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實用!開關電源分類及開關電源測試解決方案

納米軟件(系統集成) ? 來源: 納米軟件(系統集成) ? 作者: 納米軟件(系統集 ? 2023-04-25 15:43 ? 次閱讀
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良好的開關電源必須符合所有功能規格、保護特性、安全規范(如UL、CSA、VDE、DEMKO、SEMKO,長城等等之耐壓、抗燃、漏電流、接地等安全規格)、電磁兼容能力(如FCC、CE等之傳導與幅射干擾)、可靠性(如老化壽命測試)、及其他之特定需求等。本篇文章納米軟件小編Namisoft將為大家詳細分享關于開關電源分類及開關電源測試解決方案。

一、開關電源包括下列之型式:

·AC-DC:如個人用、家用、辦公室用、工業用(電腦、周邊、傳真機、充電器)

·DC-DC:如可攜帶式產品(移動電話、筆計本電腦、攝影機,通信交換機二次電源)

·DC-AC:如車用轉換器(12V~115/230V) 、通信交換機振鈴信號電源

·AC-AC:如交流電源變壓器、變頻器、UPS不間斷電源

開關電源的設計、制造及品質管理等測試需要精密的電子儀器設備來模擬電源供應器實際工作時之各項特性(亦即為各項規格),并驗證能否通過。開關電源有許多不同的組成結構(單輸出、多輸出、及正負極性等)和輸出電壓、電流、功率之組合,因此需要具彈性多樣化的測試儀器才能符合眾多不同規格之需求。

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二、電氣性能(Electrical Specifications)測試

當驗證電源供應器的品質時,下列為一般的功能性測試項目,詳細說明如下:

*功能(Functions)測試:

·輸出電壓調整(Hold-on Voltage Adjust)

·電源調整率(Line Regulation)

·負載調整率(Load Regulation)

·綜合調整率(Conmine Regulation)

·輸出漣波及雜訊(Output Ripple & Noise, RARD)

·輸入功率及效率(Input Power, Efficiency)

·動態負載或暫態負載(Dynamic or Transient Response)

·電源良好/失效(Power Good/Fail)時間

·起動(Set-Up)及保持(Hold-Up)時間

*保護動作(Protections)測試:

·過電壓保護(OVP, Over Voltage Protection)

·短路保護(Short)

·過電流保護(OCP, Over Current Protection)

·過功率保護(OPP, Over Power Protection)

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*安全(Safety)規格測試:

·輸入電流、漏電電流等

·耐壓絕緣: 電源輸入對地,電源輸出對地;電路板線路須有安全間距。

·溫度抗燃:零組件需具備抗燃之安全規格,工作溫度須於安全規格內。

·機殼接地:需於0.1歐姆以下,以避免漏電觸電之危險。

·變壓輸出特性:開路、短路及最大伏安(VA)輸出

·異常測試:散熱風扇停轉、電壓選擇開關設定錯誤

*電磁兼容(Electromagnetic Compliance)測試:

電源供應器需符合CISPR 22、CLASS B之傳導與幅射的4dB馀裕度,電源供應器需在以下三種負載狀況下測試:

每個輸出為空載、每個輸出為50%負載、每個輸出為100%負載。

·傳導干擾/免疫:經由電源線之傳導性干擾/免疫

·幅射干擾/免疫:經由磁場之幅射性干擾/免疫

*可靠性(Reliability)測試:

老化壽命測試:高溫(約50-60度)及長時間(約8-24小時)滿載測試。

*其他測試:

·ESD:Electrostatic Discharge靜電放電(人或物體經由直接接觸或間隔放電引起)在2-15KV之ESD脈波下,

待測物之每個表面區域應執行連續20次的靜電放電測試,電源供應器之輸出需繼續工作而不會產生突波(Glitch)

或中斷(Interrupt),直接ESD接觸時不應造成過激(Overshoot)或欠激(Undershoot)之超過穩壓范圍的狀況、及過電壓保護(OVP)、過電流保護(OCP)等。另外,於ESD放電電壓在高達25KV下,應不致造成元件故障(Failure)。

·EFT:Electrical Fast Transient or burst一串切換雜訊經由電源線或I/O線路之傳導性干擾(由供電或建筑物內引起)。

·Surge:經由電源線之高能量暫態雜訊干擾(電燈之閃動引起)。

·VD/I:Dips and Interrupts電源電壓下降或中斷(電力分配系統之故障或失誤所引起,例如供電過載或空氣開關跳動所引起)

·Inrush: 開機輸入沖擊電流,開關電源對供電系統的影響。

審核編輯黃宇

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