具備低功耗和小體積等優勢的LPDDR

隨著可移動設備的發展

逐漸進入大家的視線

技術迭代更新越來越快

對LPDDR的質量與可靠性要求進一步提高

其測試變量也變得越來越多

比如

漏電流測試、協議測試、

開短路測試、時序測試、高溫測試等

Q

@“有人”

測試不能給LPDDR增加功能，也不能提升性能，對產品本身，不體現價值......

A

@江小編

確實，測試不能改變芯片制造的質量，只能在現有質量條件下進行度量。但是，制造缺陷或者瑕疵會對LPDDR的正常工作帶來一定影響。

就拿漏電流測試來說，如果LPDDR存在漏電流異常，應用到手機、筆記本電腦等終端設備時，輕則會增加LPDDR的功耗，降低續航力，重則可能會發生故障或燒毀等問題。

并且測試本身就是設計的一環，對于像江波龍這樣擁有芯片設計能力的企業來說，測試的重要性不亞于電路設計本身。

為了幫助內存設計師和工程師應對調試和驗證內設計時不斷面臨新的挑戰，江波龍在進行LPDDR3/4/4X的信號測試時，通過Turbocats測試機臺，進行IDD/Leakage、O/S、Pattern存儲、算法、Schmoo/Timing、高溫85℃等測試，并支持1333~3200Mbps速率和178/200/221/254 Ball數的產品測試。

存儲芯片技術工程實驗室（創新實驗室）集研發設計、失效分析、工程驗證和聯合開發于一體，是江波龍電子重要的質量保證技術服務平臺。實驗室配備先進的研發試驗設施和高素質的研發團隊，研發場所面積為846.72㎡，2021年5月底建成并正式投入使用。