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首次量產至今8年時間,溝槽柵SiC MOSFET的發展現狀如何?

Hobby觀察 ? 來源:電子發燒友網 ? 作者:梁浩斌 ? 2023-03-18 00:07 ? 次閱讀
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電子發燒友網報道(文/梁浩斌)SiC MOSFET的發展歷史其實相當長遠,全球SiC產業龍頭Wolfspeed的前身Cree公司,其創始人之一John Palmour在1987年申請了一項涉及在SiC襯底上生成MOS電容器的結構,這項專利后來被視為促成SiC MOSFET誕生的關鍵。

不過,由于襯底良率、制造工藝等問題,直到2011年SiC MOSFET才正式實現商業化,彼時的Cree推出了市場上第一款SiC MOSFET,采用平面柵結構的CMF20120D。到了2015年,羅姆率先實現溝槽柵結構SiC MOSFET的量產,這種結構更能夠發揮SiC材料的特性,工藝更復雜。經過10多年的發展,目前在SiC MOSFET的技術路線上,溝槽柵已經被認為是更有優勢的方向。

平面柵和溝槽柵有哪些區別?
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平面柵結構 圖源:基本半導體

從結構上看,最明顯的特征是,平面結構的SiC MOSFET是指柵極電極和源極電極在同一水平面上,也就是呈現“平面”分布,溝道與襯底平行。平面柵工藝相對簡單,容易實現較好的柵氧化層質量,有較強的抗電壓沖擊能力,實際應用中可靠性更高,在過載工況下也不容易被損壞。

不過相對地,對于MOSFET而言,器件導通能力取決于元胞間距,元胞間距越小、密度越高,導通電阻以及開關損耗就越低,同時還能提高器件的耐壓能力,降低器件尺寸,提升功率密度。但平面柵由于柵極是橫向,所以一定程度上限制了元胞間距的縮小,為了進一步縮小元胞間距,溝槽柵結構取代平面柵就成了目前的功率芯片廠商的產品趨勢。
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溝槽柵結構 圖源:基本半導體

溝槽柵結構是指柵極電極位于源極電極下方,在半導體材料中形成一個“溝槽”。同時也能從上圖中看到,溝槽柵結構中的溝道和柵極是垂直于襯底的,這也是與平面柵結構的一個顯著區別,正因為這樣的結構,可以讓功率芯片的元胞間距大幅縮小,在性能上展現出比平面柵SiC MOSFET更低的導通電阻、更強的開關性能、更低的導通損耗等。

但溝槽柵也不是完全沒有缺點。結構上溝槽柵SiC MOSFET需要在基板上挖出溝槽,將柵極埋入形成垂直溝道,工藝顯然相比平面柵更復雜,良率、單元一致性都較差。同時,溝槽柵SiC MOSFET中的二氧化硅柵極所承受的電場強度比在硅基IGBT/MOSFET中高很多,因此柵極氧化層的可靠性會存在一些問題。當然,這些問題可以通過改進柵極氧化工藝等方式解決,或是通過不同的結構設計改善柵極底部電場集中的問題。

溝槽柵SiC MOSFET發展現狀

羅姆作為最早量產SiC MOSFET的廠商,在2010年率先量產平面柵SiC MOSFET之后,在2015年的第三代產品上又再一次奪得先機,率先量產雙溝槽結構的第三代產品。正如上文的溝槽柵結構示意圖中一樣,SiC MOSFET一般是單溝槽結構,即只有柵極溝槽;羅姆開發出的雙溝槽MOSFET即同時具有源極溝槽和柵極溝槽。

前文我們也提到,為了充分利用SiC材料的高擊穿能力,需要改善柵極氧化物處電場集中的問題。羅姆在官方介紹中表示,SiC MOSFET通過采用雙溝槽的結構,在測試中可以實現比羅姆第二代平面柵SiC MOSFET降低約50%的導通電阻,同時輸入電容降低35%,提升了開關性能。

羅姆2021年推出最新的第四代SiC MOSFET,進一步改進了雙溝槽結構,成功在改善短路耐受時間的前提下,使導通電阻比第三代產品又降低約40%;同時通過大幅降低柵漏電容,成功地使開關損耗比以第三代產品降低約50%。按照其產品路線圖,預計2025年和2028年推出的第五代和第六代產品的導通電阻將會分別再降低30%。

英飛凌的SiC MOSFET采用了不對稱的半包溝槽結構,與羅姆幾乎是目前業界唯二量產上車的SiC MOSFET溝槽設計。這種不對稱的半包溝槽結構能夠在獨特的晶面上形成溝道,并可以使用較厚的柵極氧化層,實現很低的導通電阻,并提高了可靠性。英飛凌在2016年推出了第一代CoolSiC系列SiC MOSFET,并在2022年更新了第二代產品,相比第一代增強了25%-30%的載電流能力。

目前量產溝槽型SiC MOSFET的國際廠商還包括富士、三菱電機、住友電工、日本電裝等,還有更多比如ST、博世、安森美等廠商,都有相關布局,ST計劃在2025年推出其首款溝槽型SiC MOSFET產品。從國際廠商的布局來看,溝槽柵SiC MOSFET會是未來更具競爭力的方案。

國內方面,安海半導體、芯塔電子、芯長征科技、中車時代等都已經有相關的專利技術等布局,目前溝槽柵SiC MOSFET的專利競爭較大,特別是日系廠商比如電裝、羅姆、富士電機等較為強勢。國內廠商入局相對較晚,但相對布局較前的廠商可能會擁有更大的發揮空間。


小結:

總而言之,提高SiC MOSFET性能的幾個重要指標,包括更小的元胞間距、更低的導通電阻、更低的開關損耗、更高的可靠性(柵極氧化保護),幾乎都指向了溝槽柵結構。從2015年第一款量產溝槽柵SiC MOSFET產品推出到現在過去了8年時間,但市面上能夠推出量產產品的廠商并不算多,在目前整體SiC市場持續高速增長的時期,提前布局合適的技術路線,才有機會在未來新的應用市場上占得先機。


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