如何為你的測(cè)試

降本增效?

在產(chǎn)品的研發(fā)過程和出廠發(fā)貨前，產(chǎn)品的測(cè)試是一個(gè)十分重要的環(huán)節(jié)，測(cè)試的效率高低將影響研發(fā)進(jìn)度和交貨周期。所以提高產(chǎn)品測(cè)試效率的重要性不言而喻。

比如在直流電源的測(cè)試中，傳統(tǒng)的測(cè)試通常是通過手動(dòng)的操作和人工的判定。測(cè)試過程是手動(dòng)設(shè)置直流電子負(fù)載的參數(shù)進(jìn)行拉載測(cè)試，人工記錄電源在不同負(fù)載狀態(tài)下的輸出參數(shù)，再由操作者根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)判斷電源是否合格。

然而，傳統(tǒng)方式的電源測(cè)試存在一些劣勢(shì)的。首先，因?yàn)槊看味夹枰謩?dòng)進(jìn)行設(shè)置并分析測(cè)試結(jié)果，所以需要占用大量的時(shí)間和人力資源;其次，由于操作者的熟練度不高和一些主觀因素，測(cè)試結(jié)果可能出現(xiàn)偏差;最后，在產(chǎn)品數(shù)量和測(cè)試項(xiàng)目比較多的情況下，傳統(tǒng)的手動(dòng)測(cè)試就會(huì)顯得效率更加低下。

為了應(yīng)對(duì)大規(guī)模高頻率的測(cè)試，提高測(cè)試的效率，艾德克斯推出了擁有自動(dòng)測(cè)試功能的IT8500G+系列可編程直流電子負(fù)載。

IT8500G+ 可編程直流電子負(fù)載

IT8500G+高性能可編程直流電子負(fù)載兼具桌面型和系統(tǒng)集成雙重使用需求，專為移動(dòng)電源、工業(yè)電源模塊、功率電子器件及快充適配器等研發(fā)和老化測(cè)試而設(shè)計(jì)研發(fā)。該系列產(chǎn)品不僅具備傳統(tǒng)的 CC/CV/CR/CP 帶載模式，同時(shí)提供 CR+CC/CV+CC/CR-LED 等復(fù)合帶載模式，以廣泛適用于不同特性待測(cè)物，在限制電流過沖以及動(dòng)態(tài)帶載方面具備優(yōu)異的表現(xiàn)。

IT8500G+系列直流電子負(fù)載具有自動(dòng)測(cè)試編輯模式。自動(dòng)測(cè)試可以針對(duì)一個(gè)設(shè)備進(jìn)行編程，測(cè)試，并顯示測(cè)試是通過還是失敗，這對(duì)于用戶來說，非常的有用。自動(dòng)測(cè)試操作只要包含四步：編輯、存儲(chǔ)、調(diào)用及運(yùn)行。

測(cè)試操作簡(jiǎn)單，并且可將按鍵完全鎖定(按(Shift)+(Lock))，以防意外觸碰鍵盤而影響正常測(cè)試。電子負(fù)載會(huì)自動(dòng)檢測(cè)輸入電壓的變化而判斷是否開始測(cè)試，打開自動(dòng)測(cè)試開始功能(AUTO-RUN)，當(dāng)待測(cè)物連接上后，負(fù)載檢測(cè)到輸入端子電壓從0上升至所設(shè)定的開始電壓(TRIG-VOLT)后，自動(dòng)測(cè)試即開始運(yùn)行，無需借助于外部觸發(fā)源或手動(dòng)提供觸發(fā)信號(hào)。

一個(gè)自動(dòng)測(cè)試文件最多可包含50步，設(shè)置每步的拉載模式(CC、CV、CW、CR)以及是否進(jìn)行短路，接著設(shè)置需要測(cè)量值的類型(電壓、電流、功率)和判定值的上下限，再設(shè)置延時(shí)時(shí)間，即當(dāng)輸入設(shè)置多長(zhǎng)時(shí)間后才讀取測(cè)試值，用來等待輸出穩(wěn)定后再測(cè)試，延時(shí)范圍為0.1~30秒，最后進(jìn)行保存，一個(gè)自動(dòng)測(cè)試就編輯好了。相較于IT8500和IT8500+系列直流電子負(fù)載，作為升級(jí)款的IT8500G+可以編輯更多的步數(shù)并且新增了快充協(xié)議可以選擇，功能的實(shí)現(xiàn)更加的簡(jiǎn)單易懂。

不僅如此，依托于 IT8500G+ 負(fù)載特有的多通道模式和內(nèi)置紋波量測(cè)功能，無需額外的示波器以及過多的通信接口卡，即可輕松實(shí)現(xiàn)上百通道的程控，為企業(yè)降低測(cè)試成本，提升測(cè)試效率。

傳統(tǒng)的ATE集成方案中，如果每臺(tái)電子負(fù)載都使用以太網(wǎng)通訊接口進(jìn)行獨(dú)立通訊，系統(tǒng)中需配置多臺(tái)交換機(jī)，不但增加了設(shè)備成本還提高了系統(tǒng)的故障概率。IT8500G+系列具有專業(yè)多通道模式，可最多級(jí)聯(lián)16臺(tái)設(shè)備。ATE系統(tǒng)只需通訊一個(gè)接口，即可控制16臺(tái)電子負(fù)載。通過指令可令16臺(tái)級(jí)聯(lián)IT85G+負(fù)載同步運(yùn)行，也可為指定通道下發(fā)或采集運(yùn)行數(shù)據(jù)，達(dá)到不同步的運(yùn)行效果，配置使用非常靈活。

除此之外，IT8500G+系列電子負(fù)載還提供QC2.0、QC3.0、PE+、PE2.0+、USB PD2.0、USB PD3.0、FCP、SCP八種快充通信協(xié)議;擁有OPP/OCP測(cè)試功能，適用于電源模塊保護(hù)功能測(cè)試;電池放電模式，提供時(shí)間，電壓和容量三種截止條件;測(cè)試分辨率可達(dá)0.1mV/0.1mA等。

在移動(dòng)電源、工業(yè)電源模塊、功率電子器件及快充適配器等研發(fā)和老化測(cè)試中，IT8500G+系列直流電子負(fù)載將是實(shí)現(xiàn)降低測(cè)試成本、提高測(cè)試效率的好幫手。

審核編輯：湯梓紅