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AMAZINGIC晶焱科技預防TVS閂鎖風險的方法與實際案例分析

szkoyu ? 2022-08-29 15:33 ? 次閱讀
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摘要:

仰賴先進制程的進步,電子產(chǎn)品得以在更小的面積及體積下實現(xiàn)更加復雜的功能與更低的功耗,在這樣的趨勢下卻也使得主芯片的靜電耐受度降低。由于靜電導致的失效與市場返修率息息相關,因此各廠牌針對這些易受突波干擾影響的介面接口訂定測試規(guī)格,并依照IEC 61000-4-2的系統(tǒng)級靜電耐受測試才能將系統(tǒng)產(chǎn)品進行量產(chǎn)到市場販售。

然而隨著日益嚴苛的測試條件與需被保護的晶片耐受程度降低,市面上開始出現(xiàn)許多為了提供更低鉗制電壓卻具有閂鎖風險的保護器件。本文將針對TVS與閂鎖效應進行實例探討,并提出方法該如何正確選擇保護元件避免閂鎖效應發(fā)生。

實例一:HDMI1.4介面ESD保護器件與閂鎖效應

高速通訊界面常使用Re-timer或Re-driver來重塑訊號的完整性,而最常見的就是USB與HDMI Re-timer, 功能包含通訊協(xié)議間的轉(zhuǎn)換并增加PCB線路設計上的彈性。然而這樣的線路應用除了上拉電阻直接接到電源之外,其IC的Output driver會有較高的電流驅(qū)動能力,也造成了TVS 發(fā)生Latch-up的來源之一。

我們以終端產(chǎn)品的HDMI 1.4連接螢幕來做閂鎖效應的實測,同時以示波器擷取TMDS channel的電平變化。實驗過程我們將確認系統(tǒng)正常運作后,以ESD Gun對HDMI Port進行靜電放電,此時ESD保護元件會導通來保護后端IC,如下圖表示。

具有閂鎖風險之TVS在HDMI介面ESD實驗流程圖

Fig. 1具有閂鎖風險之TVS在HDMI介面ESD實驗流程圖

實驗過程觀察螢幕在ESD放電后黑屏,利用示波器觀察被閂鎖TVS(非晶焱科技產(chǎn)品)的電壓從正常顯示的2.8V被拉低到1.8V的低電平使得通訊失效。我們將此TVS使用曲線追蹤儀Tektronix 370A量測大電流下的IV特性,發(fā)現(xiàn)此TVS進入低阻抗導通狀態(tài)后,其導通的最低電壓Vhold即為1.8V,如下圖表示。 (此TVS使用SCR架構(gòu),有回彈的特性可達到更低的鉗制電壓表現(xiàn))

Fig. 2具閂鎖風險的TVS電氣特性圖

Fig. 2具閂鎖風險的TVS電氣特性圖

根本原因探討:HDMI 1.4 Re-timer輸出電壓為2.8V(最低輸出電壓為2.6V),而TVS Vhold則在1.8V,查找Re-timer規(guī)格書中TMDS短路輸出電流最大可到50 mA (因為TVS導通后會形成極低阻抗路徑,可視為IC 輸出短路到地的情況),這樣的電流驅(qū)動能力可以令TVS進入閂鎖后無法關閉。若無透過外部拔除插頭使IC斷電,則無法回復屏幕顯示與電壓位準,在長時間的電流導通情況下,對于IC本身與TVS皆可能造成不可逆的潛在威脅,如熱失效或漏電大幅增加…等等。

因此在HDMI TMDS Channel,晶焱科技推薦客戶使用 VRWM≧3.3V的TVS作為保護元件,如: AZ1143-04F for HMDI 1.4/2.0與AZ1123-04F for HDMI 2.1,晶焱科技秉持著對可靠度與品質(zhì)的最高要求,在追求低鉗制電壓的保護器同時,確保Vhold>VRWM,晶焱全系列TVS皆無Latch-up風險!

實例二:Power Management Circuit Protection in Portable Device

電池與其電源管理IC - LDO(低壓降穩(wěn)壓器)是移動式裝置供電的核心,為了達成裝置的電壓輸出穩(wěn)定與最佳可靠度,在電壓輸出的腳位建議使用TVS來做靜電保護。然而在電源輸出的腳位不慎采用具有Latch-up風險的TVS更是大忌,因為其電流輸出能力極強,會在短時間內(nèi)造成電池耗電并使得TVS導通大電流,嚴重可能會造成元件燒毀引發(fā)硬件損壞。

實際案例中,客戶對3.3VLDO輸出進行ESD測試后發(fā)現(xiàn)異常,我們在實驗過程量測電壓位準,發(fā)現(xiàn)原3.3V已被下拉至2.85V,與LDO輸出不符,并且必須將電池拔除斷電后才能回復正常工作電壓,研判此現(xiàn)象非常有可能是TVS發(fā)生了閂鎖效應。我們與客戶確認此TVS的規(guī)格書,發(fā)現(xiàn)標示3.3V工作電壓VRWM的TVS其Vhold電壓最低為2.8V,因此確認是不當?shù)腡VS選擇導致閂鎖造成的系統(tǒng)失效。

此案更換為晶焱科技VRWM 3.3V的AZ5123-01H后,成功幫助客戶解決問題。

在LDO測試ESD造成的TVS閂鎖效應分析

Fig.3在LDO測試ESD造成的TVS閂鎖效應分析

總結(jié),晶焱科技仍在持續(xù)努力提供更低鉗制電壓的TVS開發(fā),同時也幫助客戶提升產(chǎn)品規(guī)格與可靠度。從系統(tǒng)面替客戶著想,不將風險轉(zhuǎn)嫁于客戶,提供低鉗制電壓以及無閂鎖風險的保護器件是我們對客戶的承諾。


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