實驗名稱:

高壓放大器基于掃描式固體腔F-P干涉儀的設(shè)計與優(yōu)化中的應用

測試設(shè)備:

光源，準直擴束系統(tǒng)，待測電光晶體（包含驅(qū)動），4f系統(tǒng)和CCD，信號源，ATA-2161高壓放大器，示波器等。

實驗內(nèi)容:

為實現(xiàn)全天時邊界層內(nèi)大氣溫度絕對探測，即精細獲取大氣Rayleigh散射譜形，借鑒F-P干涉濾波技術(shù)和晶體的電光特性，設(shè)計了一種掃描式固體腔F-P干涉儀，測試其濾波性能并進行優(yōu)化。

實驗過程:

實驗結(jié)果:

01

02

不同電壓場下，對應晶體折射率的改變量。

對圖相位圖中晶體相位的改變量進行平均處理，得到不同電壓場下，對應的晶體的相位改變量，再由公式計算得出，不同電壓場下，對應晶體折射率的改變量。

高壓放大器ATA-2161參數(shù)指標：

更多放大器應用案例：

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注：此實驗案例參考至知網(wǎng)論文《掃描式固體腔F-P干涉儀的設(shè)計與優(yōu)化》

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