- S參數的定義

- 矢網內部框圖

- 矢網測量過程

- 矢網校準的原理和誤差模型

- 未知直通校準和TRL校準

- 矢網校準件

- 測量不確定度的概念和數學表示

- 矢網測量不確定度的來源

- 矢網的實時測量不確定度分析

演講專家：程寧

專家職務：是德科技政府行業解決方案應用專家

專家簡介：程寧是是德科技的應用工程師。他的專長主要在網絡分析儀的校準和測量、有源器件（如放大器和變頻器）的測量和表征、毫米波測試應用、信號完整性分析等。他曾在安捷倫/是德科技的中國軟件研發中心擔任6年研發工程師，并發表過多篇和夾具移除有關的文章和一篇美國專利。他于2007年畢業于北京郵電大學的通信與信息系統專業。

答疑專家：孫承志

專家職務：是德科技解決方案專家

專家簡介：2009年畢業于北京理工大學，于2018年加入是德科技。長期從事射頻微波器件與系統測試、半導體器件測試等領域的相關工作，具備豐富測量測試和實踐經驗。目前主要負責信號源、頻譜儀、網分、半導體動/靜參數測試分析儀等儀表的支持，為客戶在射頻微波、功率半導體、汽車電子、量子計算等應用領域制定合理的測試解決方案。

答疑專家：劉迪

專家職務：是德科技政府行業解決方案事業部負責人

專家簡介：是德科技政府行業解決方案事業部負責人，2007年加入安捷倫/是德科技，畢業于北京郵電大學電信工程學院電磁場與微波技術專業，碩士學位。