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一文讀懂車規(guī)級AEC-Q認證

金鑒實驗室 ? 2023-06-13 10:46 ? 次閱讀
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AEC-Q系列認證是公認的車規(guī)元器件的通用測試標準。IC設計企業(yè)想要進入汽車電子領域,進入汽車電子零部件供應鏈,AEC-Q系列是必須獲得的認證之一。

車用電子主要依據(jù)國際汽車電子協(xié)會(Automotive Electronics Council,簡稱AEC)作為車規(guī)驗證標準,包括AEC-Q100(集成電路IC)、AEC-Q101(離散組件)、AEC-Q102(離散光電LED)、AEC-Q103(傳感器)、AEC-Q104(多芯片組件)、AEC-Q200(被動組件),其測試條件比消費型芯片規(guī)范嚴苛。

01、進入汽車領域的必經之路

克萊斯勒、福特和通用汽車為建立一套通用的零件資質及質量系統(tǒng)標準而設立了汽車電子協(xié)會(AEC)。AEC-Q系列認證雖然不是強制性的認證制度,但目前已成為公認的車規(guī)元器件的通用測試標準,是進入汽車領域的必經之路。

要進入車輛領域,打入各一級(Tier1)汽車電子大廠供應鏈,必須取得兩張門票,第一張是由北美汽車產業(yè)所推的AEC-Q100(集成電路IC)、AEC-Q101(離散組件)、AEC-Q102(離散光電LED)、AEC-Q103(傳感器)、AEC-Q104(多芯片組件)、AEC-Q200(被動組件)可靠性標準;第二張門票,則要符合零失效(Zero Defect)的供應鏈質量管理標準ISO/IATF 16949規(guī)范(Quality Management System)。

02、不同半導體產品有不同的AEC-Q標準

芯片設計企業(yè)需以產品分類選擇適宜的標準,如AEC-Q100(IC芯片)、AEC-Q101(半導體分立器件)、AEC-102(光電器件)、AEC-Q103(傳感器)、AEC-Q104(多芯片模塊)和AEC-Q200(被動元器件)。若想進入汽車領域,則必須取得汽車電子協(xié)會的AEC-Q可靠度標準,以及零失效(Zero Defect)的供應鏈質量管理標準IATF16949規(guī)范。

03、AEC-Q標準要求嚴格,認證難度大

車規(guī)級的電子元件對環(huán)境要求、抗振動沖擊、可靠性和一致性等方面要求嚴格,所以必須采用更先進的技術和更苛刻的測試程序。

以AEC-Q100為例,規(guī)范了測試7大類別:

1)測試群組A(環(huán)境壓力加速測試)

2)測試群組B(使用壽命模擬測試)

3)測試群組C(封裝組裝整合測試)

4)測試群組D(芯片晶圓可靠度測試)

5)測試群組E(電氣特性確認測試)

6)測試群組F(瑕疵篩選監(jiān)控測試)

7)測試群組G(封裝凹陷整合測試),

只有完全通過7大類別共41項測試后,才能獲得AEC-Q100認證。AEC-Q系列認證,完成全部測試,平均最低時間也需要大概6個月左右。

04、進化中的AE-Q標準

AEC-Q100、AEC-Q101和AEC-Q200這三個標準是最早制訂的、也最常被引用的AEC-Q標準。在AEC網站上的“文檔”頁面列出了37個標準和子標準,其中七個被列為“新New”或“初始版本Initial release”。所以說AEC-Q標準是在不斷進化的,特別是隨著高級駕駛輔助系統(tǒng)(ADAS)和自動駕駛等新技術的發(fā)展,標準還將保持這種持續(xù)更新的狀態(tài),以適應新技術和應用的需求。比如,專門為光電半導體optoelectronics, MEMS傳感器, 以及模組multichip modules制定的標準:

.AEC-Q102:汽車應用的光電半導體應力測試標準

.AEC-Q103:MEMS壓力傳感器應力測試標準

.AEC-Q104:汽車應用的多芯片模塊(MCM)應力測試標準聲明:文章圖片等版權歸原作者享有如侵聯(lián)刪

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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