度）
V：1 微 V 至 100 V
采用直流或脈沖模式的全自動 IV 掃描測量，可擴展至 6 個 SMU
同步壓力/測量功能
兩個高壓脈沖發生器單元 (+/- 40 V)
時域測量：60 微秒 - 可變間隔高達 10,001 點
易于使用的旋鈕掃描，類似于曲線跟蹤器
自動分析功能
內置安捷倫/惠普儀器 BASIC
觸發 I/Q 能力
Agilent 4155A 半導體參數分析儀提供高分辨率/準確度和寬范圍；I：1 fA 至 100 mA（20 fA 偏移精度），V：1 微 V 至 100 V，采用直流或脈沖模式的全自動 IV 掃描測量，可擴展至 6 個 SMU，同步應力/測量功能，兩個高壓脈沖發生器單元 (+/- 40 V)，時域測量：60 微秒 - 可變間隔，最多 10,001 個點，易于使用：類似于曲線跟蹤器的旋鈕掃描，自動分析功能和自動化：內置 HP儀器 BASIC，觸發 I/Q 功能。

審核編輯 黃宇