一、無源晶振和有源晶振測試結果對比

1．無源晶振測試

??LR35使用無源晶振常溫頻偏測試結果為：1.5KHz左右

??但是在高低溫速率1的條件下存在丟包或者無法進行透傳問題，前期通過更換不同大小的晶振以及調整匹配電容減小頻偏，效果不理想，高低溫還是丟包大。

2．有源晶振測試

??有源晶振常溫頻偏測試為：0.375KHz

??高溫85度頻偏測試為：0.75KHz，如下圖所示，丟包也在正常范圍內；


??在低溫-40度丟包也在正常范圍內；在這里插入圖片描述

二、62.5K帶寬下最大頻偏偏差通信測試

??通過更換不同大小晶振以及調試匹配電容，以達到最大頻偏偏差；
??第一組：一個使用-10ppm，另一個使用+10ppm，并調節使用+10pppLR30模塊匹配電容為12pf和10pf；測試頻偏結果如下：

??頻偏偏差為15.25KHz，測試通信可以進行透傳；
??第二組：同樣使用±10ppm晶振，調節+10ppm晶振匹配電容為2個10pf，測試頻偏結果如下：

??兩者偏差為：16.125KHz，測試通信無法進行透傳；
??第三組：操作步驟同上，使得兩者頻偏偏差為：15.375KHz，測試通信可以進行透傳；
??第四組：操作步驟同上，使得兩者頻偏偏差為：17.15KHz，測試通信無法進行透傳；
??因匹配電容以及晶振原因無法進行詳細頻偏偏差測試，只能測試大概范圍；
??結論如下：在62.5KHz帶寬下，可以進行通信的最大頻偏偏差為15K左右；

三、開發總結

??1、通過上面對比測試，有源晶振在高低溫測試時，能有效的控制頻偏范圍，從而數據能夠穩定進行傳輸。
??2、62.5K帶寬下能進行透傳的頻偏偏差范圍為：不超過帶寬的四分之一。