依據ISO11452-2、GB/T 17619、ECE-R 10.05、2004-104-EC等標準要求，對汽車電子零部件系統等車載電子設備（包括電動汽車DC-DC模塊、車載充電機等）進行BCI大電流注入抗擾度測試。

BCI大電流注入抗擾度測試是利用電流注入探頭通過將電流直接感應到連接線束進行抗擾性試驗的一種方法。該注入探頭是由一個耦合鉗組成，被測系統的電纜從耦合鉗中穿過，然后通過改變感應信號的頻率進行抗擾性試驗。

將電流探頭夾在未絕緣的導體上時，一定要格外的小心，建議在組裝和拆卸測試裝置時為測試項目斷電。將所有穿過探頭孔的導體放在孔的中心位置，以提供額外的電壓擊穿保護。請勿使未絕緣的電流探頭連接器和電纜連接器與接地層或其他相鄰導體接觸，以免發生不必要的意外。

其中，在BCI測試中使用的電流注入探頭類似于用于軍事傳導發射（CE）靜止的電流探頭。電流注入探頭充當單匝初級，多匝次級變壓器，在被測電源線或信號線中放置低串聯阻抗，同時能夠將可用信號驅動到50ohm接收器中。電流注入探頭的特征在于其傳輸阻抗ZT，即標準負載的輸出電壓比，除以流經探頭窗口區域的凈電流。

當電流注入探頭圍繞電源線或信號線放置時，它具有類似的芯材料，但繞組較重，可充當多匝初級和單匝次級變壓器。因此，當與被測電纜（CUT）串聯放置時，它為磁化率信號源提供（標稱）50歐姆負載，同時提供較低的磁化率信號源阻抗。

大電流注入探頭所在位置距EUT的距離d如下(替代法)：

d = (150 ± 10) mm
d = (450 ± 10) mm
d = (750 ± 10) mm

測試結果性能的判斷依據如下：

Class A: EUT功能或性能一直保持正常，無任何異常現象。
Class B: 所有功能或性能在干擾狀態下，一個或者多個功能或者性能偏移指定的容差，但所有功能或性能在干擾移除以后能恢復到規定的容差限值以內。并且存儲數據不能有任何異常現象。
Class C: 一個或者多個功能或性能暫時喪失，但在施加干擾之后EUT能自動恢復到正常模式。
Class D: 一個或者多個功能或性能暫喪失，但在施加干擾之后通過人為的干預能自動恢復到正常模式。
Class E: 一個或者多個功能或性能暫時喪失，并且不能自動恢復到正常模式。