MCU芯片的Memory Bist設計實戰(一）
SRAM的MBIST測試結構如下：
SRAM的MBIST測試波形：
SRAM BIST電路完成插入后，需要做一個formal check，保證Mbist插入后，logic function不發生錯誤改變。Formal check需要注意常量設置，具體參見知識星球的詳細解釋。
此處分享2個經典問題：
定位1：
通過trace TDO信號，一直追蹤到SRAM的Q端，發現Q端數據輸出是X態，通過分析發現本質上還是時鐘問題，什么問題呢？
就是SRAM MBIST_CLK延時下來剛好和SRAM測試地址TADDR的跳變完全對齊了，造成了SRAM的memory model的建立/保持時間違例，SRAM model在timing違例情況下Q端輸出為X態。下文具體內容請移步知識星球查看。
歡迎加入【全棧芯片工程師】知識星球，手把手教你設計MCU、圖像傳感器、ISP圖像處理，從算法、前端、DFT到后端全流程設計。
實戰MCU+ISP圖像處理芯片版圖
實戰ISP圖像算法效果
審核編輯 ：李倩
聲明：本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人，不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用，如有內容侵權或者其他違規問題，請聯系本站處理。
舉報投訴
-
芯片
+關注
關注
463文章
54010瀏覽量
466028 -
mcu
+關注
關注
147文章
18925瀏覽量
398143 -
圖像傳感器
+關注
關注
68文章
2075瀏覽量
132205
原文標題：MCU芯片的Memory Bist設計實戰(一）
文章出處：【微信號：全棧芯片工程師，微信公眾號：全棧芯片工程師】歡迎添加關注！文章轉載請注明出處。
發布評論請先 登錄
相關推薦
熱點推薦
基于BIST利用ORCA結構測試FPGA邏輯單元的方法
利用FPGA可重復編程的特性，通過脫機配置，建立BIST邏輯，即使由于線路被操作系統的重新配置而令BIST結構消失，可測性也可實現。本文給出一種基于BIST利用ORCA（Optimiz
為什么S32K344運行Bist_Run（BIST_SAFETYBOOT_CFG）進入Hardfault？
1. 為什么S32K344運行 Bist_Run（BIST_SAFETYBOOT_CFG） 進入 Hardfault？
2. 我正在使用備用 RAM 來存儲數據，這會影響 BIST 嗎？
發表于 04-07 07:02
DFT和BIST在SoC設計中的應用
。但是對質量沒有把握的芯片能夠交付使用嗎?這些問題的答案對產品的成功非常重要。 為了確保一定的測試覆蓋率以及盡可能縮短產品測試時間， 圖3：DFT分析、BIST掃描和邊界掃描應該與新的SoC集成電路
發表于 12-15 09:53
數字BIST的基本原則
引言大多數IC設計工程師都了解數字BIST的工作原理。它用一個LFSR（線性反饋移位寄存器）生成偽隨機的位模式，并通過臨時配置成串行移位寄存器的觸發器，將這個位模式加到待測電路上。數字BIST亦用
發表于 07-19 06:18
S32K BIST當sw調用api Bist_Run() 以啟動bist時，mcu重置了怎么處理？
我們現在正在評估 S32K BIST 功能，當 sw 調用 apiBist_Run() 以啟動 bist 時，但 mcu 重置。它發生在 Bist
發表于 04-14 07:09
基于LFSR優化的BIST低功耗設計
在BIST（內建自測試）過程中，線性反饋移位寄存器作為測試矢量生成器，為保障故障覆蓋率，會產生很長的測試矢量，從而消耗了大量功耗。在分析BIST結構和功耗模型的基礎上，針
發表于 12-23 15:35
?0次下載
Memory芯片的測試資料詳細說明
本文檔的主要內容詳細介紹的是Memory芯片的測試資料詳細說明包括了：Memory芯片的重要性，Memory類型和結構特點，
發表于 11-30 08:00
?0次下載
安全芯片的守護神：BIST機制的深度解析
寫在前面：在安全芯片的設計與驗證過程中，工程師常會遇到一個關鍵概念——BIST（Built-InSelf-Test，內置自檢測）。初次接觸這一術語時，許多人容易將其簡單理解為“
邊聊安全 | 安全芯片的守護神：BIST機制的深度解析
BIST機制的深度解析寫在前面：在安全芯片的設計與驗證過程中，工程師常會遇到一個關鍵概念——BIST（Built-InSelf-Test，內置自檢測）。初次接觸這
工商網監
評論